[發(fā)明專利]一種三維矢量方向圖獲取方法以及平面近場天線測量方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810333234.6
• 申請日: 2018-04-13
• 公開（公告）號: CN108872722B
• 公開（公告）日: 2020-03-24
• 發(fā)明（設計）人: 袁浩波;吳征國;周虹光;侯建強
• 申請（專利權）人: 西安電子科技大學
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10
• 代理公司: 北京眾達德權知識產(chǎn)權代理有限公司 11570
• 代理人: 劉杰

1.一種三維矢量方向圖獲取方法，其特征在于，包括：

獲取測量探頭的剖分幾何模型；

基于所述剖分幾何模型，基于奈奎斯特定理，在測量探頭的近區(qū)球面上選取采樣測量點；

采用高階基函數(shù)展開剖分幾何模型的導線和導體面片上的電流分布，獲得電磁場的積分方程；

將所述積分方程轉化為矩陣方程求解電流展開系數(shù)；

基于所述電流展開系數(shù)計算采樣測量點處的電場分布；

基于所述電場分布，采用球面近遠場變換得到測量探頭的遠場任意點的三維矢量方向圖；

其中，相鄰的所述采樣測量點之間的間隔小于等于0.5倍的波長。

2.如權利要求1所述的三維矢量方向圖獲取方法，其特征在于，所述獲取測量探頭的剖分幾何模型包括：

對測量探頭在兩個相互垂直的方向上進行剖分。

3.如權利要求2所述的三維矢量方向圖獲取方法，其特征在于：進行剖分時，剖分面片的形狀為矩形。

4.如權利要求3所述的三維矢量方向圖獲取方法，其特征在于：所述剖分面片的邊長小于0.5倍的波長。

5.一種探頭補償方法，其特征在于：基于權利要求1～4任一項所述的三維矢量方向圖獲取方法得到測量探頭的三維矢量方向圖對測量探頭的測量值進行補償。

6.一種平面近場天線測量方法，其特征在于，基于權利要求5所述的探頭補償方法，并執(zhí)行以下步驟：

在平面近場測量系統(tǒng)中安置待測量天線和測量探頭；

進行掃描測量，獲取近場數(shù)據(jù)；

采用平面近遠場變換算法轉換得到初級測量數(shù)據(jù)；

基于測量探頭的三維矢量方向圖對所述初級測量數(shù)據(jù)進行補償，得到待測天線的遠場方向圖。