[發(fā)明專(zhuān)利]滑臺(tái)式發(fā)射率測(cè)試裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810328152.2 | 申請(qǐng)日: | 2018-04-09 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108362385A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-08-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李文軍;王瀟楠 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中國(guó)計(jì)量大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01J5/00 | 分類(lèi)號(hào): | G01J5/00 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 310018 浙江省杭州市*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 發(fā)射率 測(cè)試裝置 滑臺(tái)式 環(huán)形夾 平移 表面單元 可選的 工作溫度區(qū)間 垂直放置 紅外測(cè)溫 樣品放置 環(huán)口 測(cè)量 | ||
本發(fā)明涉及滑臺(tái)式發(fā)射率測(cè)試裝置,包括X電機(jī),X軸,X平移臺(tái),樣品,Y電機(jī),Y軸,Y平移臺(tái),環(huán)形夾。所述X電機(jī)、X軸和X平移臺(tái)組成一個(gè)整體,位于底部,所述樣品放置于X平移臺(tái)上,所述Y電機(jī)、Y軸、Y平移臺(tái)和環(huán)形夾組成一個(gè)整體,垂直放置于X平移臺(tái)上方,環(huán)形夾的環(huán)口恰好位于樣品的正上方。本發(fā)明通過(guò)設(shè)計(jì)滑臺(tái)式發(fā)射率測(cè)試裝置,能夠在紅外測(cè)溫技術(shù)領(lǐng)域提供比較廣泛的發(fā)射率區(qū)間,并提供連續(xù)可選的表面單元,可選的表面單元在工作溫度區(qū)間內(nèi)有連續(xù)穩(wěn)定的發(fā)射率,還可直接得到特定發(fā)射率,提高測(cè)量發(fā)射率的精度,小巧簡(jiǎn)單,操作方便。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及儀器儀表領(lǐng)域,尤其涉及發(fā)射率測(cè)試裝置。
背景技術(shù)
發(fā)射率作為一項(xiàng)能夠表征材料輻射能力的熱物性參數(shù),在很多高科技領(lǐng)域中都有著不可替代的作用。一方面,準(zhǔn)確的發(fā)射率數(shù)據(jù)與紅外技術(shù)等基礎(chǔ)研究息息相關(guān)。另一方面,發(fā)射率的研究在工業(yè)、軍事、航空航天等工程技術(shù)領(lǐng)域有著寶貴的研究?jī)r(jià)值。
在測(cè)溫過(guò)程中,為了先確定表面發(fā)射率,常用輔助方法是采用發(fā)射率已知的物體作為參考物。然而目前得到的發(fā)射率只能是單一或幾個(gè)數(shù)值,不能得到近似從0到1連續(xù)的一系列數(shù)值,不能直接得到特定的發(fā)射率,勞動(dòng)量大,十分不便。
現(xiàn)階段對(duì)于發(fā)射率測(cè)試的裝置不是很多,現(xiàn)技術(shù)有三個(gè)缺點(diǎn),一是測(cè)溫區(qū)間不夠?qū)挘荒芙茝?到1;二是在工作溫度區(qū)間內(nèi),參考物體發(fā)射率是一個(gè)定值或區(qū)域值,不能連續(xù)調(diào)節(jié);三是不能直接得到特定發(fā)射率,使測(cè)量發(fā)射率精度受到影響。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是為了克服現(xiàn)有發(fā)射率測(cè)試裝置的不足,提供了滑臺(tái)式發(fā)射率測(cè)試裝置。
本發(fā)明包括X電機(jī),X軸,X平移臺(tái),樣品,Y電機(jī),Y軸,Y平移臺(tái),環(huán)形夾。所述X電機(jī)、X軸和X平移臺(tái)組成一個(gè)整體,位于底部,所述樣品放置于X平移臺(tái)上,所述Y電機(jī)、Y軸、Y平移臺(tái)和環(huán)形夾組成一個(gè)整體,垂直放置于X平移臺(tái)上方,環(huán)形夾的環(huán)口恰好位于樣品的正上方。
作為本發(fā)明的優(yōu)選技術(shù)方案,所述X電機(jī)通過(guò)X軸連接X(jué)平移臺(tái),X電機(jī)工作時(shí)通過(guò)X軸的轉(zhuǎn)動(dòng)控制X平移臺(tái)在X軸方向左右移動(dòng)。
作為本發(fā)明的優(yōu)選技術(shù)方案,所述樣品為對(duì)稱(chēng)式深度連續(xù)漸變空腔陣列,作為發(fā)射率參考物。
作為本發(fā)明的優(yōu)選技術(shù)方案,所述Y電機(jī)通過(guò)Y軸連接Y平移臺(tái),Y電機(jī)工作時(shí)通過(guò)Y軸的轉(zhuǎn)動(dòng)控制Y平移臺(tái)在Y軸方向上下移動(dòng)。
作為本發(fā)明的優(yōu)選技術(shù)方案,所述環(huán)形夾被固定在Y平移臺(tái)表面中心處,環(huán)口恰好位于樣品的正上方。
本發(fā)明通過(guò)設(shè)計(jì)滑臺(tái)式發(fā)射率測(cè)試裝置,能夠在紅外測(cè)溫技術(shù)領(lǐng)域提供比較廣泛的發(fā)射率區(qū)間,并提供連續(xù)可選的表面單元,可選的表面單元在工作溫度區(qū)間內(nèi)有連續(xù)穩(wěn)定的發(fā)射率,還可直接得到特定發(fā)射率,提高測(cè)量發(fā)射率的精度,小巧簡(jiǎn)單,操作方便。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2為本發(fā)明底部的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖中:1.X電機(jī);2.X軸;3.X平移臺(tái);4.樣品;5.Y電機(jī);6.Y軸;7.Y平移臺(tái);8.環(huán)形夾。
具體實(shí)施方式
為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白,以下結(jié)合附圖及實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解,此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明,并不用于限定本發(fā)明。
請(qǐng)參閱圖1,圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
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