[發明專利]一種圖像質量評價方法及系統有效
| 申請號: | 201810297714.1 | 申請日: | 2018-03-30 |
| 公開(公告)號: | CN108447058B | 公開(公告)日: | 2020-07-14 |
| 發明(設計)人: | 王霞;周晶晶;錢帥;李婷;湯海濤;金偉其;李貞 | 申請(專利權)人: | 北京理工大學 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00 |
| 代理公司: | 北京路浩知識產權代理有限公司 11002 | 代理人: | 王瑩;吳歡燕 |
| 地址: | 100081 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 圖像 質量 評價 方法 系統 | ||
本發明實施例提供一種圖像質量評價方法及系統,該方法包括:根據感興趣區域的灰度直方圖和周圍區域的灰度直方圖的巴氏距離,獲取待測圖像的灰度對比度,根據濾波后的感興趣區域的平均紋理特征和濾波后的感興趣區域的極性紋理特征,獲取第一紋理特征,根據濾波后的周圍區域的平均紋理特征和濾波后的周圍區域的極性紋理特征,獲取第二紋理特征,根據第一紋理特征和第二紋理特征的巴氏距離,獲取待測圖像的紋理對比度;根據灰度對比度和紋理對比度,獲取待測圖像中檢測到目標的概率。本發明實施例從圖像的灰度特征和紋理特征出發,綜合地考察細小目標特征的探測情況,同時采用灰度和紋理兩方面的特征,增強了該圖像評價方法的魯棒性和適用性。
技術領域
本發明實施例涉及圖像處理技術領域,尤其涉及一種圖像質量評價方法及系統。
背景技術
隨著光學遙感和機載成像技術的不斷發展,能獲取到的光學遙感圖像或者機載圖像也變得越來越精細。然而在獲取圖像的過程中,由于成像設備自身的參數、平臺的抖動以及成像的天氣狀況等因素的影響,不可避免地會使圖像的質量有所下降。通過對不同情況下的圖像進行評價,可以對影響成像質量的因素進行分析,對給定參數的系統的成像性能進行一個評估。
通常圖像評價有主觀評價和客觀評價。主觀評價需要人眼參與,耗時耗力,而且穩定性不夠。客觀評價根據一定的算法,計算相應的參數,能得到一個量化的數值,因此也是圖像質量評價方法研究的重點。客觀評價方法又分為參考方法和無參考方法。前者需要參照的圖像,后者無需參照圖像。針對光學遙感圖像和機載圖像,往往不能獲得參照圖像,只能使用無參考方法,利用退化圖像來計算圖像質量評價指標。
常見無參考方法的算法有灰度平均梯度法、最大熵評價法和拉普拉斯算子和法等,算法較為簡單,只是從灰度變化、圖像熵等單一方面評價。盡管也有綜合多個評價指標的評價方法,但適用性也十分有限。實際上對于光學遙感圖像或者機載圖像,圖像整體質量的評價往往針對性不強。
因此,提供一種適用性強的圖像質量評價方法是目前業界亟待解決的問題。
發明內容
本發明實施例提供一種圖像質量評價方法及系統,用以解決現有技術中圖像評價方法適用性不強,實現對光學遙感圖像或機載圖像有針對性的評價。
本發明實施例提供一種圖像質量評價方法,包括:
S1,獲取待測圖像的感興趣區域和周圍區域;
S2,根據所述感興趣區域的灰度直方圖和所述周圍區域的灰度直方圖的巴氏距離,獲取所述待測圖像的灰度對比度,根據濾波后的感興趣區域的平均紋理特征和濾波后的感興趣區域的極性紋理特征,獲取第一紋理特征,根據濾波后的周圍區域的平均紋理特征和濾波后的周圍區域的極性紋理特征,獲取第二紋理特征,根據所述第一紋理特征和所述第二紋理特征的巴氏距離,獲取所述待測圖像的紋理對比度;
S3,根據所述灰度對比度和所述紋理對比度,獲取所述待測圖像中檢測到目標的概率。
本發明實施例提供一種圖像質量評價系統,包括:
區域模塊,用于獲取待測圖像的感興趣區域和周圍區域;
對比度模塊,用于根據所述感興趣區域的灰度直方圖和所述周圍區域的灰度直方圖的巴氏距離,獲取所述待測圖像的灰度對比度,根據濾波后的感興趣區域的平均紋理特征和濾波后的感興趣區域的極性紋理特征,獲取第一紋理特征,根據濾波后的周圍區域的平均紋理特征和濾波后的周圍區域的極性紋理特征,獲取第二紋理特征,根據所述第一紋理特征和所述第二紋理特征的巴氏距離,獲取所述待測圖像的紋理對比度;
檢測模塊,用于根據所述灰度對比度和所述紋理對比度,獲取所述待測圖像中檢測到目標的概率。
本發明實施例還提供一種圖像質量評價設備,包括:
至少一個處理器、至少一個存儲器、通信接口和總線;其中,
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