[發明專利]一種物品狀態及環境測量裝置及檢測方法在審
| 申請號: | 201810352543.8 | 申請日: | 2018-04-19 |
| 公開(公告)號: | CN108344840A | 公開(公告)日: | 2018-07-31 |
| 發明(設計)人: | 劉偉 | 申請(專利權)人: | 滄州子芩信息科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N33/00 | 分類號: | G01N33/00;G01T1/24 |
| 代理公司: | 北京華旭智信知識產權代理事務所(普通合伙) 11583 | 代理人: | 馮云 |
| 地址: | 061001 河北省滄州市*** | 國省代碼: | 河北;13 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 物品狀態 背景輻射 待測物 輻射檢測單元 環境測量裝置 輻射信號 資料庫 比對 探針 物品狀態信息 信號輸出單元 信號轉換單元 導電性 測量模塊 測量信號 儲存物品 處理單元 環境測量 環境輻射 信號輸出 回傳 離子 輻射 檢測 | ||
1.一種物品狀態及環境測量裝置,其特征在于包含:
(1)測量模塊(50):包含信號輸出單元(51)、信號轉換單元(52)、探針(53)以及輻射檢測單元(54),所述探針(53)將信號輸出給待測物品,并且接收待測物回傳的測量信號,輻射檢測單元(54)接收背景輻射并產生相應的輻射信號;
(2)物品狀態及環境資料庫(40),用于儲存物品狀態信息以及背景輻射狀態信息;及
(3)處理單元(30),計算待測物的導電性指標以及離子濃度,由輻射信號計算輻射強度,將計算獲得的所有量與環境及物品狀態資料庫內的物品狀態信息及背景輻射狀態信息進行比對,從而判斷待測物狀態及背景輻射狀態。
2.根據權利要求1所述的物品狀態及環境測量裝置,其特征在于:所述離子濃度包括氯化物濃度、硝酸鹽離子濃度、硫酸鹽離子濃度以及亞硝酸鹽離子濃度。
3.根據權利要求1所述的物品狀態及環境測量裝置,其特征在于:所述輻射檢測單元(54)還包括:半導體陣列(541)、放大器(542)及脈沖計數器(543),其中,所述半導體陣列(541)可接收環境輻射并生成輻射脈沖,所述放大器(542)放大所述輻射脈沖,所述脈沖計數器(543)計算輻射脈沖從而獲得輻射信號。
4.根據權利要求1-3任一所述的物品狀態及環境測量裝置,其特征在于:所述物品狀態及環境測量裝置還包括:顯示模塊(70),所述顯示模塊(70)與處理單元(30)電連接,所述處理單元(30)通過所述顯示模塊(70)輸出待測物狀態及環境的背景輻射狀態。
5.根據權利要求1-4任一所述的物品狀態及環境測量裝置,其特征在于:所述物品狀態及環境測量裝置還包括:輸入模塊(60)和感應模塊,所述輸入模塊(60)與所述處理單元(30)電連接,所述感應模塊感應使用者的操作過程,識別輸入資料,將所述輸入資料輸入所述處理單元,所述處理單元(30)處理所述輸入資料并在所述顯示模塊(70)上輸出相應的反饋。
6.根據權利要求5所述的物品狀態及環境測量裝置,其特征在于:所述感應模塊為觸控模塊,與所述顯示模塊組合為觸控式屏幕。
7.根據權利要求6所述的物品狀態及環境測量裝置,其特征在于:所述物品狀態及環境測量裝置包括多個待測物種類,使用者根據待測物種類通過觸控模塊選擇相應的待測物對應的待測物種類,所述處理單元根據使用者選擇的待測物種類判斷待測物狀態。
8.一種物品狀態的檢測方法,使用根據權利要求1-7任一所述的物品狀態及環境測量裝置,其特征在于包括:
(1)在測量待測物前進行校正,排除當執行測量步驟時測量到的寄生電路參數(S41);
(2)使用者由觸控模塊選擇待測物種類(S42);
(3)將探針放在待測物內(S43);
(4)測量探針與待測物接觸而產生的電壓值,并由模數轉換器獲得轉換值ADC值(S44);
(5)處理單元將物品狀態與環境資料庫中的數據與測量數據進行比較(S45);
(6)輸出待測物狀態并在顯示模塊上顯示(S46)。
9.根據權利要求8所述的一種物品狀態的檢測方法,其特征在于所述步驟(1)包括:將探針置入待測物內之前,將信號首先傳送到探針,采用模數轉換器測量寄生電路的參數并存入處理單元的存儲單元內,以提高測量精確度。
10.一種環境的背景輻射狀態檢測方法,使用根據權利要求1-7任一所述的物品狀態及環境測量裝置,其特征在于包括:
(1)在測量環境的背景輻射狀態前進行校正,排除當執行測量步驟時測量到的寄生電路參數(S51),包括:測量寄生電路的參數并存入處理單元的存儲單元內,以提高測量精確度;
(2)使用者由觸控模塊選擇待測物種類(S42);
(3)啟動輻射測量單元開始檢測并獲得輻射信號(S53);
(4)處理單元計算所測得的輻射信號并產生輻射強度(S54);
(5)處理單元將物品狀態與環境資料庫中的背景輻射狀態信息與獲得的輻射強度進行比較(S55);
(6)輸出背景輻射狀態并在顯示模塊上顯示(S56)。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于滄州子芩信息科技有限公司,未經滄州子芩信息科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810352543.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





