[發明專利]一種檢測電子標簽的方法及檢測裝置有效
| 申請號: | 201810292030.2 | 申請日: | 2018-03-30 |
| 公開(公告)號: | CN110321742B | 公開(公告)日: | 2021-04-09 |
| 發明(設計)人: | 徐涵;諶金豆 | 申請(專利權)人: | 華為技術有限公司 |
| 主分類號: | G06K7/00 | 分類號: | G06K7/00 |
| 代理公司: | 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291 | 代理人: | 馮艷蓮 |
| 地址: | 518129 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 檢測 電子標簽 方法 裝置 | ||
1.一種檢測裝置,其特征在于,包括:
獲取單元,用于獲取參數值,所述參數值包括至少一個電子標簽的第一相位值、閱讀器與所述至少一個電子標簽之間的距離,所述第一相位值為所述閱讀器接收到來自所述至少一個電子標簽的信號時測量到的相位值;
存儲單元,用于存儲屬性信息,所述屬性信息包括不同電子標簽的第一屬性信息,所述第一屬性信息包括第一相位偏差值,不同電子標簽的第一相位偏差值不同;
處理單元,用于從所述存儲單元中查詢所述至少一個電子標簽的第一屬性信息;基于所述獲取單元獲取的參數值、以及查詢到的所述至少一個電子標簽的第一屬性信息,得到至少一個校驗值;利用所述至少一個校驗值,驗證所述至少一個電子標簽的真偽;
當所述至少一個電子標簽為一個電子標簽時,所述屬性信息還包括不同閱讀器的第二屬性信息,所述第二屬性信息包括第二相位偏差值和閱讀器向所述一個電子標簽發送的信號的波長,不同閱讀器的第二相位偏差值不同;
所述處理單元,具體用于:
從所述存儲單元中查詢所述一個電子標簽的第一屬性信息、和所述閱讀器的第二屬性信息;
基于所述獲取單元獲取的參數值、以及查詢到的所述一個電子標簽的第一屬性信息和所述閱讀器的第二屬性信息,計算所述一個電子標簽的校驗值;
比較計算的校驗值與所述一個電子標簽的第一相位值之間的差值,驗證所述一個電子標簽的真偽。
2.如權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述處理單元,在計算所述一個電子標簽的校驗值時,具體用于:
根據以下公式計算所述一個電子標簽的校驗值θ:
其中,λ為所述波長,d為所述閱讀器與所述一個電子標簽之間的距離,θtag為所述一個電子標簽的第一相位偏差值,θreader為所述第二相位偏差值。
3.如權利要求1所述的裝置,其特征在于,當所述至少一個電子標簽為至少兩個電子標簽時,所述屬性信息還包括不同閱讀器的第二屬性信息,所述第二屬性信息包括閱讀器向所述至少兩個電子標簽發送的信號的波長;
所述處理單元,具體用于:
從所述存儲單元中查詢所述至少兩個電子標簽的第一屬性信息、和所述閱讀器的第二屬性信息;
基于所述獲取單元獲取的參數值、以及查詢到的所述至少兩個電子標簽的第一屬性信息和所述第二屬性信息,計算所述至少兩個電子標簽的校驗值;
比較所述至少兩個電子標簽的校驗值中任意兩個電子標簽的校驗值之間的差值,驗證所述至少兩個電子標簽的真偽。
4.如權利要求3所述的裝置,其特征在于,所述處理單元,在計算所述至少兩個電子標簽的校驗值時,具體用于:
根據以下公式計算所述至少兩個電子標簽中第i個電子標簽的校驗值θi:
其中,λ為所述波長,di為所述閱讀器與所述第i個電子標簽之間的距離,θtag,i為所述第i個電子標簽的第一相位偏差值,θmeasure,i為所述第i個電子標簽的第一相位值,i為正整數。
5.如權利要求1所述的裝置,其特征在于,當所述至少一個電子標簽為至少三個電子標簽時,所述處理單元,具體用于:
從所述存儲單元中查詢所述至少三個電子標簽的第一屬性信息;
計算所述至少三個電子標簽的第二相位值,所述至少三個電子標簽中第j個電子標簽的第二相位值為所述第j個電子標簽的第一相位值與所述第j個電子標簽的第一相位偏差值之間的差值,j為正整數;
計算所述至少三個電子標簽的第二相位值中每兩個電子標簽的第二相位值之間的差值;
根據計算的差值,計算所述閱讀器與所述至少三個電子標簽之間的距離;
比較所述獲取單元獲取的所述距離與計算的距離之間的差值,驗證所述至少三個電子標簽的真偽。
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