[發(fā)明專利]顯示設(shè)備排圖參數(shù)的檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810292473.1
• 申請日: 2018-03-30
• 公開（公告）號: CN108540794B
• 公開（公告）日: 2021-02-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 楊云召;謝春華;劉嵐;于煬
• 申請（專利權(quán)）人: 張家港康得新光電材料有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00;H04N13/305;H04N13/324
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• 代理人: 暫無信息

本發(fā)明實施例公開了一種顯示設(shè)備排圖參數(shù)的檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)。所述方法包括：基于預(yù)設(shè)圖像生成算法和多個預(yù)設(shè)排圖參數(shù)，生成以陣列形式排布的周期性變化的樣式圖像，并將樣式圖像推送到顯示設(shè)備進行顯示；驅(qū)動圖像采集設(shè)備采集樣式圖像通過光柵膜后所顯示的檢測圖像，并獲取采集到的檢測圖像；從檢測圖像的各陣列區(qū)域中識別滿足預(yù)設(shè)條件的摩爾條紋所在的目標(biāo)陣列區(qū)域，并將該目標(biāo)陣列區(qū)域所對應(yīng)的預(yù)設(shè)排圖參數(shù)作為顯示設(shè)備的目標(biāo)排圖參數(shù)。通過采用上述技術(shù)方案，提高了排圖參數(shù)的檢測精度，有利于自動化的實現(xiàn)及產(chǎn)量快速化生產(chǎn)的要求。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明實施例涉及裸眼3D技術(shù)，尤其涉及一種顯示設(shè)備排圖參數(shù)的檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)

隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，3D顯示技術(shù)已成為顯示領(lǐng)域的一個研究重點，其中，裸眼3D顯示效果的實現(xiàn)為用戶觀看圖像和視頻提供了極大的便利。在進行裸眼3D顯示時，其顯示屏顯示效果的好壞主要取決于排圖參數(shù)(如排圖周期和光柵斜率)的準確性，因此，為了提升裸眼3D顯示效果，上述排圖參數(shù)的檢測及校正成為裸眼3D顯示設(shè)備校正過程中最重要的環(huán)節(jié)。

目前，裸眼3D顯示設(shè)備的廠商主要采用參數(shù)檢測系統(tǒng)，根據(jù)不同的顯示設(shè)備，手動對其參數(shù)進行檢測。然而，由于手動檢測過程較為繁瑣，不僅檢測結(jié)果易于出現(xiàn)偏差，不利于后續(xù)排圖參數(shù)的校正，而且大大增加了校正人員的工作量，不利于自動化的實現(xiàn)及產(chǎn)量快速化生產(chǎn)的要求。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實施例提供一種顯示設(shè)備排圖參數(shù)的檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)，在提高排圖參數(shù)的檢測精度的同時，也提升了檢測速度。

第一方面，本發(fā)明實施例提供了一種顯示設(shè)備排圖參數(shù)的檢測方法，應(yīng)用于布設(shè)有光柵膜的顯示設(shè)備，該檢測方法包括：

基于預(yù)設(shè)圖像生成算法和多個預(yù)設(shè)排圖參數(shù)，生成以陣列形式排布的周期性變化的樣式圖像，并將所述樣式圖像推送到所述顯示設(shè)備進行顯示；

驅(qū)動圖像采集設(shè)備采集所述樣式圖像通過所述光柵膜后所顯示的檢測圖像，并獲取采集到的檢測圖像；

從所述檢測圖像的各陣列區(qū)域中識別滿足預(yù)設(shè)條件的摩爾條紋所在的目標(biāo)陣列區(qū)域，并將所述目標(biāo)陣列區(qū)域所對應(yīng)的預(yù)設(shè)排圖參數(shù)作為所述顯示設(shè)備的目標(biāo)排圖參數(shù)。

第二方面，本發(fā)明實施例還提供了一種顯示設(shè)備排圖參數(shù)的檢測裝置，應(yīng)用于布設(shè)有光柵膜的顯示設(shè)備，該檢測裝置包括：

樣式圖像生成模塊，用于基于預(yù)設(shè)圖像生成算法和多個預(yù)設(shè)排圖參數(shù)，生成以陣列形式排布的周期性變化的樣式圖像，并將所述樣式圖像推送到所述顯示設(shè)備進行顯示；

檢測圖像采集模塊，用于驅(qū)動圖像采集設(shè)備采集所述樣式圖像通過所述光柵膜后所顯示的檢測圖像，并獲取采集到的檢測圖像；

排圖參數(shù)確定模塊，用于從所述檢測圖像的各陣列區(qū)域中識別滿足預(yù)設(shè)條件的摩爾條紋所在的目標(biāo)陣列區(qū)域，并將所述目標(biāo)陣列區(qū)域所對應(yīng)的預(yù)設(shè)排圖參數(shù)作為所述顯示設(shè)備的目標(biāo)排圖參數(shù)。

第三方面，本發(fā)明實施例還提供了一種計算機設(shè)備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，其中，所述處理器執(zhí)行所述程序時實現(xiàn)如本發(fā)明任意實施例所提供的顯示設(shè)備排圖參數(shù)的檢測方法。

第四方面，本發(fā)明實施例還提供了一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機程序，其中，該程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如本發(fā)明任意實施例所提供的顯示設(shè)備排圖參數(shù)的檢測方法。