[發明專利]一種測試控制電路及控制方法、顯示基板、顯示裝置

有效

• 申請號: 201810313019.X
• 申請日: 2018-04-09
• 公開（公告）號: CN108492758B
• 公開（公告）日: 2021-03-26
• 發明（設計）人: 姜瑞澤;任艷偉;方業周;徐敬義;孫世成
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 周娟

本發明公開一種測試控制電路及控制方法、顯示基板、顯示裝置，涉及顯示技術領域，以防止靜電通過測試引線損壞顯示面板內部的電子器件，從而保證顯示裝置顯示正常。所述測試控制電路包括至少一個測試端子和至少一個測試引線，每個測試端子與對應的測試引線連接；每個測試引線上設有至少一個開關器件；測試引線處在檢測狀態，各個測試引線上的所有開關器件導通；測試引線處在非檢測狀態，各個測試引線上至少一個所述開關器件關斷。所述顯示基板包括上述技術方案所提的測試控制電路。本發明提供的測試控制電路及控制方法、顯示基板、顯示裝置用于顯示技術中。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種測試控制電路及方法、顯示基板、顯示裝置。

背景技術

近年來，隨著顯示技術發展很快，顯示面板的顯示和制作水平有了很大的提升，其不僅具有良好的顯示效果，而且還能夠給用戶提供比較好的使用體驗。

而為了保證顯示面板所顯示的畫面穩定性，一般在顯示面板所包括的顯示基板制作與測試端子連接的測試引線，以利用測試引線將測試端子所提供的測試信號傳輸至顯示面板，用來檢測顯示面板的顯示效果。但是，在顯示面板制作過程中很容易產生靜電，這些靜電通過測試端子進入顯示面板，導致顯示面板內部電子器件損壞，使得顯示面板出現顯示異常等問題。

發明內容

本發明的目的在于提供一種測試控制電路及控制方法、顯示基板、顯示裝置，以防止靜電通過測試引線損壞顯示面板內部的電子器件，從而保證顯示裝置顯示正常。

為了實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種測試控制電路，包括至少一個測試端子和至少一個測試引線，至少一個測試端子與至少一個測試引線一一對應，每個所述測試端子與對應的測試引線連接；每個所述測試引線上設有至少一個開關器件；

所述測試引線處在檢測狀態，各個所述測試引線上的所有開關器件導通；所述測試引線處在非檢測狀態，各個所述測試引線上至少一個所述開關器件關斷。

與現有技術相比，本發明提供的測試控制電路中，測試端子與對應測試引線連接，這使得測試端子通過測試引線間接與顯示信號端子連接；而由于測試引線上設有至少一個開關器件，這使得測試引線處在非檢測狀態時，可控制測試引線上至少一個開關器件關斷，這樣在非檢測狀態，如果有外部靜電通過測試端子進入測試引線，測試引線無法將外部靜電傳導至顯示信號端子，這樣就能夠避免外部靜電對顯示面板內部電子器件的損壞，從而保證顯示裝置顯示正常。

本發明還提供了一種測試控制方法，應用上述技術方案所述的測試控制電路，所述測試控制方法包括：

在信號測試前，控制至少一個測試引線上的至少一個開關器件關斷，使得測試引線處在非檢測狀態；

在信號檢測時，控制至少一個測試引線上所有的開關器件導通，使得至少一個測試引線處在檢測狀態；

利用至少一個測試端子向對應所述測試引線提供測試信號，至少一個測試引線將測試信號傳輸至顯示面板，使得顯示面板根據測試信號顯示檢測畫面。

與現有技術相比，本發明提供的測試控制方法的有益效果與上述技術方案提供的測試控制電路的有益效果相同，在此不做贅述。

本發明還提供了一種顯示基板，該顯示基板包括上述技術方案提供的測試控制電路。

與現有技術相比，本發明提供的顯示基板的有益效果與上述技術方案提供的測試控制電路的有益效果相同，在此不做贅述。

本發明還提供了一種顯示裝置，該顯示裝置包括上述技術方案所述的顯示面板。

與現有技術相比，本發明提供的顯示裝置的有益效果與上述技術方案提供的測試控制電路的有益效果相同，在此不做贅述。

附圖說明