[發(fā)明專利]半導(dǎo)體工藝設(shè)備及半導(dǎo)體器件的制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810322628.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-04-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110364450B | 公開(公告)日: | 2021-04-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊維軍;馬彪;黃凌燕 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中芯國(guó)際集成電路制造(上海)有限公司;中芯國(guó)際集成電路制造(北京)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/67 | 分類號(hào): | H01L21/67 |
| 代理公司: | 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李時(shí)云 |
| 地址: | 201203 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 工藝設(shè)備 半導(dǎo)體器件 制造 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體工藝設(shè)備,其特征在于,包括:
反應(yīng)腔;
晶圓承載基座,設(shè)置在所述反應(yīng)腔中,用于承載晶圓;
加熱燈組,設(shè)置在所述反應(yīng)腔中,并位于所述晶圓承載基座的上方;
可調(diào)燈座,設(shè)置在所述反應(yīng)腔外或者所述反應(yīng)腔中,用于將所述加熱燈組裝配到所述反應(yīng)腔中,并調(diào)節(jié)所述加熱燈組射出的光相對(duì)所述晶圓表面的入射角度;所述可調(diào)燈座包括控制器、電動(dòng)機(jī)、傳動(dòng)絲桿以及俯仰調(diào)節(jié)組件;所述控制器用于控制電動(dòng)機(jī)工作;所述俯仰調(diào)節(jié)組件與所述加熱燈組裝配在一起;所述傳動(dòng)絲桿的一側(cè)連接到所述電動(dòng)機(jī)的轉(zhuǎn)軸上,另一側(cè)活動(dòng)連接所述俯仰調(diào)節(jié)組件,用于在所述電動(dòng)機(jī)的驅(qū)動(dòng)下帶動(dòng)所述俯仰調(diào)節(jié)組件運(yùn)動(dòng);所述俯仰調(diào)節(jié)組件用于在所述傳動(dòng)絲桿的帶動(dòng)下帶動(dòng)所述加熱燈組運(yùn)動(dòng),改變加熱燈組的出光面和所述晶圓表面之間的夾角,以調(diào)節(jié)所述加熱燈組射出的光相對(duì)所述晶圓表面的入射角度;
加熱罩組,設(shè)置在所述加熱燈組與所述晶圓承載基座之間的反應(yīng)腔空間中,用于將所述加熱燈組射出的燈光反射并聚焦于晶圓表面上,且所述加熱燈組直射到晶圓表面上的光線和經(jīng)由所述加熱罩組反射的光線的交叉點(diǎn)落在晶圓表面上。
2.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體工藝設(shè)備,其特征在于,所述俯仰調(diào)節(jié)組件包括連接組件以及支撐組件,所述連接組件一側(cè)與所述加熱燈組固定連接,另一側(cè)與所述傳動(dòng)絲桿螺紋連接,所述支撐組件的一側(cè)與所述反應(yīng)腔固定連接,另一側(cè)與所述連接組件轉(zhuǎn)動(dòng)連接。
3.如權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體工藝設(shè)備,其特征在于,所述支撐組件與所述連接組件轉(zhuǎn)動(dòng)連接的一端為球頂,所述連接組件中設(shè)有與所述球頂曲面接觸的弧形凹坑;或者,所述支撐組件與所述連接組件轉(zhuǎn)動(dòng)連接的一端為弧形凹坑,所述連接組件中設(shè)有與所述弧形凹坑曲面接觸的球頂;或者,所述支撐組件與所述連接組件轉(zhuǎn)動(dòng)連接的一端設(shè)有軸栓孔,所述連接組件中設(shè)有插在所述軸栓孔中的軸栓;或者,所述支撐組件與所述連接組件轉(zhuǎn)動(dòng)連接的一端設(shè)有軸栓,所述連接組件中設(shè)有插入所述軸栓的軸栓孔;或者,所述連接組件中設(shè)有轉(zhuǎn)軸,所述支撐組件中設(shè)有夾持所述轉(zhuǎn)軸并使得所述轉(zhuǎn)軸能夠轉(zhuǎn)動(dòng)的夾持塊。
4.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體工藝設(shè)備,其特征在于,所述半導(dǎo)體工藝設(shè)備還包括一用于設(shè)置所述反應(yīng)腔的工藝參數(shù)的控制主機(jī),所述控制器連接到所述反應(yīng)腔的控制主機(jī)上或者直接集成到所述控制主機(jī)中,所述控制器用于根據(jù)所述控制主機(jī)的設(shè)置參數(shù)產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)所述電動(dòng)機(jī)工作的信號(hào)。
5.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體工藝設(shè)備,其特征在于,所述電動(dòng)機(jī)為步進(jìn)電機(jī)或者伺服電機(jī)。
6.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體工藝設(shè)備,其特征在于,所述加熱罩包括相對(duì)設(shè)置的內(nèi)加熱罩和外加熱罩,所述內(nèi)加熱罩設(shè)置在靠近所述反應(yīng)腔中心的一側(cè),所述外加熱罩設(shè)置在靠近所述反應(yīng)腔的側(cè)壁的一側(cè)。
7.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體工藝設(shè)備,其特征在于,所述加熱燈組包括內(nèi)燈以及設(shè)置在所述內(nèi)燈的外圍的外燈。
8.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體工藝設(shè)備,其特征在于,所述半導(dǎo)體工藝設(shè)備還包括設(shè)置于所述反應(yīng)腔中且位于所述反應(yīng)腔頂部的反射盤。
9.如權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體工藝設(shè)備,其特征在于,所述反射盤呈環(huán)形,所述加熱燈組的數(shù)量為若干個(gè),各個(gè)加熱燈組通過(guò)相應(yīng)的可調(diào)燈座沿所述反射盤依次安裝到所述反應(yīng)腔上或者直接安裝在所述反射盤上,若干個(gè)所述加熱燈組沿所述反射盤的環(huán)形均勻分布并面向所述晶圓表面。
10.一種半導(dǎo)體器件的制造方法,其特征在于,包括:采用權(quán)利要求1至9中任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體工藝設(shè)備,在一襯底晶圓的表面上形成一膜層。
11.如權(quán)利要求10所述的半導(dǎo)體器件的制造方法,其特征在于,所述膜層包括多晶硅、鍺硅和碳硅中的至少一種。
12.如權(quán)利要求10所述的半導(dǎo)體器件的制造方法,其特征在于,在形成所述膜層的過(guò)程中,實(shí)時(shí)調(diào)整所述可調(diào)燈座,以調(diào)節(jié)所述加熱燈組射出的光相對(duì)所述襯底晶圓表面的入射角度,使得所述加熱罩組能夠?qū)⑺黾訜釤艚M射出的光反射并聚焦于所述襯底晶圓表面上的相應(yīng)位置,且所述加熱燈組直射到晶圓表面上的光線和經(jīng)由所述加熱罩組反射的光線的交叉點(diǎn)落在晶圓表面上。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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