[發(fā)明專利]FOD缺口型損傷的疲勞性能預測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810315065.3 | 申請日: | 2018-04-10 |
| 公開(公告)號: | CN108693030B | 公開(公告)日: | 2019-11-29 |
| 發(fā)明(設計)人: | 宋迎東;萬煜瑋;胡緒騰;賈旭;吳娜 | 申請(專利權)人: | 南京航空航天大學 |
| 主分類號: | G01N3/08 | 分類號: | G01N3/08 |
| 代理公司: | 32249 南京瑞弘專利商標事務所(普通合伙) | 代理人: | 陳國強<國際申請>=<國際公布>=<進入 |
| 地址: | 210016 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 損傷 疲勞性能預測 形貌 預測 疲勞性能 小缺口 宏觀 疲勞 材料參數(shù) 分析計算 觀測工具 疲勞條件 相關參數(shù) 形貌特征 預測計算 元模型 參量 構建 疊加 測量 觀測 | ||
本發(fā)明提供了一種FOD缺口型損傷的疲勞性能預測方法,包括如下步驟:(1)確定FOD缺口型損傷的宏觀尺寸:通過觀測工具,觀測FOD缺口型損傷的形貌特征,測量FOD缺口損傷的宏觀尺寸;(2)確定假設小缺口的尺寸形貌及位置:基于步驟(1)得到的FOD缺口型損傷的宏觀尺寸及形貌,確定假設小缺口的幾何尺寸及其相對于FOD缺口損傷的位置;(3)確定疲勞預測的相關參數(shù):依據(jù)所預測的疲勞參量及其疲勞條件,確定所對應的材料參數(shù)及預測方法;(4)開展疲勞性能的預測計算:以疊加缺口模型為基礎,構建有限元模型進行分析計算,進而依據(jù)計算結果預測FOD缺口型損傷的疲勞性能。本發(fā)明提高了FOD缺口型損傷的疲勞性能預測精度。
技術領域
本發(fā)明屬于疲勞預測方法技術領域,針對FOD缺口型損傷,提出一種以具有假設小缺口(次要缺口)的疊加缺口為預測模型的疲勞性能預測方法。
背景技術
外物損傷(Foreign Object Damage,簡稱FOD),又稱硬物損傷,主要是因工作環(huán)境中的硬物,如砂石、金屬碎屑等,對發(fā)動機內部部件造成沖擊從而產生。因外界環(huán)境的限制,航空發(fā)動機的FOD事件幾乎無法避免,風扇/壓氣機葉片經常因FOD損傷而需要維修、更換,甚至可能導致飛行事故。因此,為保證葉片在FOD后能繼續(xù)穩(wěn)定地工作,降低維修成本,需重點研究FOD損傷葉片的疲勞性能及強度,因此,發(fā)展FOD損傷葉片疲勞性能的準確預測方法是十分必要的。
據(jù)外場統(tǒng)計,F(xiàn)OD宏觀特征上多表現(xiàn)為缺口、撕裂、凹坑等形式,其中,以缺口型損傷為主要形式。因此,當前FOD損傷的相關問題研究中,多以加工缺口的疲勞性能預測方法來對FOD損傷開展疲勞性能的預測研究和分析。
但由于在實際的沖擊過程中,F(xiàn)OD缺口型損傷的形狀往往較為復雜,不能以單一的缺口形狀或特征來進行描述。更為重要的是,F(xiàn)OD缺口損傷表面的輪廓凹凸不平,存在肉眼或簡單儀器難以觀測的微觀缺陷及細小裂紋,其對疲勞性能的影響是顯著的,但卻很難以加工缺口的形式表征出來。因此,依據(jù)加工缺口的疲勞性能預測方法往往很難到達預期的精度要求。相關的工程實踐也表明:傳統(tǒng)的缺口疲勞性能預測法(如應力集中系數(shù),臨界距離理論)在FOD缺口型損傷的預測結果上存在較大誤差,無法滿足工程設計的需要。
目前,國內尚無準確的FOD缺口型損傷疲勞性能預測方法。
發(fā)明內容
為彌補傳統(tǒng)的缺口疲勞預測方法在FOD疲勞預測上的精度不足,本發(fā)明的目的是提出一種FOD缺口型損傷的疲勞性能預測方法,通過疊加缺口的修正模型,以假設小缺口來替代FOD損傷的不規(guī)則輪廓和微觀缺陷,從而將其對疲勞性能的影響引入模型的分析計算中,進而提高FOD缺口型損傷疲勞性能的預測精度。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用的技術方案是:
一種FOD缺口型損傷的疲勞性能預測方法,包括如下步驟:
(1)確定FOD缺口型損傷的宏觀尺寸:通過觀測工具,觀測FOD缺口型損傷的形貌特征,測量FOD缺口損傷的宏觀尺寸;
(2)確定假設小缺口的尺寸形貌及位置:基于步驟(1)得到的FOD缺口型損傷的宏觀尺寸及形貌,確定假設小缺口的幾何尺寸及其相對于FOD缺口損傷的位置;
(3)確定疲勞預測的相關參數(shù):依據(jù)所需預測的疲勞參量及其疲勞條件,采用現(xiàn)有技術的方法,確定所對應的材料參數(shù)及預測方法;
(4)開展疲勞性能的預測計算:以疊加缺口模型為基礎,構建有限元模型進行分析計算,進而依據(jù)計算結果預測FOD缺口型損傷的疲勞性能。
所述步驟(1)中,觀測工具為光學顯微鏡。
所述步驟(1)中,F(xiàn)OD缺口型損傷的宏觀測量尺寸包括缺口深度H、缺口寬度L以及缺口底部半徑R。
所述步驟(1)中,F(xiàn)OD缺口型損傷入射和出射兩側的宏觀尺寸作平均處理。
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