[發(fā)明專利]全站儀儀器高激光測量系統(tǒng)與使用方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810346321.5 | 申請日： | 2018-04-18 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN108507531B | 公開（公告）日： | 2019-12-20 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 廖孟光;李羲;李朝奎;卜璞;劉正佳 | 申請（專利權(quán)）人： | 湖南科技大學(xué) |
| 主分類號(hào)： | G01C5/00 | 分類號(hào)： | G01C5/00;G01S17/08 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 411201 *** | 國省代碼： | 湖南;43 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 全站儀 激光反射 激光位移傳感器 測量標(biāo)志 激光測量系統(tǒng) 球面 激光測距 球面曲率 上下表面 反射帽 激光測量儀器 紅色可見光 激光對中器 基座中心 激光測量 球面凸起 豎直向下 標(biāo)志處 帽覆蓋 上表面 數(shù)據(jù)線 調(diào)平 偏斜 相等 主機(jī) 激光 覆蓋 | ||
1.全站儀儀器高激光測量系統(tǒng)，包括全站儀和激光位移傳感器，激光位移傳感器豎直向下安裝在全站儀基座中心處，其特征為還包括激光反射帽，反射帽上下表面均為球面，且球面曲率均與測量標(biāo)志上表面球面曲率相等，激光測量儀器高時(shí)，反射帽覆蓋在測量標(biāo)志球面凸起上，所述測量標(biāo)志上有對中標(biāo)志處的凹槽。
2.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的全站儀儀器高激光測量系統(tǒng)，其特征為激光位移傳感器的激光為紅色可見光，激光位移傳感器兼作激光對中器，其與全站儀主機(jī)通過數(shù)據(jù)線相連。
3.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的全站儀儀器高激光測量系統(tǒng)，其特征為激光反射帽上表面為白陶瓷，本體材料為永久磁鐵。
4.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的全站儀儀器高激光測量系統(tǒng)，其特征為激光反射帽材料為白陶瓷。
5.全站儀儀器高激光測量系統(tǒng)的使用方法，全站儀儀器高激光測量系統(tǒng)為權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的全站儀儀器高激光測量系統(tǒng)，其特征為：
a、全站儀精平后，打開激光位移傳感器，瞄準(zhǔn)測量標(biāo)志上的對中標(biāo)記進(jìn)行對中;
b、對中后，將激光反射帽蓋在測量標(biāo)志上，覆蓋對中標(biāo)記;
c、在全站儀上讀取激光位移傳感器測得的儀器高，該儀器高需要加上激光反射帽的厚度和激光位移傳感器至全站儀度盤中心的高度，這兩部分高度為設(shè)備固定長度。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于湖南科技大學(xué)，未經(jīng)湖南科技大學(xué)許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810346321.5/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
