[發明專利]參數監視器及監視集成電路上的被動元件的參數的方法在審
| 申請號: | 201810361599.X | 申請日: | 2018-04-20 |
| 公開(公告)號: | CN108763642A | 公開(公告)日: | 2018-11-06 |
| 發明(設計)人: | 何志源;連偉亮;楊志雄;王玉婷;廖進興 | 申請(專利權)人: | 聯發科技(新加坡)私人有限公司 |
| 主分類號: | G06F17/50 | 分類號: | G06F17/50 |
| 代理公司: | 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 賈鳳濤 |
| 地址: | 新加坡138628*** | 國省代碼: | 新加坡;SG |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 被動元件 參數監視器 集成電路 振蕩電路 監視 振蕩 測量 代碼產生電路 計數器 時間周期 | ||
本發明實施例提供了一種參數監視器及監視集成電路上的被動元件的參數的方法。其中該參數監視器用于監視集成電路上的被動元件的參數,并且包括:至少一個計數器,用于測量具有該被動元件的振蕩電路的振蕩的第一時間周期,以產生第一數字計數值,以及測量不具有該被動元件的該振蕩電路的振蕩的第二時間周期,以產生第二數字計數值;以及代碼產生電路,用于根據該第一數字計數值與該第二數字計數值,產生代碼來指示該被動元件的值或者該被動元件的值的變化。本發明實施例,能夠提高系統的準確性。
技術領域
本發明涉及參數監視領域,尤其涉及一種參數監視器及監視集成電路上的被動元件的參數的方法。
背景技術
參數監視器(parameter monitor)用于集成電路中,以監視被動電路元件的工藝變異(process variation)。參數監視器旨在監視基本的工藝參數以確保其值的準確性。
發明內容
本發明實施例提供了一種參數監視器及監視集成電路上的被動元件的參數的方法。
本發明實施例提供了一種參數監視器,用于監視集成電路上的被動元件的參數,該參數監視器包括:至少一個計數器,用于測量具有該被動元件的振蕩電路的振蕩的第一時間周期,以產生第一數字計數值,以及測量不具有該被動元件的該振蕩電路的振蕩的第二時間周期,以產生第二數字計數值;以及代碼產生電路,用于根據該第一數字計數值與該第二數字計數值,產生代碼來指示該被動元件的值或者該被動元件的值的變化。
其中,進一步包括:控制電路,用于控制該至少一個計數器,以及/或,控制該振蕩電路。
其中,該振蕩電路包括:第一振蕩器,具有該被動元件;以及第二振蕩器,不具有該被動元件。
其中,該至少一個計數器分別對該第一振蕩器和該第二振蕩器進行測量以得到該第一時間周期和該第二時間周期。
其中,該至少一個計數器包括:計數器,用于測量該第一時間周期與該第二時間周期。
其中,該至少一個計數器包括:第一計數器,用于測量該第一時間周期,以及第二計數器,用于測量該第二時間周期。
其中,該振蕩電路包括:振蕩器和至少一個開關,該至少一個開關用于將該被動元件包含在該振蕩器中或者從該振蕩器中移除該被動元件。
其中,該被動元件的值是基于該代碼而被補償。
其中,該被動元件的值是基于該代碼與期望的代碼值之間的差而被補償。
本發明實施例提供了一種參數監視器,用于監視集成電路上的被動元件的參數,該參數監視器包括:振蕩電路;以及電路,用于:測量具有該被動元件的振蕩電路的振蕩的第一時間周期,以產生第一數字計數值;測量不具有該被動元件的該振蕩電路的振蕩的第二時間周期,以產生第二數字計數值;以及根據該第一數字計數值與該第二數字計數值,產生代碼來指示該被動元件的值或者該被動元件的值的變化。
其中,該振蕩電路包括:第一振蕩器,具有該被動元件;以及第二振蕩器,不具有該被動元件;
其中,該被動元件的值是基于該代碼而被補償。
其中,該被動元件的值是基于該代碼與期望的代碼值之間的差而被補償。
本發明實施例提供了一種監視集成電路上的被動元件的參數的方法,該方法包括:測量具有該被動元件的振蕩電路的振蕩的第一時間周期,以產生第一數字計數值;測量不具有該被動元件的該振蕩電路的振蕩的第二時間周期,以產生第二數字計數值;以及根據該第一數字計數值與該第二數字計數值產生指示該被動元件的值或者該被動元件的值的變化的代碼。
其中,進一步包括:基于該代碼與期望的代碼值之間的差補償該被動元件的值。
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