[發明專利]一種3D光學尺寸檢測儀及光學尺寸檢測系統

在審

• 申請號: 201810313728.8
• 申請日: 2018-04-09
• 公開（公告）號: CN108489390A
• 公開（公告）日: 2018-09-04
• 發明（設計）人: 陳盈運;李波;林嵐云
• 申請（專利權）人: 遼寧昭融瑞合工業數據有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 王暉

本發明提供了一種3D光學尺寸檢測儀及光學尺寸檢測系統，涉及尺寸檢測技術領域。檢測儀包括：底座、立柱、尺寸檢測裝置、控制器；底座設置有位移平臺，位移平臺可沿相互垂直的第一方向與第二方向移動，位移平臺具有容納腔，容納腔用于放置待測物；尺寸檢測裝置包括安裝外殼、設置于安裝外殼內的相機以及鏡頭、n個相對設置于容納腔側上方的鐳射測量儀以及鐳射測距儀，其中n為大于或等于2的偶數；安裝外殼設置于立柱，鐳射測量儀通過安裝件設置于立柱；控制器與尺寸檢測裝置以及檢測組件電均連接，且控制器被配置用于根據鐳射測量儀、相機以及鏡頭的測量結果計算得出待測物的3D尺寸。此檢測儀可提高測量精度，節約人工成本，提高工作效率。

技術領域

本發明涉及尺寸檢測技術領域，具體而言，涉及一種3D光學尺寸檢測儀及光學尺寸檢測系統。

背景技術

在生產過程中對產品的尺寸進行全面檢測，是管控產品質量的一道主要工序，現有技術提供了一種光學表面尺寸檢測儀，此光學表面檢測儀存在檢測精度低、工作效率低等問題。

發明內容

本發明的目的在于提供一種3D光學尺寸檢測儀，此3D光學尺寸檢測儀可有效地提高測量精度，節約人工成本，提高工作效率。

本發明的另一目的在于提供一種光學尺寸檢測系統，此光學尺寸檢測系統包括上述的3D光學尺寸檢測儀。此光學尺寸檢測系統可有效地提高測量精度，節約人工成本，提高工作效率。

本發明是這樣實現的：

一種3D光學尺寸檢測儀，包括：

底座，底座設置有位移平臺，位移平臺可沿相互垂直的第一方向與第二方向移動，位移平臺具有容納腔，容納腔用于放置待測物；

立柱，與底座垂直設置，且與底座活動連接；

尺寸檢測裝置，包括安裝外殼、從上至下依次設置于安裝外殼內的相機以及與相機電連接的鏡頭、n個相對設置于容納腔側上方的鐳射測量儀以及鐳射測距儀，其中n為大于或等于2的偶數；安裝外殼設置于立柱，并與立柱滑動連接，鐳射測量儀通過安裝件設置于立柱；

控制器，與尺寸檢測裝置以及檢測組件電均連接，且控制器被配置用于根據鐳射測量儀、相機以及鏡頭的測量結果計算得出待測物的3D尺寸。

進一步地，在本發明的較佳實施例中，鐳射測量儀的個數為兩個，且相對設置于容納腔的左上方與右上方，且通過安裝件固定于立柱，安裝件垂直于立柱設置。

進一步地，在本發明的較佳實施例中，立柱具有間隔設置的第一工位、第二工位以及第三工位，第二工位與安裝外殼位于同一水平線，第三工位與待測物位于同一水平線，第二工位位于第一工位與第三工位之間；

其中，鐳射測量儀在進行測量作業時，依次在第一工位、第二工位以及第三工位上進行測量，并輸出三次測量結果，控制器被配置為根據三次測量結果計算得到待測物的3D光學尺寸檢測儀。

進一步地，在本發明的較佳實施例中，鐳射測量儀包括測量殼體以及第一激光鐳射測量頭、第二激光鐳射測量頭以及第三激光鐳射測量頭，第一激光鐳射測量頭、第二激光鐳射測量頭以及第三激光鐳射測量頭集成于測量殼體，測量殼體通過安裝件固設于立柱；

其中，第一激光鐳射測量頭用于發射垂直向激光，第二激光鐳射測量頭用于發射水平向激光，第三激光鐳射測量頭用于向待測物方向發射激光。

進一步地，在本發明的較佳實施例中，尺寸檢測裝置的安裝外殼與立柱滑動連接，立柱具有滑動槽，安裝外殼具有與滑動槽匹配的滑動輥，滑動輥在滑動槽內滑動，使得尺寸檢測裝置與底座相對靠近或遠離；

安裝外殼還具有擰緊螺釘，擰緊螺釘用于使得立柱與尺寸檢測裝置相對固定。