[發(fā)明專利]一種在線ICT測(cè)試裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810350491.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-04-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108344939A | 公開(公告)日: | 2018-07-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 汪豐;胡建云 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 東莞市科立電子設(shè)備有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 東莞市神州眾達(dá)專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 44251 | 代理人: | 劉漢民 |
| 地址: | 523007 廣東省*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 傳動(dòng)軌道 上下浮動(dòng) 測(cè)試下壓氣缸 中央設(shè)置 阻擋氣缸 裝置柜 上端 定位精度高 元器件參數(shù) 測(cè)試 擋板 測(cè)試工位 基板測(cè)試 氣動(dòng)控制 前端設(shè)置 雙面測(cè)試 軸承導(dǎo)向 分隔板 固定板 短路 板卡 導(dǎo)桿 底端 天板 下端 壓床 治具 半成品 下沉 開路 堅(jiān)固 美觀 吻合 阻擋 計(jì)算機(jī) | ||
本發(fā)明公開了一種在線ICT測(cè)試裝置,包括上下浮動(dòng)傳動(dòng)軌道、ICT測(cè)試壓床機(jī)構(gòu)和裝置柜體,所述上下浮動(dòng)傳動(dòng)軌道的下端中央設(shè)置有分隔板;所述擋板的上端設(shè)置有PCBA阻擋氣缸;所述導(dǎo)桿的底端設(shè)置有測(cè)試天板;所述測(cè)試下壓氣缸固定板的上端中央設(shè)置有測(cè)試下壓氣缸,所述裝置柜的前端設(shè)置有計(jì)算機(jī)。本在線ICT測(cè)試裝置在使用時(shí),當(dāng)PCBA運(yùn)動(dòng)到測(cè)試工位時(shí)由PCBA阻擋氣缸將其阻擋,上下浮動(dòng)傳動(dòng)軌道下沉,待PCBA與ICT測(cè)試治具定位吻合后,開始測(cè)試PCBA各項(xiàng)指標(biāo);整體堅(jiān)固美觀,氣動(dòng)控制操作簡(jiǎn)單方便,軸承導(dǎo)向定位精度高,可作單、雙面測(cè)試適用于CD板卡等半成品PCBA產(chǎn)品元器件參數(shù)和線路開路、短路等故障,適用于元件較密集和SMT元件較多之基板測(cè)試。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及測(cè)試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種在線ICT測(cè)試裝置。
背景技術(shù)
在線ICT測(cè)試裝置是現(xiàn)代電子企業(yè)必備的PCBA生產(chǎn)的測(cè)試設(shè)備,ICT使用范圍廣,測(cè)量準(zhǔn)確性高,對(duì)檢測(cè)出的問題指示明確,是一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段,即使電子技術(shù)水準(zhǔn)一般的工人處理有問題的PCBA也非常容易;ICT測(cè)試主要是通過測(cè)試探針接觸PCB layout出來(lái)的測(cè)試點(diǎn)來(lái)檢測(cè)PCBA的線路開路、短路、所有零件的焊接情況,可分為開路測(cè)試、短路測(cè)試、電阻測(cè)試、電容測(cè)試、二極管測(cè)試、三極管測(cè)試、場(chǎng)效應(yīng)管測(cè)試、IC管腳測(cè)試等其它通用和特殊元器件的漏裝、錯(cuò)裝、參數(shù)值偏差、焊點(diǎn)連焊、線路板開短路等故障,并將故障是哪個(gè)組件或開短路位于哪個(gè)點(diǎn)通過打印機(jī)或屏幕顯示準(zhǔn)確告訴用戶,使用ICT能極大地提高生產(chǎn)效率,降低生產(chǎn)成本,然而,對(duì)于元件較密集和SMT元件較多之基板測(cè)試裝置,目前較為缺乏,因此需要一種在線ICT測(cè)試裝置。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種在線ICT測(cè)試裝置,具有堅(jiān)固美觀,氣動(dòng)控制操作簡(jiǎn)單方便,軸承導(dǎo)向定位精度高,可作單、雙面測(cè)試適用于CD板卡等半成品PCBA產(chǎn)品元器件參數(shù)和線路開路、短路且故障,適用于元件較密集和SMT元件較多之基板測(cè)試的優(yōu)點(diǎn),解決了現(xiàn)有技術(shù)中元件較密集和SMT元件較多之基板難以測(cè)試的問題。
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- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 可設(shè)置中央處理器的接口電路
- 設(shè)置于中央處理器的總線轉(zhuǎn)接卡的結(jié)構(gòu)
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