[發(fā)明專利]瓷磚檢測系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810318320.X
• 申請日: 2018-04-11
• 公開（公告）號: CN108318495A
• 公開（公告）日: 2018-07-24
• 發(fā)明（設計）人: 陳丹;潘云峰;池志強;鄧斌攸;何曉昀;蘇真?zhèn)?/a>;張湘?zhèn)?/a>
• 申請（專利權）人: 廣東理工學院
• 主分類號: G01N21/89
• 分類號: G01N21/89;G01B11/00;G01B11/04
• 代理公司: 北京超凡志成知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 逯恒

1.一種瓷磚檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述瓷磚檢測系統(tǒng)包括：

圖像傳感器，用于接觸待檢測的瓷磚以檢測瓷磚；

與所述圖像傳感器連接的圖像采集設備；

與所述圖像采集設備連接的處理設備；

使用時，所述圖像傳感器與待檢測的瓷磚接觸以獲取待檢測的所述瓷磚的檢測數(shù)據(jù)，所述圖像采集設備獲取所述圖像傳感器得到的檢測數(shù)據(jù)，并將所述檢測數(shù)據(jù)傳輸給所述處理設備處理。

2.如權利要求1所述的瓷磚檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述瓷磚檢測系統(tǒng)還包括：

傳動結構，用于放置并傳輸待檢測的瓷磚；

所述圖像傳感器安裝在所述傳動結構上方，所述圖像傳感器與所述傳動結構的上表面設置預留距離。

3.如權利要求2所述的瓷磚檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述傳動結構包括支架、設置在所述支架上的多個滾筒；

所述多個滾筒并列設置。

4.如權利要求3所述的瓷磚檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述滾筒表設置有包裹層，所述包裹層與待檢測的所述瓷磚接觸，用于支撐待檢測的所述瓷磚。

5.如權利要求3所述的瓷磚檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述傳動結構垂直于所述滾筒的邊緣設置有擋板。

6.如權利要求2所述的瓷磚檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述傳動結構上設置有控制鈕，所述控制鈕包括多個檔位，每個檔位對應所述傳動結構的不同速度，所述控制鈕用于調整所述傳動結構的傳動速度。

7.如權利要求1所述的瓷磚檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述圖像傳感器是CMOS圖像傳感器。

8.如權利要求1所述的瓷磚檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述圖像傳感器的長度不小于待檢測的所述瓷磚的寬度，且所述圖像傳感器的長度與待檢測的所述瓷磚的寬度之差在預設誤差范圍內。

9.一種瓷磚檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述瓷磚檢測系統(tǒng)包括：

圖像傳感器，用于接觸待檢測的瓷磚以檢測瓷磚；

與所述圖像傳感器連接的處理設備；

傳動結構，用于放置并傳輸待檢測的瓷磚；

所述圖像傳感器安裝在所述傳動結構上方，所述圖像傳感器與所述傳動結構的上表面設置預留距離；

使用時，所述圖像傳感器與待檢測的瓷磚接觸以獲取待檢測的所述瓷磚的檢測數(shù)據(jù)，并將所述檢測數(shù)據(jù)傳輸給所述處理設備處理。

10.如權利要求9所述的瓷磚檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述瓷磚檢測系統(tǒng)還包括：

與所述圖像傳感器連接的圖像采集設備；

使用時，所述圖像傳感器與待檢測的瓷磚接觸以獲取待檢測的所述瓷磚的檢測數(shù)據(jù)，所述圖像采集設備獲取所述圖像傳感器得到的檢測數(shù)據(jù)，并將所述檢測數(shù)據(jù)傳輸給所述處理設備處理。