[發明專利]一種變厚度材料缺陷超聲C掃檢測方法在審
| 申請號： | 201810336337.8 | 申請日： | 2018-04-16 |
| 公開（公告）號： | CN108519443A | 公開（公告）日： | 2018-09-11 |
| 發明（設計）人： | 高曉進;賀鎖讓;李晉平;江柏紅;周金帥 | 申請（專利權）人： | 航天特種材料及工藝技術研究所 |
| 主分類號： | G01N29/44 | 分類號： | G01N29/44 |
| 代理公司： | 北京格允知識產權代理有限公司 11609 | 代理人： | 譚輝;周嬌嬌 |
| 地址： | 100074 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 灰度圖像 超聲C掃 檢測 超聲衰減系數 厚度材料 探頭 超聲波探傷 檢測靈敏度 補償處理 厚度確定 缺陷判定 復合材料 灰度 掃查 規劃 | ||
1.一種變厚度材料缺陷超聲C掃檢測方法，其特征在于：所述檢測方法包括如下步驟：
(1)根據被檢件的外形，規劃超聲發射探頭和超聲接收探頭的掃查路徑，使超聲發射探頭和超聲接收探頭在掃查時到被檢件表面的距離相同；
(2)根據被檢件的超聲衰減系數和厚度確定超聲波探傷儀的檢測靈敏度；
(3)對被檢件進行超聲C掃檢測，得到被檢件的C掃灰度圖像；
(4)計算被檢件C掃灰度圖像不同厚度處的補償值，對C掃灰度圖像進行灰度值補償處理，得到補償后的C掃圖，根據C掃圖進行缺陷判定；所述補償值按照如下公式進行計算：
其中，kx為補償值，α為被檢件的超聲衰減系數，dx為檢測處的材料厚度，d0為被檢件最薄處的厚度。
2.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于：在步驟(4)中，進行補償處理時，將C掃灰度圖像的每個像素點的像素值Cx乘以kx，得到補償后的C掃圖。
3.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于：在步驟(3)中，C掃灰度圖像采用灰度顯示，并使超聲波探傷儀顯示的穿透波波高幅值0～100％正比對應C掃灰度圖像中0～255灰度值。
4.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于：在步驟(2)中，采用如下方法確定檢測靈敏度：
將超聲發射探頭和超聲接收探頭對準被檢件厚度最薄處，調節超聲波探傷儀的dB值，使得穿透波波高幅值為80％～100％，則該dB值為檢測靈敏度。
5.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于：所述檢測方法為噴水式超聲穿透法。
6.根據權利要求5所述的檢測方法，其特征在于：所述步驟(1)按照如下方式進行：
根據被檢件的外形，規劃超聲發射探頭和超聲接收探頭的掃查路徑，確保超聲發射探頭和超聲接收探頭到構件表面的距離均為：0.5～1.5N，N為超聲發射探頭的近場長度。
7.根據權利要求6所述的檢測方法，其特征在于：所述近場長度N根據超聲發射探頭發射的超聲波波長和探頭晶片直徑確定。
8.根據權利要求7所述的檢測方法，其特征在于：所述近場長度N按照如下公式確定：其中，D為探頭晶片直徑，λ為超聲波波長。
9.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于：所述變厚度材料為復合材料。
10.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于：所述變厚度材料為單一材料。
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