[發明專利]一種高集成度列線源自動測試裝置及測試方法

有效

• 申請號: 201810311184.1
• 申請日: 2018-04-09
• 公開（公告）號: CN108375759B
• 公開（公告）日: 2023-08-01
• 發明（設計）人: 王勇;李一寧;吳文婷;苗會;錢沖
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第三十八研究所
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40
• 代理公司: 合肥金安專利事務所(普通合伙企業) 34114
• 代理人: 彭超

本發明提供高集成度列線源自動測試裝置及測試方法，裝置主要包括內部集成了風扇、計算機、托架、矢量網絡分析儀、程控電源、測試電纜的機柜，以及機柜外部設置的列線源測試架。本發明一是解決了傳統手動測試過程中人工切換信號、人工記錄數據的低效率問題。二是，通過設計專用的測試架解決了原先在非定量的距離上測試的不確定性。通過計算，采用該測試裝置后單件列線源的手動測試時間由原先的20分鐘，縮短到只需3分鐘，效率提高7倍以上。適用于各型雷達中同類型列線源的測試，給無法構建整個系統的單獨插件提供了一個測試、調試平臺。

技術領域

本發明涉及集成度較高的小型化天線單元自動測試技術領域，尤其涉及一種高集成度列線源自動測試裝置及測試方法。

背景技術

雷達系統硬件設備多，模塊種類也多，為了改善鏈路性能并提高系統集成度，所有模塊級電路都采用集成化設計。其中以天線單元為例，為了改善系統靈敏度并提高集成度，通常采用將多個天線單元與合成網絡、限幅器，甚至低噪聲放大器集成設計，形成1個列線源模塊。為了能夠覆蓋一定角度范圍的空域，需要一定數量的列線源組成一個較大的天線陣。因此，一套此類產品可能有幾百個到上千個列線源模塊。

在目前工業領域，電子設備變得模塊化、微型化的同時，對測試的需求也越來越高。而列線源模塊的調試或測試在傳統方式中每次測試都在一個非定量距離上采用人工固定、人工測試、人工記錄方式一個一個的完成，整個測試環境比較簡陋；測試手段比較落后；測試效率比較低下，平均每個列線源的測試需要約20分鐘。更主要的是由于不在一個定量的環境和距離上，批次之間的數據存在較大的偏差，工作穩定性得不到保證。

發明內容

為了解決現有技術中存在的上述技術缺陷，一種高集成度列線源自動測試裝置及測試方法。

本發明是通過以下技術方案實現的：

一種高集成度列線源自動測試裝置，用于對列線源組件的信號收發性能進行測試；所述被測列線源組件包括：一對結構相同、實現信號收發的第一列線源和第二列線源；所述測試裝置包括測試機柜組件和測試支架組件，其中；

所述測試機柜組件包括機柜，以及集成安裝在所述機柜內的：

用于控制測試裝置整機工作的計算機；

用于獲取并分析所述列線源組件收發信號的矢量網絡分析儀；所述矢量網絡分析儀分別與所述計算機、所述第一列線源以及所述第二列線源連接；

用于為被測列線源組件和測試支架組件供電的程控電源；所述程控電源與所述矢量網絡分析儀連接；

所述測試支架組件包括第一支架、第二支架以及接收源固定箱，其中：

所述第一列線源固定安裝在所述第一支架上；

所述接收源固定箱固定安裝在所述第二支架上；所述第二列線源與所述接收源固定箱安裝連接；

所述接收源固定箱的內部電路包括若干信號接收插座組、多選一開關以及數字輸入輸出模塊；其中，所述信號接收插座組與所述第二列線源的輸出接口組相匹配；所述信號接收插座組的數量與所述多選一開關的輸入端接口數量相同，所述多選一開關的輸出端接口與所述矢量網絡分析儀通信連接，所述多選一開關的控制端與所述數字輸入輸出模塊的接線端連接；所述數字輸入輸出模塊的控制端與所述計算機通信連接；

所述計算機控制所述矢量網絡分析儀驅動所述第一列線源發出射頻信號，所述第二列線源接收所述射頻信號并將所述射頻信號發送至多選一開關，所述計算機控制多選一開關選擇輸出所需的射頻信號至所述矢量網絡分析儀進行數據采集和分析，所述矢量網絡分析儀再將分析結果發送至所述計算機。

利用本發明提供的測試裝置實現列線源自動測試的方法，包括如下步驟：

步驟S1，利用所述計算機控制所述矢量網絡分析儀驅動所述程控電源進行供電；