[發明專利]一種利用多點擬合確定連續X射線背景強度的方法

在審

• 申請號: 201810340083.7
• 申請日: 2018-04-16
• 公開（公告）號: CN108717065A
• 公開（公告）日: 2018-10-30
• 發明（設計）人: 楊水源;崔繼強;蔣少涌;張若曦
• 申請（專利權）人: 中國地質大學（武漢）
• 主分類號: G01N23/2252
• 分類號: G01N23/2252
• 代理公司: 武漢知產時代知識產權代理有限公司 42238
• 代理人: 龔春來

1.一種利用多點擬合確定連續X射線背景強度的方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1，利用電子探針通過波譜掃描得到待測元素的波譜掃描圖；

S2，在所述待測元素的波譜掃描圖的峰的左邊的連續X射線處選取n₁個波譜位置，右邊的連續X射線處選取n₂個波譜位置；

S3，利用電子探針通過定量分析分別測試選取的每一個波譜位置處的連續X射線的強度；

S4，以步驟S2選取的波譜位置為x軸，以步驟S3測試的每一個波譜位置處的連續X射線的強度為y軸，進行曲線擬合，得到待測元素的背景擬合方程；

S5，將待測元素的峰所處的波譜位置代入背景擬合方程，即得到待測元素的背景強度值,利用得到的待測元素的背景強度值和待測元素的峰強度值能夠準確的計算待測元素的含量，消除背景強度對微量元素的含量的測試結果的影響。

2.如權利要求1所述的利用多點擬合確定連續X射線背景強度的方法，其特征在于，步驟S2中，n₁的取值為不小于2的整數，n₂的取值為不小于2的整數。

3.如權利要求1所述的利用多點擬合確定連續X射線背景強度的方法，其特征在于，步驟S4中，曲線擬合的方式包括二次多項式、指數函數、冪函數和對數函數，二次多項式的擬合方程為y＝ax²+bx+c，式中，a、b、c為常數；指數函數的擬合方程為y＝a^x，式中，a為常數；冪函數的擬合方程為y＝x^a，式中，a為常數；對數函數的擬合方程為y＝log_ax，式中，a為常數。

4.如權利要求1所述的利用多點擬合確定連續X射線背景強度的方法，其特征在于,所述步驟S5中，利用得到的待測元素的背景強度值和待測元素的峰強度值計算待測元素含量的具體方法為：

S5.1,利用電子探針通過定量分析測試得到待測元素的峰位置處的X射線強度值；

S5.2,根據峰位置處的X射線強度值和背景強度值計算待測元素的特征X射線強度值；

S5.3,根據待測元素的特征X射線強度值計算待測元素的含量。

5.如權利要求4所述的利用多點擬合確定連續X射線背景強度的方法，其特征在于，所述步驟S5.2中，待測元素的特征X射線強度值的計算公式為：

I’_NET＝I_PEAK-I’_BG，

式中，I’_NET為待測元素的特征X射線強度值，I_PEAK為待測元素的峰位置處的X射線強度值，I’_BG為待測元素的背景強度值。

6.如權利要求4所述的利用多點擬合確定連續X射線背景強度的方法，其特征在于，所述步驟S5.3中，待測元素的含量的計算公式為：

式中，為未知樣品中待測元素的百分含量，為標準樣品中待測元素的百分含量；I’_NET為未知樣品中待測元素的特征X射線強度值；為標準樣品中待測元素的特征X射線強度值；M_A^unk為未知樣品中待測元素的基質校正因子，M_A^std為標準樣品中待測元素的基質校正因子。