[發明專利]基于量子弱測量的弱磁場強度測量分析儀及方法

有效

• 申請號: 201810310539.5
• 申請日: 2018-04-09
• 公開（公告）號: CN108519565B
• 公開（公告）日: 2021-01-22
• 發明（設計）人: 張志友;周航;李威
• 申請（專利權）人: 四川大學
• 主分類號: G01R33/032
• 分類號: G01R33/032
• 代理公司: 北京眾合誠成知識產權代理有限公司 11246
• 代理人: 夏艷

1.一種基于量子弱測量的弱磁場強度測量分析儀，其特征在于，包括：激光器，激光器輸出的準直光束依次經過的光強調節器、偏振態制備器、光學諧振腔前鏡、磁光晶體、光學諧振腔后鏡、共焦前凸透鏡、玻璃棱鏡、偏振態選擇器及共焦后凸透鏡輸出的光束輸入光接收裝置；

激光器出射的準直光束經光強調節器、偏振態制備器、光學諧振腔及其中的磁光晶體、共焦前凸透鏡后，入射到玻璃棱鏡表面的光束偏振態為前選擇量子態，在玻璃棱鏡表面產生反射光束，反射光束經偏振態選擇器出射的偏振態為后選擇量子態，再經共焦后凸透鏡變為準直光束，進入光接收裝置記錄光束的光強；入射光路中的前選擇量子態與反射光路中的后選擇量子態之間構成量子弱測量光路部分；調整偏振態制備器、偏振態選擇器，從而使后選擇量子態與前選擇量子態接近垂直，夾角為90°±△’，△’為不大于5°的任意角度。

2.根據權利要求1所述的基于量子弱測量的弱磁場強度測量分析儀，其特征在于，光學諧振腔前鏡和光學諧振腔后鏡構成光學諧振腔，實現對磁光旋轉角的放大效應。

3.根據權利要求1所述的基于量子弱測量的弱磁場強度測量分析儀，其特征在于，所述偏振態制備器為偏振器或者偏振器與四分之一波片、相位補償器組合中的一種；

所述偏振態選擇器為偏振器或者偏振器與四分之一波片、相位補償器組合中的一種；

所述偏振器為格蘭激光偏振棱鏡或偏振分光鏡或者偏振片。

4.根據權利要求1所述的基于量子弱測量的弱磁場強度測量分析儀，其特征在于，所述光接收裝置為實現弱光探測的電荷耦合元件、光譜儀、光電倍增管、位置敏感探測器、四象限探測器中的一種。

5.根據權利要求1所述的基于量子弱測量的弱磁場強度測量分析儀，其特征在于，所述光學諧振腔前鏡及光學諧振腔后鏡為一組高反射率透鏡，控制腔長為(n/2+1/4)λ，使腔輸出強度達到峰值，其中n為正整數。

6.根據權利要求1所述的基于量子弱測量的弱磁場強度測量分析儀，其特征在于，所述磁光晶體為任意一種具有磁光法拉第效應的透明介質。