[發明專利]離子化裝置、質譜儀、離子遷移譜儀及離子化方法

有效

• 申請號: 201810360021.2
• 申請日: 2018-04-20
• 公開（公告）號: CN110391129B
• 公開（公告）日: 2020-10-02
• 發明（設計）人: 程玉鵬;孫文劍
• 申請（專利權）人: 島津分析技術研發（上海）有限公司
• 主分類號: H01J49/04
• 分類號: H01J49/04;H01J49/00
• 代理公司: 上海立群專利代理事務所(普通合伙) 31291
• 代理人: 毛立群;楊楷

1.一種離子化裝置，其特征在于，包括采樣解吸部和電離部，所述采樣解吸部包括采樣探針和加熱組件，其中，

所述采樣探針可拆卸地安裝于所述采樣解吸部，能夠用于樣品的主動采集；

所述加熱組件在常壓下或常壓附近，以向所述采樣探針提供電流或者感應電流的方式，對所述采樣探針加熱，使樣品從所述采樣探針表面解吸附；

所述電離部設置于所述采樣解吸部沿樣品傳質方向的下游；

在對所述采樣探針進行加熱過程的規定時間段內，所述采樣探針的升溫速率超過100K/s。

2.如權利要求1所述的離子化裝置，其特征在于，所述加熱組件為交流或直流電源。

3.如權利要求1所述的離子化裝置，其特征在于，所述加熱組件為干電池、蓄電池或鋰電池。

4.如權利要求1所述的離子化裝置，其特征在于，所述采樣探針采用絲狀、片狀、管狀、帶狀或膜狀導體制得，所述導體為鈦、鐵、鈷、鎵、鎳、鉻、鉑、銠、銥、鉿、鎢、錸、鉬金屬單質或是鈦、鐵、鈷、鎵、鎳、鉻、鉑、銠、銥、鉿、鎢、錸、鉬的合金材料中的一種或多種制成。

5.如權利要求4所述的離子化裝置，其特征在于，所述導體的橫截面積小于10mm²，所述導體的截面形狀為圓形或矩形。

6.如權利要求1-5中任一項所述的離子化裝置，其特征在于，所述加熱組件包括溫度控制部和溫度檢測部，所述溫度控制部能夠根據所述溫度檢測部反饋的溫度信息控制所述加熱組件的開關和/或功率大小。

7.如權利要求6所述的離子化裝置，其特征在于，所述溫度控制部至少包括第一升溫模塊和第二升溫模塊，所述第一升溫模塊能夠控制加熱所述采樣探針，使所述采樣探針上的第一成分被解吸附，所述第二升溫模塊能夠控制加熱所述采樣探針，使所述采樣探針上的第二成分被解吸附。

8.如權利要求6所述的離子化裝置，其特征在于，所述溫度控制部包括第三升溫模塊，所述第三升溫模塊能夠控制加熱所述采樣探針，使所述采樣探針上的樣品被燒燼。

9.如權利要求1-5中任一項所述的離子化裝置，其特征在于，所述加熱組件能夠將所述采樣探針加熱至1000℃以上。

10.如權利要求1所述的離子化裝置，其特征在于，所述加熱組件為電磁場發生器，所述采樣探針采用鐵磁材料制得，設置于所述電磁場發生器所產生的高頻電磁場中。

11.如權利要求10所述的離子化裝置，其特征在于，所述電磁場發生器為螺線管或渦旋線管，所述采樣探針設置于所述螺線管或渦旋線管中心軸線位置。

12.如權利要求1-5或10-11中任一項所述的離子化裝置，其特征在于，所述電離部包括電噴霧離子源、輝光放電離子源、介質阻擋放電離子源、電暈放電離子源或光電離源中的至少一種。

13.如權利要求1-5或10-11中任一項所述的離子化裝置，其特征在于，所述電離部產生的反應粒子為帶電液滴、離子、電子、光子或亞穩態原子中的至少一種。

14.如權利要求1-5或10-11中任一項所述的離子化裝置，其特征在于，所述電離部為室壓電離源和/或低氣壓電離源。

15.如權利要求14所述的離子化裝置，其特征在于，所述低氣壓電離源的工作氣壓為50Pa-500Pa、500Pa-5000Pa或5kPa-50kPa。

16.如權利要求1所述的離子化裝置，其特征在于，還包括載氣產生裝置，用于產生輔助氣流將解吸附后的樣品輸送至所述電離部。