[發明專利]控制電路、顯示基板、顯示裝置和顯示方法

有效

• 申請號: 201810355258.1
• 申請日: 2018-04-19
• 公開（公告）號: CN108510954B
• 公開（公告）日: 2022-01-11
• 發明（設計）人: 雷嗣軍;陸旭;伏思慶;龍永;張英;陳善彬;曾凡建;許志財;耿玉旭;李云松;熊麗軍
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;重慶京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G09G3/36
• 分類號: G09G3/36;G09G3/3275;G09G3/3258
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 姜春咸;陳源

1.一種顯示裝置，包括顯示基板和源驅動電路，所述顯示基板包括子像素，所述子像素包括待檢測晶體管，其特征在于，還包括控制電路；所述控制電路用于向所述源驅動電路輸出實際灰階電壓輸入值，所述源驅動電路用于根據所述實際灰階電壓輸入值驅動所述子像素；

所述控制電路包括：

存儲模塊，用于存儲與子像素的各灰階所對應的饋通誤差電壓值；

計算模塊，用于接收原始灰階電壓輸入值和其對應的灰階，根據所述灰階在所述存儲模塊查找對應的饋通誤差電壓值，并將原始灰階電壓輸入值與其對應的饋通誤差電壓值的和作為實際灰階電壓輸入值輸出給源驅動電路；

檢測模塊，用于檢測得到所述子像素的各灰階對應的饋通誤差電壓值，并將各灰階對應的饋通誤差電壓值寫入存儲模塊的存儲單元中；

所述檢測模塊包括差分采樣保持電路、模數轉換電路和地址編碼器；

所述差分采樣保持電路用于：在所述待檢測晶體管的柵極驅動電壓無效沿采樣所述待檢測晶體管的第一漏極電壓；以及在所述待檢測晶體管的源驅動電壓無效沿采樣所述待檢測晶體管的第二漏極電壓；以及將所述第一漏極電壓與所述第二漏極電壓的電壓差作為饋通誤差電壓輸出至所述模數轉換電路；

所述地址編碼器用于將所述差分采樣保存電路所采集的饋通誤差電壓所對應的灰階編碼成所述存儲模塊的地址；

所述模數轉換電路用于將所述饋通誤差電壓轉換為饋通誤差電壓值，并將所述饋通誤差電壓值寫入所述存儲模塊。

2.根據權利要求1所述的顯示裝置，其特征在于，

所述計算模塊包括地址譯碼器和加法器；

所述地址譯碼器用于接收所述灰階，將其轉化為對應的所述存儲模塊中的存儲單元的地址，并將所述地址發送給加法器；

所述加法器用于接收所述原始灰階電壓輸入值，并將所述地址所指示的存儲單元中的饋通誤差電壓值與所述原始灰階電壓輸入值相加得到實際灰階電壓輸入值。

3.一種顯示方法，應用于權利要求1或2所述的顯示裝置，其特征在于，包括：

獲取原始灰階電壓輸入值及其對應的灰階；

從所述存儲模塊中讀取與所述灰階對應的饋通誤差電壓值；

將原始灰階電壓輸入值與其對應的饋通誤差電壓值的和作為實際灰階電壓輸入值；

將實際灰階電壓輸入值輸送給所述源驅動電路。

4.根據權利要求3所述的顯示方法，其特征在于，在獲取原始灰階電壓輸入值及其對應的灰階之前，還包括：

檢測各灰階對應的饋通誤差電壓，將該饋通誤差電壓轉化為饋通誤差電壓值，并將各灰階對應的饋通誤差電壓值存儲在所述存儲模塊內。

5.根據權利要求4所述的顯示方法，其特征在于，所述檢測各灰階對應的饋通誤差電壓的步驟包括：

在所述待檢測晶體管的柵極驅動電壓無效沿之前的設定時間到所述柵極驅動電壓無效沿的時間內采樣所述待檢測晶體管的第一漏極電壓；

在所述柵極驅動電壓變為無效之后的設定時間至所述待檢測晶體管的源驅動電壓無效沿之間的時間內采樣所述待檢測晶體管的第二漏極電壓；

計算所述第一漏極電壓與所述第二漏極電壓的電壓差，該電壓差作為所述饋通誤差電壓。