[發明專利]運用可調節磁場增強射頻輝光放電質譜信號強度的裝置及方法在審
| 申請號: | 201810301640.4 | 申請日: | 2018-04-04 |
| 公開(公告)號: | CN108648981A | 公開(公告)日: | 2018-10-12 |
| 發明(設計)人: | 錢榮;卓尚軍;李中權;高捷 | 申請(專利權)人: | 中國科學院上海硅酸鹽研究所 |
| 主分類號: | H01J49/04 | 分類號: | H01J49/04;H01J49/06;H01J49/20 |
| 代理公司: | 上海瀚橋專利代理事務所(普通合伙) 31261 | 代理人: | 曹芳玲;張力允 |
| 地址: | 200050 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 磁場增強 可調節 輝光放電質譜 射頻 電磁鐵 進樣裝置 進樣桿 通電螺線管 鐵芯 | ||
1.一種運用可調節磁場增強射頻輝光放電質譜信號強度的裝置,其特征在于,
包括:
具有進樣桿且固定有樣品的進樣裝置;和
具有外殼與由通電螺線管和鐵芯組成的電磁鐵的可調節磁場增強部,
所述電磁鐵放置于外殼中,
所述可調節磁場增強部固定于所述進樣裝置中的所述進樣桿與所述樣品之間。
2.根據權利要求1所述的運用可調節磁場增強射頻輝光放電質譜信號強度的裝置,其特征在于,
所述外殼材質為金屬或合金。
3.根據權利要求1所述的運用可調節磁場增強射頻輝光放電質譜信號強度的裝置,其特征在于,
所述外殼為圓柱體、正方體或長方體,
所述外殼的外徑小于或等于所述進樣裝置的內徑,高度小于所述進樣裝置高度。
4.根據權利要求1所述的運用可調節磁場增強射頻輝光放電質譜信號強度的裝置,其特征在于,
所述電磁鐵的長度小于所述外殼的內徑,所述電磁鐵的直徑小于所述外殼的高度,線圈匝數n≥5。
5.根據權利要求1至4中任意一項所述的運用可調節磁場增強射頻輝光放電質譜信號強度的裝置,其特征在于,
使用絕緣材料將所述電磁鐵固定于所述外殼中,
將所述通電螺線管的引線從所述外殼側面的兩個小孔穿出并接入電源。
6.根據權利要求5所述的運用可調節磁場增強射頻輝光放電質譜信號強度的裝置,其特征在于,
所述電源為直流電源或交流電源。
7.根據權利要求1所述的運用可調節磁場增強射頻輝光放電質譜信號強度的裝置,其特征在于,
所述樣品包括導體、半導體、非導體材料的樣品。
8.一種運用可調節磁場增強射頻輝光放電質譜信號強度的方法,采用包括具有進樣桿且固定有樣品的進樣裝置、和具有外殼與由通電螺線管和鐵芯組成的電磁鐵的可調節磁場增強部的裝置,其特征在于,包括以下步驟;
將所述可調節磁場增強部置于樣品與進樣桿之間,
將所述通電螺線管的引線從所述樣品池外部預留的小孔穿出并接入電源;
連接射頻源,調整合適的放電氣壓和射頻源功率進行放電;
對樣品待測元素進行掃描并記錄信號強度。
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