[發明專利]波形數據處理裝置及波形數據處理方法有效
| 申請號： | 201810333776.3 | 申請日： | 2013-10-04 |
| 公開（公告）號： | CN108508124B | 公開（公告）日： | 2020-06-16 |
| 發明（設計）人： | 小澤弘明 | 申請（專利權）人： | 株式會社島津制作所 |
| 主分類號： | G01N30/86 | 分類號： | G01N30/86 |
| 代理公司： | 北京中原華和知識產權代理有限責任公司 11019 | 代理人： | 壽寧;張華輝 |
| 地址： | 日本京都府京都*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 波形 數據處理 裝置 方法 | ||
1.一種波形數據處理裝置，可訪問存儲裝置，其中所述存儲裝置一起存儲有測定波形的數據、基于試料測定裝置所獲取的測定波形的數據而預先提取的所述測定波形上所存在的波峰相關的信息、包含所述測定波形上所存在的多個相接近的波峰的波峰群的開始點及結束點的信息、所述波峰群中所含的各波峰的位置及所述各波峰的正負方向相關的信息，所述波形數據處理裝置的特征在于，包括：
基線確定元件，基于所述存儲裝置中所存儲的所述數據及所述信息，確定所述波峰群的基線，
所述基線確定元件執行：
當連結所述波峰群的開始點與結束點的線段與所述測定波形兩者之間存在4個以上的交點，并且在所述交點中夾于鄰接的兩個交點之間的所述波峰群的測定波形上的區域中的至少一個區域不含峰頂時，判定為所述線段滿足修正條件，其中所述交點包括所述線段的開始點及結束點，
所述線段不滿足所述修正條件的情況下，確定所述線段作為所述波峰群的基線，
所述線段滿足所述修正條件的情況下，求出滿足以下所有條件的最短的折線，將所述折線確定為所述波峰群的基線：
(1)在正波峰連續的區域內，基線穿過測定波形的下側，成為直線或向下凸出的折線；
(2)在負波峰連續的區域內，基線穿過測定波形的上側，成為直線或向上凸出的折線；以及
(3)在正負波峰鄰接的區域內，基線的形狀不受測定波形的影響。
2.一種波形數據處理方法，利用存儲裝置一起存儲有測定波形的數據、基于試料測定裝置所獲取的測定波形的數據而預先提取的所述測定波形上所存在的波峰相關的信息、包含所述測定波形上所存在的多個相接近的波峰的波峰群的開始點及結束點的信息、所述波峰群中所含的各波峰的位置及所述各波峰的正負方向相關的信息，所述波形數據處理方法的特征在于，包括：
基線確定步驟，基于所述存儲裝置中所存儲的所述數據及所述信息，確定所述波峰群的基線，
于所述基線確定步驟中：
當連結所述波峰群的開始點與結束點的線段與所述測定波形兩者之間存在4個以上的交點，并且在所述交點中夾于鄰接的兩個交點之間的所述波峰群的測定波形上的區域中的至少一個區域不含峰頂時，判定為所述線段滿足修正條件，其中所述交點包括所述線段的開始點及結束點，
所述線段不滿足所述修正條件的情況下，確定所述線段作為所述波峰群的基線，
所述線段滿足所述修正條件的情況下，求出滿足以下所有條件的最短的折線，將所述折線確定為所述波峰群的基線：
(1)在正波峰連續的區域內，基線穿過測定波形的下側，成為直線或向下凸出的折線；
(2)在負波峰連續的區域內，基線穿過測定波形的上側，成為直線或向上凸出的折線；以及
(3)在正負波峰鄰接的區域內，基線的形狀不受測定波形的影響。
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