[發明專利]測試電路、陣列基板及發光顯示裝置

有效

• 申請號: 201810355230.8
• 申請日: 2018-04-19
• 公開（公告）號: CN108399880B
• 公開（公告）日: 2019-08-02
• 發明（設計）人: 陳彩琴
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 鐘子敏

1.一種測試電路，其特征在于，所述測試電路設置于掃描驅動電路的輸出端，用于在掃描驅動電路不對像素單元提供驅動信號時，對所述像素單元的電流輸出特性進行測試；

其中，所述測試電路包括使能信號線、掃描信號開啟線、復位信號線以及多個開關管，每一所述開關管包括第一端、第二端以及第三端，每一所述開關管的所述第一端連接所述使能信號線，所述第二端連接所述掃描信號開啟線，所述第三端連接所述像素單元；

所述像素單元包括發光控制線,且所述發光控制線在測試階段無輸入信號處于浮空狀態；

所述復位信號線連接所述像素單元的發光器件的陽極，在測試階段所述復位信號線輸入高電位，使得所述像素單元中的發光器件的陽極被輸入高位；同時，所述發光器件的陰極連接公共電壓，所述公共電壓在測試階段為所述發光器件提供低電平信號，從而在測試階段形成唯一導通回路，以驅動所述發光器件發光。

2.根據權利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述像素單元至少包括復位模塊、驅動模塊、補償模塊以及發光控制模塊；

其中，所述復位模塊與所述復位信號線以及驅動模塊連接，被配置為根據所述復位信號線輸入的復位信號對驅動模塊進行復位，所述驅動模塊被配置為輸出驅動電流來驅動發光器件發光，所述補償模塊與信號控制線以及所述驅動模塊連接，被配置以在所述掃描信號控制線輸入的控制信號的控制下，對所述驅動模塊進行閾值電壓補償和數據寫入，所述發光控制模塊與發光控制線、驅動模塊以及發光器件的陽極連接，被配置以根據所述發光控制線輸入的發光控制信號來控制驅動模塊以驅動發光器件發光。

3.根據權利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述開關管為場效應薄膜晶體管。

4.一種陣列基板，其特征在于，所述陣列基板包括權利要求1-3任一項所述的測試電路。

5.一種發光顯示裝置，其特征在于，所述發光顯示裝置包括依次連接的掃描驅動電路、像素單元以及測試電路，所述測試電路用于在掃描驅動電路不對所述像素單元提供驅動信號時，對所述像素單元的電流輸出特性進行測試；

所述測試電路包括使能信號線、掃描信號開啟線、復位信號線以及多個開關管，每一所述開關管包括第一端、第二端以及第三端，每一所述開關管的所述第一端連接所述使能信號線，所述第二端連接所述掃描信號開啟線，所述第三端連接所述像素單元；

所述像素單元包括發光控制線,且所述發光控制線在測試階段無輸入信號處于浮空狀態；

所述復位信號線連接所述像素單元的發光器件的陽極，在測試階段所述復位信號線輸入高電位，使得所述像素單元中的發光器件的陽極被輸入高位；同時，所述發光器件的陰極連接公共電壓，所述公共電壓在測試階段為所述發光器件提供低電平信號，從而在測試階段形成唯一導通回路，以驅動所述發光器件發光。

6.根據權利要求5所述的發光顯示裝置，其特征在于，所述開關管為場效應薄膜晶體管。