[發明專利]基于合成孔徑技術的空間可重構遙感相機

在審

• 申請號: 201810365445.8
• 申請日: 2018-04-23
• 公開（公告）號: CN108955640A
• 公開（公告）日: 2018-12-07
• 發明（設計）人: 王勝千;鮮浩;魏凱;饒長輝
• 申請（專利權）人: 中國科學院光電技術研究所
• 主分類號: G01C11/02
• 分類號: G01C11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.基于合成孔徑技術的空間可重構遙感相機，其特征在于：包括若干遙感相機模塊(1)和一個合成孔徑輔助系統，合成孔徑輔助系統由合成孔徑共相校正器模塊(2)、合成孔徑光束合成器模塊(3)、合成孔徑光束分光器模塊(4)、合成孔徑共相探測器模塊(5)、合成孔徑成像聚焦模塊(6)與合成孔徑成像探測器模塊(7)組成，每個遙感相機模塊既可以進行單獨工作模式，也可以通過空間重構進行合成孔徑工作模式；當不需要對地高分辨成像時，此時每個遙感相機處于單獨工作模式；當需要對地高分辨成像時，此時這些遙感相機會圍繞合成孔徑輔助系統進行空間重構形成合成孔徑工作模式。

2.根據權利要求1所述的基于合成孔徑技術的空間可重構遙感相機，其特征在于：當遙感相機處于合成孔徑工作模式時，此時每個遙感相機會圍繞合成孔徑輔助系統進行空間重構，光束經過每個遙感相機以后，會依次經過合成孔徑共相校正器模塊(2)與合成孔徑光束合成器模塊(3)，隨后光束向下傳輸到合成孔徑光束分光器模塊(4)上，光束在合成孔徑光束分光器模塊(4)上進行分光，一部分反射光傳輸進入合成孔徑共相探測器模塊(5)，另外一部分透射光傳輸進入合成孔徑成像聚焦模塊(6)后在合成孔徑成像探測器模塊(7)上聚焦成像，利用合成孔徑共相探測器模塊(5)能夠實現遙感相機之間的共相誤差精確探測，合成孔徑共相校正器模塊(2)能夠根據共相誤差探測信號實現對遙感相機之間共相誤差的補償校正，從而在合成孔徑成像探測器模塊(7)上得到觀測區域的高分辨率遙感圖像。

3.根據權利要求1所述的基于合成孔徑技術的空間可重構遙感相機，其特征在于：遙感相機處于合成孔徑工作模式時，這些遙感相機會圍繞合成孔徑輔助系統進行一定排布形狀的空間重構，6個遙感相機重構為環形排列的合成孔徑工作模式，或者重構為Y形排列的合成孔徑工作模式。

4.根據權利要求1所述的基于合成孔徑技術的空間可重構遙感相機，其特征在于：合成孔徑共相校正器模塊(2)可以采用壓電陶瓷驅動結構的器件，或者MEMS結構的器件，或者液晶結構的器件，或者其它能夠改變光束波前相位的器件構成。

5.根據權利要求1所述的基于合成孔徑技術的空間可重構遙感相機，其特征在于：合成孔徑光束分光器模塊(4)可以為強度分光、或光譜分光、或偏振分光。

6.根據權利要求1所述的基于合成孔徑技術的空間可重構遙感相機，其特征在于：合成孔徑共相探測器模塊(5)可以采用基于條紋追蹤的共相探測器件、或者基于色散條紋傳感器的共相探測器件、或者基于遠場光斑優化的共相探測器件、或者基于相位差法的共相探測器件。

7.根據權利要求1所述的基于合成孔徑技術的空間可重構遙感相機，其特征在于：合成孔徑成像探測器模塊(7)采用CCD相機或者CMOS相機。