[發(fā)明專利]水浸檢測(cè)裝置及方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810339472.8
• 申請(qǐng)日: 2018-04-16
• 公開（公告）號(hào): CN108896613B
• 公開（公告）日: 2021-06-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鄧燈波;全亞芝
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 華為技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01N27/04
• 分類號(hào): G01N27/04
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強(qiáng);李稷芳

1.一種水浸檢測(cè)裝置，其特征在于，所述裝置包括電極探頭和檢測(cè)主機(jī)，其中，所述電極探頭用于檢測(cè)阻抗的變化；所述檢測(cè)主機(jī)包括模擬采樣模塊、數(shù)字比較器模塊、微控制單元MCU和電源模塊；

所述電源模塊用于提供電源電壓；

所述數(shù)字比較器模塊用于把第二電壓與來(lái)自于所述模擬采樣模塊的第一電壓做比較處理，輸出電平信號(hào)，所述電平信號(hào)用于表征所述電極探頭處于浸水或者未浸水；

所述模擬采樣模塊用于根據(jù)所述電極探頭輸出的阻抗檢測(cè)結(jié)果，對(duì)所述電源模塊提供的所述電源電壓做分壓和運(yùn)放處理得到第三電壓；

所述MCU用于確定所述數(shù)字比較器模塊輸出的電平信號(hào)由低電平變成高電平，表征所述電極探頭浸水，所述MCU從休眠狀態(tài)進(jìn)入工作狀態(tài)并再觸發(fā)所述模擬采樣模塊對(duì)所述電極探頭的阻抗做采樣，獲得所述模擬采樣模塊輸出的所述第三電壓，計(jì)算獲得所述電極探頭的電阻，判斷所述電極探頭的電阻小于預(yù)設(shè)的電阻閾值，則確定浸水。

2.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述MCU還用于確定所述電極探頭的電阻大于所述預(yù)設(shè)的電阻閾值，然后判斷所述數(shù)字比較器模塊提供的電平信號(hào)是否由高電平變成低電平，如果不是，依次循環(huán)觸發(fā)對(duì)所述電極探頭的阻抗實(shí)施再次采樣、對(duì)所述電極探頭的電阻實(shí)施再次計(jì)算和比較，直至確定浸水。

3.如權(quán)利要求1或2所述的裝置，其特征在于，所述檢測(cè)主機(jī)還包括無(wú)線通信模塊，所述無(wú)線通信模塊用于當(dāng)所述MCU確定浸水，則通過(guò)無(wú)線信號(hào)通知控制臺(tái)。

4.如權(quán)利要求3所述的裝置，其特征在于，所述無(wú)線通信模塊還用于接收所述控制臺(tái)發(fā)送的新的電阻閾值；所述MCU還用于對(duì)已保存的電阻閾值做更新。

5.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述模擬采樣模塊包括第一分壓電路和運(yùn)算放大器；其中，所述第一分壓電路的第一端連接所述電極探頭，所述第一分壓電路的第二端連接所述電源模塊，所述第一分壓電路的第三端連接所述運(yùn)算放大器的正極端，所述運(yùn)算放大器的輸出端連接所述MCU的AD端口。

6.如權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述第一分壓電路包括第一電阻器件；其中，第一電阻器件的一端獲得所述電源電壓的輸入，所述第一電阻器件的另一端分別與所述運(yùn)算放大器的正極端和所述電極探頭耦合連接，所述運(yùn)算放大器的輸出端連接所述MCU的AD端口。

7.如權(quán)利要求1或5所述的裝置，其特征在于，所述數(shù)字比較器模塊包括第二分壓電路和比較器電路；其中，所述第二分壓電路的第一端連接所述電源模塊，所述第二分壓電路的第二端連接所述比較器電路的第一端，所述比較器電路的第二端連接所述模擬采樣模塊，所述比較器電路的第三端連接所述MCU的IO端口。

8.如權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述第二分壓電路包括第二電阻器件和第三電阻器件，所述比較器電路包括比較器和第四電阻器件；其中，所述第二電阻器件的一端獲得所述電源電壓的輸入，所述第二電阻器件的另一端分別與所述比較器的正極端、所述第三電阻器件的一端和所述第四電阻器件的一端耦合連接，所述第三電阻器件的另一端接地，所述第四電阻器件的一端連接所述比較器的正極端，所述第四電阻器件的另一端連接所述比較器的輸出端，所述比較器的負(fù)極端獲得來(lái)自于所述模擬采樣模塊的第一電壓的輸入，所述比較器的輸出端連接所述MCU的IO端口。

9.如權(quán)利要求1或5所述的裝置，其特征在于，所述數(shù)字比較器模塊包括非門電路；其中，所述非門電路的一端獲得來(lái)自于所述模擬采樣模塊的第一電壓的輸入，所述非門電路的輸出端連接所述MCU的IO端口，所述非門電路預(yù)先被設(shè)置電壓閾值。