[發(fā)明專利]反射式多波長(zhǎng)線掃描共聚焦成像系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810307240.4 | 申請(qǐng)日: | 2018-04-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108344695A | 公開(公告)日: | 2018-07-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 史國(guó)華;孔文 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院蘇州生物醫(yī)學(xué)工程技術(shù)研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N21/01 | 分類號(hào): | G01N21/01;G01N21/27 |
| 代理公司: | 北京遠(yuǎn)大卓悅知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11369 | 代理人: | 韓飛 |
| 地址: | 215163 江蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 反射式 波長(zhǎng)線 共聚焦成像 成像模塊 光源模塊 寬帶光源 圖像模塊 照明模塊 成像 掃描 多光譜成像技術(shù) 色差 圖像 聚焦成像系統(tǒng) 反射式結(jié)構(gòu) 圖像采集卡 柱面反射鏡 成像透鏡 共焦成像 聚焦平面 擴(kuò)束系統(tǒng) 掃描器件 色散模塊 一維掃描 有效減少 白光源 多波長(zhǎng) 反射鏡 分光鏡 線光束 雜散光 準(zhǔn)直鏡 探測(cè)器 光闌 狹縫 像差 和面 計(jì)算機(jī) | ||
1.一種反射式多波長(zhǎng)線掃描共聚焦成像系統(tǒng),其特征在于,包括:光源模塊、照明模塊、成像模塊和圖像模塊;
所述光源模塊包括寬帶光源或白光源、準(zhǔn)直鏡和光闌,其用于產(chǎn)生平行的照明光束;
所述的照明模塊包括柱面反射鏡、分光鏡、掃描器件、反射式縮/擴(kuò)束系統(tǒng)和反射鏡,其用于傳輸所述光源模塊發(fā)出的照明光束到達(dá)樣品,并把樣品的成像光束傳輸至成像模塊;
所述成像模塊包括成像透鏡、色散模塊和面探測(cè)器,其用于接收樣品的成像光束,并將光信號(hào)轉(zhuǎn)化為電信號(hào);
所述圖像模塊包括圖像采集卡和計(jì)算機(jī),其用于接受所述成像模塊傳輸?shù)碾娦盘?hào),并將其轉(zhuǎn)化為圖像信息,顯示在所述計(jì)算機(jī)的顯示設(shè)備上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的反射式多波長(zhǎng)線掃描共聚焦成像系統(tǒng),其特征在于,所述寬帶光源為白色發(fā)光二極管、白色超發(fā)光二極管、鹵素?zé)簟⒊椛浼す馄髦械囊环N,其用于發(fā)出多個(gè)波長(zhǎng)的照明光束;
所述準(zhǔn)直鏡為消色差透鏡,其用于將所述寬帶光源發(fā)出的發(fā)散光變換為平行光束;
所述光闌為可變環(huán)形光闌,其用于控制進(jìn)入所述照明模塊的光束大小。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的反射式多波長(zhǎng)線掃描共聚焦成像系統(tǒng),其特征在于,所述柱面反射鏡為高反射率柱面反射鏡,其用于將所述光源模塊發(fā)出的光束聚焦成為一維線光束。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的反射式多波長(zhǎng)線掃描共聚焦成像系統(tǒng),其特征在于,所述分光鏡為寬帶分光片或?qū)拵Х止饫忡R,其用于反射部分一維線光束至所述掃描器件,并用于透射成像光束到所述成像模塊。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的反射式多波長(zhǎng)線掃描共聚焦成像系統(tǒng),其特征在于,所述掃描器件為一維掃描振鏡,其用于以不同的角度反射所述分光鏡傳輸來的一維線光束,以對(duì)樣品進(jìn)行掃描照明,并用于將成像光束反射至所述分光鏡。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的反射式多波長(zhǎng)線掃描共聚焦成像系統(tǒng),其特征在于,所述反射式縮/擴(kuò)束系統(tǒng)為沿光路設(shè)置的兩個(gè)高反射率球面鏡,其用于反射所述掃描器件傳輸來的一維線光束并控制一維線光束的直徑,其還用于反射成像光束至所述掃描器件。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的反射式多波長(zhǎng)線掃描共聚焦成像系統(tǒng),其特征在于,所述反射鏡為高反射率平面反射鏡,其用于反射所述反射式縮/擴(kuò)束系統(tǒng)傳輸來的一維線掃描光至樣品,以照射樣品,還用于反射樣品返回的成像光束。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的反射式多波長(zhǎng)線掃描共聚焦成像系統(tǒng),其特征在于,所述光源模塊發(fā)出的平行照明光束經(jīng)過所述柱面反射鏡聚焦后,變換為一維線光束,一維線光束再經(jīng)過所述掃描振鏡反射變?yōu)橐痪S線掃描光,一維線掃描光經(jīng)反射式縮/擴(kuò)束系統(tǒng)調(diào)節(jié)光束直徑后,再經(jīng)所述反射鏡反射到達(dá)樣品。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的反射式多波長(zhǎng)線掃描共聚焦成像系統(tǒng),其特征在于,所述成像透鏡為消色差透鏡,其用于收集和傳輸成像光束;
所述色散模塊為色散棱鏡或透射光柵,其用于將不同波長(zhǎng)的成像光束色散,在所述面探測(cè)器上呈現(xiàn)適宜的角度。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的反射式多波長(zhǎng)線掃描共聚焦成像系統(tǒng),其特征在于,所述面探測(cè)器為面陣電荷耦合器件或面陣互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體陣列或面陣光電二極管陣列,其用于將成像光束所攜帶的光信號(hào)轉(zhuǎn)化為電信號(hào)。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





