[發明專利]一種轉子繞線圖像合格性檢測方法

在審

• 申請號: 201810287072.7
• 申請日: 2018-04-03
• 公開（公告）號: CN108765365A
• 公開（公告）日: 2018-11-06
• 發明（設計）人: 張小國;燕松;朱亞旋;何榮開
• 申請（專利權）人: 東南大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/41;G06T7/62
• 代理公司: 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204
• 代理人: 柏尚春

1.一種轉子繞線圖像合格性檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

(1)采集轉子繞線待檢測部位圖像，對采集的圖像進行預處理；

(2)對圖像進行二值化處理，計算連通區域面積；

(3)基于紋理特征對二值化圖像進行定量描述；

(4)基于紋理特征，通過計算歐氏距離或巴氏距離在模板圖像中選取合適的匹配模板，最后對其進行基于矩特征的相似度匹配。

2.根據權利要求1所述的轉子繞線圖像合格性檢測方法，其特征在于：所述步驟(1)包括如下內容：

(1.1)利用工業相機采集轉子繞線圖像，快速定位截取待檢測區域。

(1.2)針對采集的待檢測區域圖像，進行灰度化、中值濾波處理。

3.根據權利要求1所述的轉子繞線圖像合格性檢測方法，其特征在于：所述步驟(2)包括如下內容：

(2.1)針對預處理后的待檢測圖像，利用迭代法計算圖像閾值；

(2.2)利用計算得到的閾值對圖像進行二值化處理；

(2.3)對二值化圖像進行微調整，得到完整清晰的繞線二值化圖像；

(2.4)計算完整連通區域面積，進行面積機制判斷，其中面積機制閾值通過采集1000-5000張樣本統計得到。

4.根據權利要求1所述的轉子繞線圖像合格性檢測方法，其特征在于：所述步驟(3)包括如下內容：

生成關聯的灰度共生矩陣，將灰度等級劃分為16個等級，通過統計記錄水平方向上的熵和能量、對比度、反差指標信息，得到關于繞線部分的紋理信息，選取熵和對比度指標，設定合理的閾值，其中閾值大小需在采集1000-5000張樣本統計得到。

5.根據權利要求1所述的轉子繞線圖像合格性檢測方法，其特征在于：所述步驟(4)包括如下內容

(4.1)選取8-12張各種形態轉子繞線圖像作為匹配模板庫；

(4.2)基于紋理特征，通過計算待測圖像與模板圖像的歐氏距離或巴氏距離，在模板圖像中選取合適的匹配模板；

(4.3)與選擇好的匹配模板進行基于矩特征的相似度匹配，統計與模板匹配的相似度信息，取其均值；

(4.4)進行相似度機制檢測判斷，其中相似度機制閾值通過采集1000-5000張樣本統計得到。