[發明專利]被檢體檢查裝置在審
| 申請號: | 201810290250.1 | 申請日: | 2018-03-30 |
| 公開(公告)號: | CN108760680A | 公開(公告)日: | 2018-11-06 |
| 發明(設計)人: | 山田啟壽;伊藤敬義;金山省一;池田成;原頭基司 | 申請(專利權)人: | 佳能醫療系統株式會社 |
| 主分類號: | G01N21/39 | 分類號: | G01N21/39;G01K7/36 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 房永峰 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 諧振器 檢查容器 檢查裝置 被檢體 檢查液 電介質 物質檢測 輻射 收納 諧振 檢測對象 諧振方向 電磁波 小型的 填充 加熱 檢測 配置 | ||
本發明提供小型的被檢體檢查裝置,能夠使針對微量的檢查液的加熱的迅速性和溫度控制的準確性提高。實施方式涉及的被檢體檢查裝置具有諧振器、物質檢測部、輻射部以及電介質。諧振器在內部收納填充有檢查液的檢查容器。物質檢測部對檢查容器內部的檢查液所包含的檢測對象物質進行檢測。輻射部設在諧振器內部,將在諧振器內的特定的諧振方向進行諧振的電磁波向諧振器內輻射。電介質設在諧振器內部,并被配置于當檢查容器設置到諧振器內時成為檢查容器附近的位置。
本申請以日本專利申請2017-068553(申請日:3/30/2017)以及日本專利申請2018-048873(申請日:3/16/2018)為基礎,基于這些申請主張優先權。本申請通過參照上述申請而包括這些申請的全部內容。
技術領域
本發明的實施方式涉及被檢體檢查裝置。
背景技術
在各種疾病、傳染病等的檢查中,在醫療現場利用對從生物體采取的被檢體與檢查試劑混合而成的檢查液中所包含的檢測對象物質進行檢測/定量的被檢體檢查裝置。為了基于檢查的結果做出準確的判斷并盡早實施適當的處置,要求高靈敏度并且在短時間內檢測、定量檢測對象物質。即,對被檢體檢查裝置的性能而言,靈敏度以及定量性的提高和檢查時間的縮短是重要的。
檢測對象物質能夠通過與該檢測對象物質所對應的檢查試劑進行反應來進行檢測,然后通過與該檢測對象物質對應的檢測法(各種光學式檢測法、電磁式檢測法)來檢測、定量。通過促進該檢測對象物質與檢查試劑的反應,能夠提高靈敏度以及定量性,并且縮短檢查時間。作為用于促進檢測對象物質與檢查試劑的反應的方法例,可舉出進行檢查液(被檢體與檢查試劑的混合液)的溫度控制的方法。
另外,例如在對從人體采取的微量的被檢體(粘膜、唾液、血液等)進行檢查的情況下,檢查液的體積大多為數mL或1mL以下。為了促進這樣的微量的檢查液中的檢測對象物質與檢查試劑的反應,要求被檢體檢查裝置具備迅速加熱微量的檢查液并精密地進行控制的溫度調節機構。
作為以往的溫度調節機構,公知有電阻電熱加熱器、珀爾帖元件等加熱器件。在使用這些加熱器件的情況下,在填充有檢查液的檢查容器的外側設置加熱器件。該情況的加熱成為從外側經過檢查容器對檢查液進行加熱的外部加熱。由此,該加熱方式的加熱效率低,另外,難以實現迅速的加熱、超調量(overshoot)的降低等溫度控制。另外,還公知有一種同時采用加熱器件與恒溫槽的方法,但該方法也為外部加熱,同樣難以將檢查液迅速加熱并精密地進行控制。另外,由于產生檢查容器與檢查液的溫度差,所以難以實現短時間內的均勻加熱。并且,由于在檢查液的外部設置加熱器件所以裝置必然大型化。
另外,公知有高頻加熱裝置、微波化學反應促進裝置。這些裝置是利用特定的波長范圍的電磁波、例如微波被液體吸收而發熱的現象的裝置。例如高頻加熱裝置將由磁控管(magnetron)等高輸出的高頻源產生的微波向加熱室釋放,通過使加熱室內的被加熱物直接吸收微波來對被加熱物進行內部加熱。由于高頻加熱裝置使被加熱物直接吸收電能,所以能量的傳遞效率比外部加熱高。另外,由于通過微波的開/關切換控制能夠恰當地切換溫度的上升/下降,所以溫度控制性的精度比外部加熱高。
然而,在檢查液(被加熱物)微量的情況下,微波的吸收效率降低。作為通過微波迅速加熱微量的檢查液的方法,換言之作為使微量的檢查液以高效率吸收微波的方法,有一種通過將加熱室的內部尺寸設為微波能夠諧振的尺寸,來將加熱室作為諧振器的方法。此時,通過在諧振的微波的電場強度高的位置配置檢查液,能夠提高微波的吸收效率。該情況下,需要加熱室(諧振器)的內部尺寸為微波的波長的1/2以上。若假設微波的頻率為2.4GHz,則波長為12cm,諧振器的內部尺寸需要為6cm以上。這樣,導致需要大的空間作為用于對微量的檢查液進行加熱所需的空間,存在裝置大型化之虞。
另外,需要在被檢體檢查裝置設置用于對檢測對象物質進行檢測的光學設備、控制運算電路等。由于也需要將這些設備以及電路配置到不受微波的影響的位置,所以裝置進一步大型化。
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