[發(fā)明專利]一種硬盤背板壓力測試方法，系統(tǒng)及裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810362442.9
• 申請日: 2018-04-20
• 公開（公告）號: CN108572896A
• 公開（公告）日: 2018-09-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張慶華
• 申請（專利權(quán)）人: 鄭州云海信息技術(shù)有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 濟(jì)南舜源專利事務(wù)所有限公司 37205
• 代理人: 張亮

本發(fā)明提供一種硬盤背板壓力測試方法，系統(tǒng)及裝置，獲取待測試硬盤背板的測試要素組，也就是先找出需要測試的硬盤背板參數(shù)，將測試要素組與預(yù)設(shè)測試要素組進(jìn)行匹配；將測試要素組的要素特征值對應(yīng)與預(yù)設(shè)測試要素組的預(yù)設(shè)要素特征值進(jìn)行比對；判斷測試要素組的要素特征值是否與預(yù)設(shè)測試要素組的預(yù)設(shè)要素特征值一致。實現(xiàn)了對硬盤背板參數(shù)的綜合檢測，可以有針對性的對硬盤背板進(jìn)行測試。可以通過對硬盤背板的環(huán)境溫度與電壓大小模擬其所處的高溫、低溫、低負(fù)載、高負(fù)載等不同情況，來對硬盤背板進(jìn)行老化測試。這樣用戶可以獲取到不同硬盤背板的出現(xiàn)過壓，或溫度超閾值等情況下運(yùn)行的極限。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及硬盤背板壓力測試領(lǐng)域，尤其涉及一種硬盤背板壓力測試方法，系統(tǒng)及裝置。

背景技術(shù)

隨著服務(wù)器行業(yè)的快速發(fā)展，許多用戶應(yīng)用服務(wù)器作為數(shù)據(jù)運(yùn)行的核心。硬盤用于儲存數(shù)據(jù)信息。服務(wù)器在運(yùn)行過程中，硬盤的讀寫性能影響著服務(wù)器運(yùn)行的效率。硬盤與服務(wù)器其他元件的數(shù)據(jù)通信通常是通過硬盤背板來連接，也就是硬盤背板是硬盤連接其他元件的必經(jīng)之路。硬盤背板運(yùn)行的穩(wěn)定性影響著硬盤的數(shù)據(jù)通信狀況。這樣如何保證硬盤背板的穩(wěn)定運(yùn)行，進(jìn)而保證硬盤數(shù)據(jù)傳輸通暢是當(dāng)前丞待解決的技術(shù)問題。

現(xiàn)有技術(shù)中，雖然提供了硬盤背板的測試方式比如一種硬盤背板的檢測系統(tǒng)，包括：控制器和第一轉(zhuǎn)換芯片；所述第一轉(zhuǎn)換芯片，包括：第一數(shù)據(jù)輸入接口和至少兩個第一數(shù)據(jù)輸出接口；所述第一數(shù)據(jù)輸入接口與所述控制器相連；所述至少兩個第一數(shù)據(jù)輸出接口與至少兩個硬盤背板一一對應(yīng)相連；所述控制器，用于確定待檢測硬盤背板；控制所述第一數(shù)據(jù)輸入接口與所述待檢測硬盤背板對應(yīng)的所述第一數(shù)據(jù)輸出接口連接，向所述待檢測硬盤背板發(fā)送檢測指令，以使所述待檢測硬盤背板根據(jù)所述檢測指令進(jìn)行測試。

這種測試方式僅僅針對硬盤背板在正常使用狀態(tài)下進(jìn)行測試，如果硬盤背板在短時間內(nèi)出現(xiàn)過壓，或溫度超閾值等情況下運(yùn)行，將無法得出硬盤背板所能夠承擔(dān)的極限，這樣無法把握硬盤背板的穩(wěn)定性。

發(fā)明內(nèi)容

為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)中的不足，本發(fā)明提供一種硬盤背板壓力測試方法，方法包括：

獲取待測試硬盤背板的測試要素組；

開啟測試進(jìn)程，將測試要素組與預(yù)設(shè)測試要素組進(jìn)行匹配；

匹配后，將測試要素組的要素特征值對應(yīng)與預(yù)設(shè)測試要素組的預(yù)設(shè)要素特征值進(jìn)行比對；

判斷測試要素組的要素特征值是否與預(yù)設(shè)測試要素組的預(yù)設(shè)要素特征值一致。

優(yōu)選地，方法還包括：開啟測試進(jìn)程后，

提取測試要素組中第一測試特征值；

將第一測試特征值與第一預(yù)設(shè)測試特征值進(jìn)行匹配；

判斷第一測試特征值是否與第一預(yù)設(shè)測試特征值一致；

提取測試要素組中第二測試特征值；

將第二測試特征值與第二預(yù)設(shè)測試特征值進(jìn)行匹配；

判斷第二測試特征值是否與第二預(yù)設(shè)測試特征值一致；

提取測試要素組中第N測試特征值；

將第N測試特征值與第N預(yù)設(shè)測試特征值進(jìn)行匹配；

判斷第N測試特征值是否與第N預(yù)設(shè)測試特征值一致。

優(yōu)選地，當(dāng)?shù)谝粶y試特征值與第一預(yù)設(shè)測試特征值不一致時，對第一測試特征值進(jìn)行標(biāo)識；

當(dāng)?shù)诙y試特征值與第二預(yù)設(shè)測試特征值不一致時，對第二測試特征值進(jìn)行標(biāo)識；

當(dāng)?shù)贜測試特征值與第N預(yù)設(shè)測試特征值不一致時，對第N測試特征值進(jìn)行標(biāo)識。

優(yōu)選地，方法還包括：開啟測試進(jìn)程后，