[發明專利]影像的動作檢測方法與電子裝置

有效

• 申請號: 201810352698.1
• 申請日: 2018-04-19
• 公開（公告）號: CN110392182B
• 公開（公告）日: 2022-04-26
• 發明（設計）人: 甘家銘;楊得煒
• 申請（專利權）人: 奇景光電股份有限公司
• 主分類號: H04N5/14
• 分類號: H04N5/14
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 陳松濤;夏青

1.一種影像的動作檢測方法，適用于電子裝置，所述動作檢測方法包括：

取得第一影像與第二影像，將所述第一影像分為多個第一區塊，并將所述第二影像分為多個第二區塊，其中所述多個第一區塊分別對應至所述多個第二區塊；

計算每一所述第一區塊與對應的所述第二區塊之間的區塊差異值，并判斷所述區塊差異值是否大于第一臨界值；

計算差異區塊數目，所述差異區塊數目表示所述第一影像或所述第二影像中有幾個所述區塊差異值大于所述第一臨界值；以及

若所述差異區塊數目大于第二臨界值，判斷動作模式為動態模式，否則所述動作模式為靜態模式，其中在所述動態模式下的所述第一臨界值小于所述靜態模式下的所述第一臨界值的同時在所述動態模式下的所述第二臨界值等于所述靜態模式下的所述第二臨界值，或者，在所述動態模式下的所述第一臨界值等于所述靜態模式下的所述第一臨界值的同時在所述動態模式下的所述第二臨界值小于所述靜態模式下的所述第二臨界值。

2.如權利要求1所述的動作檢測方法，其中計算每一所述第一區塊與對應的所述第二區塊之間的所述區塊差異值的步驟包括：

對于每一所述第一區塊內的像素計算第一直方圖；

對于每一所述第二區塊內的像素計算第二直方圖；以及

計算每一所述第一直方圖與對應的所述第二直方圖之間的差異作為該區塊差異值。

3.如權利要求2所述的動作檢測方法，其中所述區塊差異值為絕對差和。

4.如權利要求1所述的動作檢測方法，還包括：

根據所述第一影像與所述第二影像之間的時間距離來設定所述第一臨界值或所述第二臨界值，其中所述時間距離與所述第一臨界值呈正相關，或者所述時間距離與所述第二臨界值呈正相關。

5.如權利要求1所述的動作檢測方法，還包括：

判斷所述第二影像與第三影像之間的所述動作模式，其中所述第一影像與所述第二影像之間的時間距離小于所述第二影像與所述第三影像之間的時間距離。

6.一種電子裝置，包括：

永遠啟動傳感器，用以取得第一影像與第二影像；以及

運算電路，用以將所述第一影像分為多個第一區塊，并將所述第二影像分為多個第二區塊，其中所述多個第一區塊分別對應至所述多個第二區塊，

其中所述運算電路用以計算每一所述第一區塊與對應的所述第二區塊之間的區塊差異值，并判斷所述區塊差異值是否大于第一臨界值，

所述運算電路用以計算差異區塊數目，所述差異區塊數目表示所述第一影像或所述第二影像中有幾個所述區塊差異值大于所述第一臨界值，

若判斷所述差異區塊數目大于第二臨界值，所述運算電路判斷動作模式為動態模式，否則所述動作模式為靜態模式，其中在所述動態模式下的所述第一臨界值小于所述靜態模式下的所述第一臨界值的同時在所述動態模式下的所述第二臨界值等于所述靜態模式下的所述第二臨界值，或者，在所述動態模式下的所述第一臨界值等于所述靜態模式下的所述第一臨界值的同時在所述動態模式下的所述第二臨界值小于所述靜態模式下的所述第二臨界值。

7.如權利要求6所述的電子裝置，其中所述運算電路還用以對于每一所述第一區塊內的像素計算第一直方圖，對于每一所述第二區塊內的像素計算第二直方圖，并且計算每一所述第一直方圖與對應的所述第二直方圖之間的差異作為所述區塊差異值。

8.如權利要求7所述的電子裝置，其中所述區塊差異值為絕對差和。

9.如權利要求6所述的電子裝置，其中所述運算電路還用以根據所述第一影像與所述第二影像之間的時間距離來設定所述第一臨界值或所述第二臨界值，其中所述時間距離與所述第一臨界值呈正相關，或者所述時間距離與所述第二臨界值呈正相關。

10.如權利要求6所述的電子裝置，其中所述運算電路還用以判斷所述第二影像與第三影像之間的所述動作模式，其中所述第一影像與所述第二影像之間的時間距離小于所述第二影像與所述第三影像之間的時間距離。