[發明專利]存儲芯片兼容性測試方法、系統和測試主機

有效

• 申請號: 201810332396.8
• 申請日: 2018-04-13
• 公開（公告）號: CN108519938B
• 公開（公告）日: 2021-12-28
• 發明（設計）人: 廖博倫
• 申請（專利權）人: 珠海全志科技股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/26
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 司佩杰;李雙皓

1.一種存儲芯片兼容性測試系統，其特征在于，所述系統包括：測試主機、與所述測試主機連接的被測系統、以及與所述測試主機和所述被測系統連接的測試板，其中，

測試主機用于檢測當前的測試芯片的兼容性測試是否完成，若完成，則檢測測試板上安裝的所有存儲芯片是否測試完畢，在檢測到當前的測試芯片的兼容性測試完成，且測試板上包括待測存儲芯片時，向所述測試板發送切換指令，并向所述被測系統發送測試指令；

測試板包括至少一片存儲芯片，所述測試板還包括模擬開關單元、分別與所述模擬開關單元和所述被測系統連接的信號連接器、以及分別與所述模擬開關單元和所述測試主機連接的控制器，其中，控制器用于接收所述測試主機發送的切換指令，根據所述切換指令生成相應的控制指令并發送至所述模擬開關單元；模擬開關單元用于接收所述控制指令，根據所述控制指令斷開與當前的測試芯片的連接，并連接測試板上的一片待測存儲芯片作為測試芯片；信號連接器用于通過模擬開關單元將被測系統與測試芯片連接，以執行所述測試指令中的測試任務；所述模擬開關單元為多路復用模擬開關芯片，所述多路復用模擬開關芯片的輸入連接最多8個存儲芯片；

被測系統用于接收所述測試主機發送的測試指令，根據所述測試指令對所述測試芯片執行兼容性測試的測試任務，并反饋測試數據至所述測試主機。

2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述測試主機還用于獲取輸入的測試內容和測試次數；根據所述測試內容和所述測試次數生成測試指令。

3.根據權利要求2所述的系統，其特征在于，所述測試板還包括：與輸入電源連接的電源轉換單元、分別與所述電源轉換單元、所述控制器、所述被測系統連接的繼電器，其中，

電源轉換單元用于將輸入電源分別轉換為所述測試板和所述被測系統的工作電源；

控制器還用于在接收到切換指令時，生成斷電指令并發送至所述繼電器，在連接測試板上的一片待測存儲芯片作為測試芯片后，生成供電指令并發送至所述繼電器；

所述繼電器用于在接收到所述斷電指令時斷開，在接收到所述供電指令時閉合。

4.根據權利要求3所述的系統，其特征在于，所述控制器還用于檢測所述測試板或所述被測系統是否掉電，若是則生成上電指令，所述上電指令用于指示所述電源轉換單元執行上電操作，并檢測所述測試板和所述被測系統的工作電源是否正常，若是則生成供電正常信息并發送至所述測試主機。

5.一種存儲芯片兼容性測試方法，其特征在于，所述方法應用于如權利要求1-4任一項所述的存儲芯片兼容性測試系統，所述方法包括：

測試主機檢測當前的測試芯片的兼容性測試是否完成，若完成，則檢測測試板上安裝的所有存儲芯片是否測試完畢，若否，則向所述測試板發送切換指令，所述切換指令用于指示所述測試板斷開當前的測試芯片與被測系統的連接，并將所述測試板上的一片待測存儲芯片作為測試芯片與所述被測系統連接；

測試板通過控制器接收所述切換指令，并根據所述切換指令生成相應的控制指令并發送至所述模擬開關單元；通過模擬開關單元接收所述控制指令，根據所述控制指令斷開被測系統與當前的測試芯片的連接，并連接測試板上的一片待測存儲芯片作為測試芯片和被測系統連接；根據所述切換指令斷開當前的測試芯片與所述被測系統的連接，并將所述測試板上的一片待測存儲芯片作為測試芯片與所述被測系統連接；所述模擬開關單元為多路復用模擬開關芯片，所述多路復用模擬開關芯片的輸入連接最多8個存儲芯片；

測試主機向所述被測系統發送測試指令，所述測試指令用于指示所述被測系統對所述測試芯片執行兼容性測試的測試任務；

被測系統接收所述測試指令，根據所述測試指令對所述測試芯片執行兼容性測試的測試任務，并反饋測試數據至所述測試主機。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述測試板接收所述切換指令，根據所述切換指令斷開當前的測試芯片與所述被測系統的連接，并將所述測試板上的一片待測存儲芯片作為測試芯片與所述被測系統連接，包括：

控制器接收所述切換指令，根據所述切換指令生成相應的控制指令并發送至模擬開關單元；

所述模擬開關單元接收所述控制指令，并根據所述控制指令斷開與當前的測試芯片的連接，連接測試板上的一片待測存儲芯片作為測試芯片。