[發明專利]用于檢測氣體顆粒的裝置

有效

• 申請號: 201810286250.4
• 申請日: 2018-03-30
• 公開（公告）號: CN108519312B
• 公開（公告）日: 2020-06-02
• 發明（設計）人: 黃昭和
• 申請（專利權）人: 重慶山楂樹科技有限公司
• 主分類號: G01N15/06
• 分類號: G01N15/06
• 代理公司: 重慶強大凱創專利代理事務所(普通合伙) 50217
• 代理人: 李靜

1.一種用于檢測氣體顆粒的裝置，其特征在于，包括機架和固定在機架上的電機；

所述電機的輸出軸上依次套設有限位塊和檢測機構，所述限位塊通過支撐軸固定在電機上且限位塊與輸出軸轉動連接，限位塊遠離支撐軸的一側設有若干限位孔，其中一個限位孔內設有按鈕開關；

所述檢測機構包括支撐塊和若干中空的扇葉，所述支撐塊上設有凹槽，凹槽內設有與按鈕開關電連接的電磁鐵，電磁鐵上設有與支撐塊相抵的拉簧，支撐塊滑動連接有若干與限位孔配合的凸塊，支撐塊內固定有與凸塊固定連接的氣囊，所述支撐塊上外周設有若干與氣囊連通的氣孔；

所述扇葉內均設有與氣孔連通的氣道，所述氣道的兩側分別滑動連接有第一玻璃板和第二玻璃板，扇葉上靠近第一玻璃板的一側設有光敏電阻且靠近第二玻璃板的一側設有紅外燈，光敏電阻電連接有顯示燈，所述第一玻璃板和第二玻璃板靠近氣道的一側均涂有膠水，所述支撐塊外周還設有若干可封閉氣孔的滑塊，滑塊上均設有與支撐塊相抵的彈簧，所述氣囊上還設有若干與支撐塊滑動連接且與滑塊配合的楔塊。

2.根據權利要求1所述的用于檢測氣體顆粒的裝置，其特征在于，所述滑塊遠離氣孔的一端設有斜面，所述滑塊通過斜面與楔塊配合。

3.根據權利要求2所述的用于檢測氣體顆粒的裝置，其特征在于，所述氣孔與氣囊的連通處設有用于吸附顆粒的格網。

4.根據權利要求3所述的用于檢測氣體顆粒的裝置，其特征在于，所述第一玻璃和第二玻璃均為超白玻璃。

5.根據權利要求4所述的用于檢測氣體顆粒的裝置，其特征在于，所述電機上設有螺紋孔，所述支撐軸遠離限位塊的一端設有螺紋，支撐軸通過螺紋與電機固定連接。

6.根據權利要求5所述的用于檢測氣體顆粒的裝置，其特征在于，所述顯示燈粘接在扇葉的外側。