[發明專利]一種多通道高溫介電溫譜測試裝置

有效

• 申請號: 201810347114.1
• 申請日: 2018-04-18
• 公開（公告）號: CN108918976B
• 公開（公告）日: 2020-11-27
• 發明（設計）人: 鄭鵬;陳振寧;盛林生;李旭東;戴博文;鄭梁;鄭輝
• 申請（專利權）人: 杭州電子科技大學
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26;G01K7/02
• 代理公司: 浙江永鼎律師事務所 33233
• 代理人: 雷仕榮

本發明公開了一種多通道高溫介電溫譜測試裝置，包括夾具以及與該夾具電氣連接的檢測設備，夾具至少包括一夾持機構和一隔熱板(4)，夾持機構進一步包括不銹鋼底板(10)，不銹鋼底板(10)上固定設置銀極底板作為多通道共用的銀底電極(7)，每個通道獨立設置一個熱電偶(2)，熱電偶(2)一端埋于銀底電極(7)之中，另一端與檢測設備電氣連接；每個通道均設置一銀螺栓頂電極(5)，被測樣品夾持在銀螺栓頂電極(5)和銀底電極(7)之間并通過一固定機構調節松緊將其緊密固定。采用本發明的技術方案，能夠準確的測定樣品溫度，并且可測試的溫度范圍大，測試不同溫度下材料的介電性能，且成本低。

技術領域

本發明涉及材料性能測試技術領域，具體地，涉及一種多通道高溫介電溫譜測試裝置。

背景技術

電子材料在現今高新技術領域中發揮著重要的作用。科技水平的不斷發展，對電子材料的性能提出了更高的要求，相應地，對電子材料的測試設備也提出了更高的要求。

其中介電特性是電介質材料極其重要的特質。在實際應用中，電介質材料的介電常數和介電損耗是非常重要的參數。制造不同的器件需要不同的介電常數及損耗因數。介質損耗和介電損耗是各種材料的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗正切角和介電常數，可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據。

現有技術中，多數介電測試裝置通常只能在常溫下進行測試，或者測試的溫度范圍比較小，不適用于一些須在高溫下保持良好性能的材料的測試，常溫下介電材料的介電特性不能完全反映出介電材料在不同溫度下的情況。目前已有的一些技術中，已經可以做到在高溫下測試介電系數，但是仍然存在著一些問題。其中，現有技術通常使用一組熱電偶測試多個通道樣品的溫度，由于箱體中存在溫度分布，導致實際樣品溫度不準，影響實驗結果。另外，現有的夾具中采用彈簧來夾持也是常見的，但是用彈簧來夾持存在兩個問題，第一，彈簧在高溫下使用會失去彈性，第二，用彈簧來夾持難以調節夾持的松緊，可能導致某些易碎材質的樣品破裂或者松脫。以上所述的問題都將會影響到高溫下樣品性能的測試。

故，針對現有技術的缺陷，實有必要提出一種技術方案以解決現有技術存在的技術問題。

發明內容

有鑒于此，為了克服上述現有技術的不足，本發明提供了一種多通道高溫介電溫譜測試裝置，能夠有效的解決樣品測試過程中測溫不準的問題，并能在較大的溫度范圍內測試樣品的介電性能，從而更好地反映材料在使用環境下地實際性能，且制造成本低。

為了解決現有技術存在的技術問題，本發明采用的技術方案如下：

一種多通道高溫介電溫譜測試裝置，包括夾具以及與該夾具電氣連接的檢測設備，所述夾具至少包括一夾持機構和一隔熱板(4)，所述夾持機構設置在高溫腔體中，用于在夾持被測樣品；所述隔熱板(4)用于封閉高溫腔體；

其中，所述夾持機構進一步包括不銹鋼底板(10)，所述不銹鋼底板(10)上固定設置銀極底板作為多通道共用的銀底電極(7)，每個通道獨立設置一個熱電偶(2)，所述熱電偶(2)一端埋于銀底電極(7)之中，另一端與檢測設備電氣連接；每個通道均設置一銀螺栓頂電極(5)，被測樣品夾持在所述銀螺栓頂電極(5)和銀底電極(7)之間并通過一固定機構調節松緊將其緊密固定；

所述銀螺栓頂電極(5)通過第一導線(1)與檢測設備電氣連接；所述銀底電極(7)通過第二導線(3)與檢測設備電氣連接；

所述隔熱板(4)中橫插有氧化鋁管(9),第一導線(1)和第二導線(3)從所述氧化鋁管(9)中穿過；所述氧化鋁管(9)套裝設置小不銹鋼板(11)，并通過第二不銹鋼螺栓(13)將小不銹鋼板(11)固定在不銹鋼底板(10)上從而將整個夾持機構固定于隔熱板(4)上。