[發(fā)明專利]一種化學(xué)力顯微鏡技術(shù)探針及其制備方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810305816.3
• 申請日: 2018-04-08
• 公開（公告）號: CN108398579A
• 公開（公告）日: 2018-08-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊惠;劉芳慧;陳婷;王淑娟;張明輝;胡廣新;張威;樊明紅;王金本
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學(xué)院化學(xué)研究所
• 主分類號: G01Q60/38
• 分類號: G01Q60/38
• 代理公司: 北京紀(jì)凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11245
• 代理人: 關(guān)暢;王春霞

1.一種化學(xué)力顯微鏡技術(shù)探針，其特征在于：該探針包括鍍金的原子力顯微鏡探針和單分子吸附層組成；

所述鍍金的原子力顯微鏡探針為原子力顯微鏡探針表面包覆鍍金基底層；

所述單分子吸附層為修飾分子與所述鍍金基底層通過金-硫化學(xué)鍵形成。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針，其特征在于：所述修飾分子為結(jié)構(gòu)式中一端含有巰基，另一端含有特征官能團(tuán)的特征分子。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的探針，其特征在于：所述修飾分子的結(jié)構(gòu)簡式為下式Ⅰ所示，

HS-(CH₂)_n-R式Ⅰ；

式Ⅰ中，R為氨基、羧基、烷基和苯基中的至少一種；

n為1～18的自然數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的探針，其特征在于：所述鍍金基底層的厚度為50～70nm。

5.一種化學(xué)力顯微鏡技術(shù)探針的制備方法，包括如下步驟：將鍍金的原子力顯微鏡探針在所述修飾分子的溶液中浸泡，然后取出干燥，即得到化學(xué)力顯微鏡技術(shù)探針。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的制備方法，其特征在于：所述修飾分子的溶液的溶劑乙醇、甲苯和丙酮中的至少一種。

7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的制備方法，其特征在于：所述待修飾分子的溶液的濃度為2～5mM。

8.根據(jù)權(quán)利要求5-7中任一項(xiàng)所述的制備方法，其特征在于：所述浸泡的時(shí)間為18～36h。