[發(fā)明專利]一種用于遠(yuǎn)端CMOS溫度測(cè)量電路的電阻消除電路在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810356503.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-04-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108760060A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-11-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張輝 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海申矽凌微電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01K1/00 | 分類號(hào): | G01K1/00 |
| 代理公司: | 上海段和段律師事務(wù)所 31334 | 代理人: | 李佳俊;郭國(guó)中 |
| 地址: | 201108 上海市閔*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 遠(yuǎn)端 可控電流源 電阻 雙極型晶體管 溫度測(cè)量電路 消除電路 電流源激勵(lì) 測(cè)溫電路 寄生電阻 模塊連接 溫度測(cè)量 自動(dòng)消除 固定的 校準(zhǔn) 復(fù)用 電路 外部 配合 | ||
本發(fā)明提供了一種用于遠(yuǎn)端CMOS溫度測(cè)量電路的電阻消除電路,包括:遠(yuǎn)端雙極型晶體管、可控電流源模塊以及ADC模塊,所述可控電流源模塊連接在所述遠(yuǎn)端雙極型晶體管與所述ADC模塊之間,所述ADC模塊集成有乘2電路;通過(guò)所述可控電流源模塊產(chǎn)生固定的電流源激勵(lì),配合所述ADC模塊實(shí)現(xiàn)電阻消除。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)原理簡(jiǎn)單,與CMOS測(cè)溫電路可高度復(fù)用,可自動(dòng)消除外部寄生電阻,無(wú)需額外校準(zhǔn)即可實(shí)現(xiàn)高精度遠(yuǎn)端溫度測(cè)量。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電子電路技術(shù)領(lǐng)域,具體地,涉及一種用于遠(yuǎn)端CMOS溫度測(cè)量電路的電阻消除電路。
背景技術(shù)
在許多應(yīng)用場(chǎng)景中,都需要測(cè)量遠(yuǎn)端的溫度值,感溫元件獨(dú)立于測(cè)溫芯片之外。例如通過(guò)測(cè)溫芯片監(jiān)控中央處理器(CPU)溫度,當(dāng)溫度超界時(shí),通過(guò)啟動(dòng)風(fēng)扇、降低工作頻率等手段,使溫度降低。由于CMOS集成電路的快速發(fā)展,CMOS溫度測(cè)量芯片擁有小尺寸、高精度及低成本等特點(diǎn)而被廣泛使用,通過(guò)利用不同的電流密度下VBE電壓差,得到一個(gè)與絕對(duì)溫度正相關(guān)的電壓值,通過(guò)內(nèi)部模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)轉(zhuǎn)換,可以得到十進(jìn)制溫度值。理論分析表明,由于CMOS溫度測(cè)量芯片將工作在不同的應(yīng)用場(chǎng)合,遠(yuǎn)端測(cè)量時(shí),PCB走線、濾波電路等引入的電阻會(huì)極大影響溫度測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度。
專利文獻(xiàn)CN105784157A公開(kāi)了一種低功耗、高線性度CMOS溫度傳感器,將與溫度相關(guān)的電流加在單個(gè)基極-集電極短接的PNP晶體管,得到與溫度相關(guān)的電壓輸出。只能用于本地溫度測(cè)量,且模擬輸出的方式不便于讀取溫度值。
專利文獻(xiàn)CN106482852A公開(kāi)了一種大量程低誤差CMOS溫度傳感器,將1:5的電流作用于內(nèi)部基極-集電極短接的PNP晶體管對(duì),產(chǎn)生與溫度相關(guān)的VBE值和ΔVBE值,通過(guò)二階ΔΣADC得到十進(jìn)制溫度值,缺點(diǎn)是只能測(cè)量芯片本地溫度,無(wú)法適用于外接晶體管的應(yīng)用。
在大部分測(cè)溫應(yīng)用中,要求±3℃測(cè)量誤差。當(dāng)遠(yuǎn)端測(cè)溫CMOS芯片需要一個(gè)精確的溫度值時(shí),需要在前端插入RC濾波電路,加上PCB走線的影響,根據(jù)測(cè)量芯片外圍電路不同,引入的寄生電阻在幾歐姆到幾千歐姆量級(jí)。由寄生電阻引入的溫度誤差約0.6℃/Ohm,若不消除該寄生電阻,測(cè)量電路將無(wú)法正常工作。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷,本發(fā)明的目的是提供一種用于遠(yuǎn)端CMOS溫度測(cè)量電路的電阻消除電路。
根據(jù)本發(fā)明提供的一種用于遠(yuǎn)端CMOS溫度測(cè)量電路的電阻消除電路,包括:遠(yuǎn)端雙極型晶體管、可控電流源模塊以及ADC模塊,所述可控電流源模塊連接在所述遠(yuǎn)端雙極型晶體管與所述ADC模塊之間,所述ADC模塊集成有乘2電路;
通過(guò)所述可控電流源模塊產(chǎn)生固定的電流源激勵(lì),配合所述ADC模塊實(shí)現(xiàn)電阻消除。
較佳的,所述遠(yuǎn)端雙極型晶體管的基極-發(fā)射極電壓VBE與偏置電流存在對(duì)數(shù)關(guān)系,且與絕對(duì)溫度正相關(guān),當(dāng)使用兩個(gè)不同電流值I1、I2激勵(lì)雙極型晶體管時(shí),VBE的差值存在以下公式:
式中k為波耳茲曼常數(shù),值為1.38X10-23,q為元電荷,值為1.6X10-19,T為開(kāi)爾文溫度。
較佳的,所述可控電流源模塊包括多組電流源,每組電流源均為cascode結(jié)構(gòu),分別通開(kāi)關(guān)管控制,使所述遠(yuǎn)端雙極型晶體管工作在不同的電流密度,以產(chǎn)生不同的基極-發(fā)射極電壓VBE。
較佳的,所述ADC模塊為集成精確乘2電路的二階ΔΣADC模塊,采用開(kāi)關(guān)電容結(jié)構(gòu)。
較佳的,所述精確乘2電路集成在所述二階ΔΣADC模塊的第一級(jí)積分器。
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