[發明專利]一種四工位光模塊測試系統

在審

• 申請號: 201810322741.X
• 申請日: 2018-04-11
• 公開（公告）號: CN108494482A
• 公開（公告）日: 2018-09-04
• 發明（設計）人: 許德玉
• 申請（專利權）人: 武漢普賽斯電子技術有限公司
• 主分類號: H04B10/079
• 分類號: H04B10/079
• 代理公司: 上海精晟知識產權代理有限公司 31253
• 代理人: 馮子玲

1.一種四工位光模塊測試系統，包括上位機和作為下位機的用于測試四工位光模塊測試的DUT測試板，其特征在于：所述上位機為具有獲取及處理所述DUT測試板測試信息的裝置，所述下位機還包括用于對誤碼率進行測試分析的機箱、光分路器、光功率計、光譜儀和示波器；

所述機箱連接DUT測試板，所述DUT測試板和光分路器連接，所述光分路器分別和光功率計、光譜儀、示波器連接，實現模塊發射參數的測試系統；

所述上位機通過通訊接口分別和第一機箱、第二機箱連接，所述上位機通過接口總線分別和光分路器、光功率計、光譜儀、示波器連接，DUT測試板和機箱連接，實現模塊接收參數以及控制反饋的測試系統；

其中，所述機箱對應連接DUT測試板上第一工位、第二工位、第三工位和第四工位的光模塊。

2.根據權利要求1所述的一種四工位光模塊測試系統，其特征在于：所述光功率計設置在機箱內。

3.根據權利要求1所述的一種四工位光模塊測試系統，其特征在于：所述機箱內模塊化設置有第一誤碼儀、第二誤碼儀、第三誤碼儀、第四誤碼儀和第五誤碼儀，所述第一誤碼儀為電口誤碼儀，所述第二誤碼儀、第三誤碼儀、第四誤碼儀和第五誤碼儀并分別對應連接DUT測試板上第一工位、第二工位、第三工位和第四工位的光模塊。

4.根據權利要求3所述的一種四工位光模塊測試系統，其特征在于：所述機箱內還設置有分別與第二誤碼儀、第三誤碼儀、第四誤碼儀、第五誤碼儀對應連接的DOA模塊。

5.根據權利要求1所述的一種四工位光模塊測試系統，其特征在于：所述DUT測試板上一體化設置有數字電源。

6.根據權利要求1所述的一種四工位光模塊測試系統，其特征在于：所述光分路器為1分8光分路器。

7.根據權利要求1所述的一種四工位光模塊測試系統，其特征在于：所述光分路器包括按照模塊發射參數的路徑依次連接的光開關、第一分光計和第二分光計，所述第一分光計還連接光功率計，所述第二分光計還分別連接有光譜儀和示波器。

8.根據權利要求7所述的一種四工位光模塊測試系統，其特征在于：所述光開關為1:4光開關，所述第一分光計為50:50分光計，所述第二分光計為10:90分光計。

9.根據權利要求1所述的一種四工位光模塊測試系統，其特征在于：所述示波器采用競爭機制使用，具體為，當信道選擇首次發生信道競爭時，設置一個競爭優先級隊列，優先級次序由測試信號到達的時間快慢決定，時間越快，競爭優先級越大，優先級最大的進行測試，其余測試信號按優先級順序進行排隊等候。