[發(fā)明專利]一種用于檢測微納光纖直徑的傳感器及其制作方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810326884.8 | 申請日： | 2018-04-12 |
| 公開（公告）號： | CN108426533B | 公開（公告）日： | 2020-11-24 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 劉彬;梁紅勤;劉娟;萬生鵬;何興道;李國琴 | 申請（專利權(quán)）人： | 南昌航空大學(xué) |
| 主分類號： | G01B11/08 | 分類號： | G01B11/08 |
| 代理公司： | 南昌市平凡知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 36122 | 代理人： | 張文杰 |
| 地址： | 330063 江*** | 國省代碼： | 江西;36 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 用于 檢測 光纖 直徑 傳感器 及其 制作方法 | ||
1.一種用于檢測微納光纖直徑的傳感器，其特征在于：所述傳感器包括寬帶光源、第一連接光纖、D型光纖、第二連接光纖和光譜分析儀；所述寬帶光源、所述第一連接光纖、所述D型光纖、所述第二連接光纖和所述光譜分析儀依次連接；
所述D型光纖為單模光纖，是通過將光纖沿軸向切除包層形成截面為D型拋磨面的光纖結(jié)構(gòu)，所述D型光纖中，D型拋磨面與纖芯的最短垂直距離為0～2μm，所述微納光纖與所述D型拋磨面的平坦區(qū)域接觸；所述微納光纖的直徑為1～130μm；
所述D型光纖的拋磨面的倏逝波耦合到所述微納光纖中后形成WGM共振，得到WGM光譜圖，根據(jù)公式自由光譜范圍≈λ2/πDneff計算微納光纖的直徑，其中，neff＝1.4378,λ為波長，D為微納光纖直徑。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于檢測微納光纖直徑的傳感器，其特征在于：所述第一連接光纖和所述第二連接光纖為單模光纖。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于檢測微納光纖直徑的傳感器，其特征在于：所述微納光纖通過將單模光纖拉錐制備得到。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于檢測微納光纖直徑的傳感器，其特征在于：所述微納光纖通過將多模光纖拉錐制備得到。
5.一種制作權(quán)利要求1～4任一項用于檢測微納光纖直徑的傳感器的方法，其特征在于，包括以下步驟：
A、首先在單模光纖中間位置沿軸向切除包層形成截面為D型拋磨面的光纖結(jié)構(gòu)，制備得到D型光纖，所述D型光纖兩端分別為第一連接光纖和第二連接光纖，將單模光纖或多模光纖進行拉錐，制備得到微納光纖；
B、再將所述D型光纖懸空固定在載玻片表面，在所述D型拋磨面平坦區(qū)域放置所述微納光纖，通過定位臺控制所述D型光纖拋磨面平坦區(qū)域與所述微納光纖接觸，直到在D型光纖的透射光譜中清楚觀察到光學(xué)回音壁共振，以達到最大的光耦合效率；
C、最后所述第一連接光纖與寬帶光源連接，所述第二連接光纖與光譜分析儀連接，使所述寬帶光源發(fā)出的光依次通過所述第一連接光纖、與所述微納光纖接觸的所述D型光纖和所述第二連接光纖，入射到所述光譜分析儀上。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種用于檢測微納光纖直徑的傳感器的制作方法，其特征在于：所述D型光纖中，D型拋磨面與纖芯的最短垂直距離為0～2μm。
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