[發明專利]耳部污物自動鏟除方法

有效

• 申請號: 201810307375.0
• 申請日: 2018-04-08
• 公開（公告）號: CN110338972B
• 公開（公告）日: 2021-09-07
• 發明（設計）人: 高小輝;黃向陽;王方杰;周群
• 申請（專利權）人: 高小輝
• 主分類號: A61F11/00
• 分類號: A61F11/00
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 朱廣

1.一種耳部污物自動鏟除方法，所述方法包括使用耳部污物自動鏟除平臺以識別耳部污物實際面積，并基于所述耳部污物實際面積實現對鏟除力度的自動控制，所述耳部污物自動鏟除平臺包括：

探入桿體，為長勺形結構，一端為手柄，另一端為圓勺體，手柄用于人工操控，圓勺體用于對耳部內的污物進行鏟除；

耳部拍攝設備，內嵌在探入桿體的圓勺體上，用于對耳部場景進行現場圖像捕獲操作，以獲得耳部場景圖像，并輸出所述耳部場景圖像；

發光設備，內嵌在探入桿體的圓勺體上，用于對耳部場景進行現場照明，為所述耳部拍攝設備的現場圖像捕獲提供輔助照明光；

發光控制開關，設置在探入桿體的手柄上，與所述發光設備連接，用于根據用戶的操作，實現對所述發光設備的發光開關控制；

光線調節設備，內嵌在探入桿體的圓勺體上，與所述發光設備連接，用于對耳部場景進行光線感應，基于感應到的光線強度獲取對應的輔助光線亮度，并基于所述輔助光線亮度控制所述發光設備提供的輔助照明光的力度；

多次平滑設備，與所述耳部拍攝設備連接，用于接收所述耳部場景圖像，對所述耳部場景圖像進行多次平滑處理直到平滑后的圖像的對比度小于等于預設對比度閾值，將多次平滑處理后的圖像作為待分析圖像輸出；

像素點獲取設備，與所述多次平滑設備連接，用于接收所述待分析圖像，并采用以所述待分析圖像中心像素點為起點的阿基米德曲線從所述待分析圖像中選取多個像素點以作為多個待分析像素點輸出；其中，采用以所述待分析圖像中心像素點為起點的阿基米德曲線從所述待分析圖像中選取多個像素點以作為多個待分析像素點輸出包括：將所述阿基米德曲線經過所述待分析圖像的多個像素點作為多個待分析像素點輸出；

像素點分析設備，與所述像素點獲取設備連接，用于對每一個待分析像素點進行瑕疵點檢測，當所述多個待分析像素點中存在瑕疵點時，認定所述耳部場景圖像為瑕疵圖像，否則，認定所述耳部場景圖像為非瑕疵圖像；

污物分析設備，與所述像素點分析設備連接，用于接收為非瑕疵圖像的耳部場景圖像，將所述為非瑕疵圖像的耳部場景圖像中灰度值小于等于預設污物灰度閾值的像素點作為污物像素點，將所述為非瑕疵圖像的耳部場景圖像中的所有污物像素點組成污物子圖像，對所述污物子圖像執行圖像擬合處理以獲得擬合子圖像，基于所述擬合子圖像占據所述為非瑕疵圖像的耳部場景圖像的面積比例確定所述擬合子圖像對應的污物實際面積，并輸出所述污物實際面積；

接觸傳感設備，內嵌在探入桿體的圓勺體上，用于在接觸到所述耳部場景內部的污物時，發出污物觸及信號，還用于在未接觸到所述耳部場景內部的污物時，發出污物未觸及信號；

力度控制設備，分別與所述接觸傳感設備和所述污物分析設備連接，用于在接收到所述污物觸及信號時，基于所述污物實際面積確定對應的鏟除機構的鏟除力度；

鏟除機構，設置在探入桿體的圓勺體上，與所述力度控制設備連接，用于接收所述鏟除力度，并基于所述鏟除力度實現對所述耳部場景內部的污物的鏟除操作；

所述力度控制設備位于長勺形結構的探入桿體內，處于一端為手柄和另一端為圓勺體的兩端之間；

所述發光設備為所述耳部拍攝設備的現場圖像捕獲提供的輔助照明光的亮度小于等于所述發光設備的最大發光亮度；

對每一個待分析像素點進行瑕疵點檢測包括：基于每一個待分析像素點紅綠分量、黑白分量和黃藍分量對所述待分析像素點進行瑕疵點檢測；

基于每一個待分析像素點紅綠分量、黑白分量和黃藍分量對所述待分析像素點進行瑕疵點檢測包括：當所述紅綠分量偏離第一預設數值分布范圍時，確定所述待分析像素點為瑕疵點。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于：

基于每一個待分析像素點紅綠分量、黑白分量和黃藍分量對所述待分析像素點進行瑕疵點檢測包括：當所述紅綠分量偏離第一預設數值分布范圍且所述黑白分量偏離第二預設數值分布范圍時，確定所述待分析像素點為瑕疵點。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于：

基于每一個待分析像素點紅綠分量、黑白分量和黃藍分量對所述待分析像素點進行瑕疵點檢測包括：當所述紅綠分量偏離第一預設數值分布范圍、所述黑白分量偏離第二預設數值分布范圍以及所述黃藍分量偏離第三預設數值分布范圍時，確定所述待分析像素點為瑕疵點。