[發明專利]確定流質或半流質產品中細菌電荷(charge)的裝置和方法

有效

• 申請號: 201810359612.8
• 申請日: 2018-04-20
• 公開（公告）號: CN108828335B
• 公開（公告）日: 2021-12-21
• 發明（設計）人: A·庫奇;R·拉扎里尼
• 申請（專利權）人: 艾力集團有限責任公司-卡皮賈尼
• 主分類號: G01R29/24
• 分類號: G01R29/24;G01R27/02;G01N27/02
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 亓云;段登新

1.一種用于確定流質或半流質產品中的細菌電荷的方法，包括：

-準備一定數量的待分析的流質或半流質產品；

-將所述數量的流質或半流質產品保持在預設測量溫度(Tm)并且推導表示預定時刻的所述流質或半流質產品的電阻抗角度的值(α)；

-根據表示所述電阻抗角度的值(α)的時間趨勢來推導所述流質或半流質產品中的細菌電荷濃度，

其中所述根據表示所述電阻抗角度的值(α)的時間趨勢來推導所述流質或半流質產品中的細菌電荷濃度的步驟包括以下步驟：

-計算在相繼時刻所述流質或半流質產品的所述電阻抗角度的值(α)的時間導數；

-對于所述相繼時刻中的每個時刻，將所述導數與預定參考值作比較以檢查所述導數是否大于所述預定參考值；

-若對于所述時刻中的一個時刻而言，所述導數大于所述預定參考值，則針對所述時刻使用細菌電荷濃度與時間之間的預定關系來計算對應于所述時刻的細菌電荷濃度值。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述推導所述電阻抗角度的值(α)的步驟包括生成所述流質或半流質產品中的時變電壓信號(Vref)的步驟以及在所述流質或半流質產品中測量因所述電壓信號(Vref)而導致的電流(Iout)的步驟。

3.如權利要求1-2中任一項所述的方法，其特征在于，所述推導在相繼時刻所述流質或半流質產品的所述電阻抗角度的值(α)的步驟包括以下步驟，對于每個時刻：

-檢測其中所述電壓信號(Vref)為零的時刻(T0)；

-檢測其中因所述電壓信號(Vref)而導致的所述電流(Iout)為零的時刻(T1)；

-根據以下公式計算所述時刻的所述流質或半流質產品的所述電阻抗角度的值(α)：

α＝T0–T1,其中T0是其中所述電壓信號(Vref)為零的時刻，而T1是所述電流(Iout)為零的時刻。

4.如權利要求1-2中任一項所述的方法，其特征在于，所述推導表示預定時刻的所述流質或半流質產品的所述電阻抗角度的值(α)的步驟包括以下步驟

-測量待分析的所述流質或半流質產品的溫度的步驟，

-以及基于所述流質或半流質產品的溫度信號來加熱待分析的所述流質或半流質產品從而將其保持在預設測量溫度(Tm)的步驟。

5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，將所述數量的流質或半流質產品保持在預設測量溫度(Tm)并推導表示預定時刻的所述流質或半流質產品的所述電阻抗角度的值(α)的步驟還包括測量外部環境溫度的步驟，并且其中基于所述流質或半流質產品的所述溫度信號來加熱待分析的所述流質或半流質產品從而將其保持在預設測量溫度(Tm)的步驟包括基于所述流質或半流質產品的所述溫度信號以及還基于所述外部環境溫度信號來加熱所述流質或半流質產品到預設測量溫度(Tm)。

6.如權利要求1-2中任一項所述的方法，其特征在于，所述根據表示所述電阻抗角度的值(α)的所述時間趨勢來推導所述流質或半流質產品中的細菌電荷濃度的步驟包括以下步驟：

-對于每個時刻，將表示所述電阻抗角度的值(α)與預定參考值作比較以檢查表示所推導的所述電阻抗角度的值(α)是否大于所述預定參考值；

-若表示所推導的所述電阻抗角度的值(α)大于所述預定參考值，則針對所述時刻使用細菌電荷濃度與時間之間的預定關系來計算對應于所述時刻的細菌電荷濃度值。

7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述細菌電荷濃度與測量時間之間的預定關系是所述細菌電荷濃度相對于所述測量時間減少的函數。

8.如權利要求7所述的方法，其特征在于，所述預定關系是二階函數。

9.如權利要求7所述的方法，其特征在于，細菌電荷濃度與測量時間之間的所述預定關系是：參照細菌電荷濃度，具有小于1的正底數并具有正測量時間指數的指數時間函數。