[發明專利]污點區域檢測方法和裝置、分析儀器和存儲介質有效
| 申請號: | 201810288436.3 | 申請日: | 2018-04-03 |
| 公開(公告)號: | CN108765424B | 公開(公告)日: | 2021-06-08 |
| 發明(設計)人: | 張雅俊;徐寬;李奇武;張春茂 | 申請(專利權)人: | 邁克醫療電子有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/11 | 分類號: | G06T7/11;G06T7/136;G06T7/187;G06T7/00 |
| 代理公司: | 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258 | 代理人: | 臧靜 |
| 地址: | 611731 四川*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 污點 區域 檢測 方法 裝置 分析儀器 存儲 介質 | ||
1.一種污點區域檢測方法,其特征在于,包括:
對拍攝于同一樣本的N張原圖像進行二值分割,得到各張原圖像的第一分割圖像,N為大于或等于2的整數;
根據所有N張原圖像的第一分割圖像中、相同位置的像素點的累加值,識別得到所述N張原圖像中的固定污點區域,所述N張原圖像具有相同數量的像素點;
所述識別得到所述N張原圖像中的固定污點區域之后,所述方法還包括:
計算各張原圖像的第一分割圖像和第二分割圖像中、相同位置的像素點的差值,其中,所述第二分割圖像是將每一第一分割圖像中累加值大于第一預設閾值的像素點的值標記為1,并將所述累加值小于或等于所述第一預設閾值的像素點的值標記為0后得到的;
對所述第一分割圖像的所有連通區域中、所述差值為1的像素點對應的連通區域進行坐標運算,得到第一定位區域;
將所述第一定位區域映射到對應的原圖像中,得到各張原圖像的除去固定污點區域后的目標有形成分區域。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據所有N張原圖像的第一分割圖像中、相同位置的像素點的累加值,識別得到所述N張原圖像中的固定污點區域,包括:
將所述累加值大于第一預設閾值的像素點的值標記為1,并將所述累加值小于或等于所述第一預設閾值的像素點的值標記為0,得到第二分割圖像;
若所述第二分割圖像中所有像素點的標記值之和大于0,則確定所述N張原圖像中存在固定污點區域,并將標記值為1的像素點對應的區域,識別為所述N張原圖像中的固定污點區域。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述第一預設閾值為小于N且大于N/2之間的任一整數。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,在所述計算各張原圖像的第一分割圖像和第二分割圖像中、相同位置的像素點的差值之后,所述方法還包括:
建立表示各張原圖像的第一分割圖像和第二分割圖像中、相同位置的像素點的差值的第三分割圖像;
計算各張原圖像的第一分割圖像和第三分割圖像中、相同位置的像素點的和值;
對所述第一分割圖像的所有連通區域中、所述和值為2的像素點對應的連通區域進行坐標運算,得到第二定位區域;
將所述第二定位區域映射到對應的原圖像中,得到各張原圖像的濾除污點干擾后的目標有形成分區域。
5.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,所述建立表示各張原圖像的第一分割圖像和第二分割圖像中、相同位置的像素點的差值的第三分割圖像,包括:
建立表示各張原圖像的第一分割圖像和第二分割圖像中、相同位置的像素點的差值的中間圖像;
根據第二預設閾值對所述中間圖像中的所有連通區域進行分割,得到各張原圖像的第三分割圖像。
6.根據權利要求5所述的方法,其特征在于,在所述根據第二預設閾值對所述中間圖像中的所有連通區域進行分割,得到各張原圖像的第三分割圖像之前,所述方法還包括:
根據各張原圖像的第一分割圖像的所有連通區域中、面積最小的連通區域的面積和第一預設調節因子,得到與各張原圖像對應的第二預設閾值。
7.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述對拍攝于同一樣本的N張原圖像進行二值分割,得到各張原圖像的第一分割圖像,包括:
對拍攝于同一樣本的N張原圖像進行邊緣檢測,并根據第三預設閾值對邊緣檢測得到的圖像進行二值分割,得到各張原圖像的第一分割圖像。
8.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,所述對拍攝于同一樣本的N張原圖像進行邊緣檢測,并根據第三預設閾值對邊緣檢測得到的圖像進行二值分割,得到各張原圖像的第一分割圖像,包括:
對拍攝于同一樣本的N張原圖像進行邊緣檢測,得到各張原圖像的梯度圖像;
根據所述梯度圖像中所有像素點的梯度均值和第二預設調節因子,得到與各張原圖像對應的第三預設閾值;
根據所述第三預設閾值對對應的梯度圖像進行二值分割,得到各張原圖像的第一分割圖像。
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