[發(fā)明專利]一種柔性硒化銻薄膜太陽能電池及其制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810360066.X | 申請日: | 2018-04-20 |
| 公開(公告)號: | CN108447946B | 公開(公告)日: | 2020-05-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 唐江;李康華;牛廣達(dá);李夫;丁瑞卿;王斯羽;屠國力 | 申請(專利權(quán))人: | 華中科技大學(xué) |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L31/0445;H01L31/0392 |
| 代理公司: | 華中科技大學(xué)專利中心 42201 | 代理人: | 曹葆青;李智 |
| 地址: | 430074 湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 柔性 硒化銻 薄膜 太陽能電池 及其 制備 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種柔性硒化銻(Sb2Se3)薄膜太陽能電池及其制備方法,該方法的具體步驟包括:1)在聚酰亞胺(PI)柔性基底(玻璃作為支撐)上沉積ITO導(dǎo)電基底;2)在柔性導(dǎo)電基底上沉積硫化鎘(CdS)薄膜;3)在CdS薄膜上蒸發(fā)沉積Sb2Se3薄膜,再在其上沉積對電極材料,形成對電極材料,將PI柔性基底從玻璃上剝離,即可制備得到所述的柔性硒化銻薄膜太陽能電池。該制備方法簡單,且首次成功制備了柔性硒化銻薄膜太陽能電池。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于光電材料及薄膜太陽能電池制備領(lǐng)域,更具體地,涉及一種柔性硒化銻薄膜太陽能電池及其制備方法。
背景技術(shù)
硒化銻(Sb2Se3)是一種簡單的二元化合物,且化學(xué)組成元素銻和硒均為高儲量低毒元素,由于其禁帶寬度合適(~1.2eV),吸光系數(shù)高(短波吸光系數(shù)105cm-1),近些年硒化銻作為一種薄膜光伏吸收層材料,備受關(guān)注。硒化銻薄膜太陽能電池的發(fā)展也是十分迅猛,短短五年時間,已經(jīng)取得了認(rèn)證6.5%的能量轉(zhuǎn)換效率。
硒化銻作為一種一維鏈狀材料,有著和高分子化合物類似的機械性能,這樣的機械性能允許硒化銻的柔韌性。薄膜太陽能電池的優(yōu)勢在于:(1)制作材料使用少;(2)具有一定的柔韌性,能夠與建材等整合使用。相比于傳統(tǒng)的薄膜太陽能電池,一維的硒化銻太陽能電池的應(yīng)用于柔性器件,會有著獨到的優(yōu)勢。
然而,即使硒化銻薄膜太陽能電池在幾年內(nèi)就取得了突破性的進(jìn)展,現(xiàn)有的所有技術(shù)與器件都是針對于剛性基底(如玻璃基底),至今尚未成功地在柔性基底上制備出硒化銻薄膜太陽能電池。對于制備硒化銻薄膜及其太陽能電池器件,首選的要兼顧薄膜沉積速率,薄膜結(jié)晶性和柔性基底耐熱性等因素。過快的沉積速率,難以制備高質(zhì)量的薄膜,基底溫度過低,薄膜的結(jié)晶性差,影響器件性能,過高的基底溫度,則會對于柔性基底產(chǎn)生一定的破壞。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)的以上缺陷或改進(jìn)需求,本發(fā)明提供了一種柔性硒化銻薄膜太陽能電池及其制備方法,其充分結(jié)合柔性基底和柔性硒化銻薄膜太陽能電池的特點和制備需求,針對性對柔性硒化銻薄膜太陽能電池的制備方法進(jìn)行重新設(shè)計,對關(guān)鍵工藝參數(shù)進(jìn)行控制和調(diào)整,相應(yīng)獲得了一種操作簡單可控、電池性能優(yōu)異的柔性薄膜太陽能電池及其制備方法。
為實現(xiàn)上述目的,按照本發(fā)明的一個方面,提供了一種柔性硒化銻薄膜太陽能電池的制備方法,包括如下步驟:
(1)以剛性材料作為支撐,將柔性基底置于所述剛性材料上,利用磁控濺射在所述柔性基底上沉積ITO透明導(dǎo)電電極;
(2)在步驟(1)得到的ITO透明導(dǎo)電電極上沉積硫化鎘薄膜,得到沉積在所述ITO透明導(dǎo)電電極上的硫化鎘薄膜;
(3)在步驟(2)得到的所述硫化鎘薄膜上采用氣相轉(zhuǎn)移沉積法制備硒化銻薄膜;
(4)在步驟(3)得到的硒化銻薄膜上制備金對電極;
(5)將所述剛性材料與所述柔性基底分離,得到柔性硒化銻薄膜太陽能電池。
優(yōu)選地,所述剛性材料為玻璃,所述柔性基底為聚酰亞胺柔性基底。
優(yōu)選地,所述柔性基底為可見光波段的平均透過率85%,耐熱溫度400℃,耐酸堿性pH范圍為3~12的聚酰亞胺柔性基底。
優(yōu)選地,步驟(1)所述沉積ITO透明導(dǎo)電電極按照如下步驟進(jìn)行:利用磁控濺射法在所述的柔性基底上沉積ITO電極,該ITO電極可見光波段的平均透過率75%,方阻為7~15Ωsq-1。
優(yōu)選地,步驟(2)中所述硫化鎘薄膜的沉積按照如下步驟進(jìn)行:以硫酸鎘、氨水和硫脲為前驅(qū)體,利用化學(xué)水浴沉積方法,在步驟(1)所述ITO透明導(dǎo)電電極上制備CdS薄膜。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





