[發明專利]一種用于緊縮場暗室測試的相位補償反射面板

有效

• 申請號: 201810284117.5
• 申請日: 2018-04-02
• 公開（公告）號: CN108732427B
• 公開（公告）日: 2020-08-04
• 發明（設計）人: 姜涌泉;白楊;王玉偉;孔德旺
• 申請（專利權）人: 北京環境特性研究所
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08
• 代理公司: 北京格允知識產權代理有限公司 11609
• 代理人: 周嬌嬌;張沫

本發明提供了一種用于緊縮場暗室測試的相位補償反射面板，包括：反射面板基底層、反射面板金屬層、均勻介質層和多個無源單元結構；所述反射面板金屬層鋪覆在所述反射面板基底層的表面；所述均勻介質層鋪覆在所述反射面板金屬層的表面；所述多個無源單元結構鋪覆在所述均勻介質層表面。本方案能夠補償到達測試區域的電磁波的相位。

技術領域

本發明涉及電磁測量技術領域，尤其涉及一種用于緊縮場暗室測試的相位補償反射面板。

背景技術

用于緊縮場暗室測試的反射面板是一種將饋源發射的電磁波在近距離轉化為近似均勻平面波的裝置。作為緊縮場的核心組成部分，反射面板在特定頻段下的電磁性能直接決定了緊縮場測試結果的準確性。

目前，理想的測試狀態是由位于焦點位置的饋源發射出的各向射線，經過傳統的反射面板不同位置反射后，其到達測試區域電磁波的等相位面為平面。但是，上述等相位面為平面的結論是在“饋源各向射線到達反射面相位值滿足平面波要求，且反射面板的形狀為理想旋轉拋物面”的前提下得到的。在實際應用中，由于饋源等相位面上各點并非嚴格滿足所要求的平面波照射規律，且傳統的反射面板在實際加工及安裝調試中存在一定的誤差，達不到嚴格理想旋轉拋物面的要求，從而導致到達測試區域的電磁波相位與理想平面波相比存在較大偏差，嚴重影響最終測試結果的精度。

因此，針對以上不足，需要提供一種用于緊縮場暗室測試的相位補償反射面板，能夠補償到達測試區域的電磁波相位的偏差。

發明內容

本發明要解決的技術問題在于，饋源發射出的射線經過傳統的反射面板反射后，到達測試區域的電磁波的相位與理想平面波相比存在較大偏差，針對現有技術中的缺陷，提供一種用于緊縮場暗室測試的相位補償反射面板。

第一方面，本發明實施例提供了一種用于緊縮場暗室測試的相位補償反射面板，包括：反射面板基底層、反射面板金屬層、均勻介質層和多個無源單元結構；

所述反射面板金屬層鋪覆在所述反射面板基底層的表面；

所述均勻介質層鋪覆在所述反射面板金屬層的表面；

所述多個無源單元結構鋪覆在所述均勻介質層表面。

優選地，

設定在所述相位補償反射面板中心位置的所述無源單元結構為參考單元，在預先確定的頻率F下，所述相位補償反射面板上的第n個所述無源單元結構的理論相位值與所述參考單元的實際反射相位值滿足以下公式：

其中，表征在預先確定的頻率F下第n個所述無源單元結構的理論相位值，F表征預先確定的頻率，c表征預先確定的自由空間的波速，R_n表征饋源相位中心到第n個所述無源單元結構的射線距離，R₀表征饋源相位中心到所述參考單元的射線距離，x_n表征所述相位補償反射面板上的第n個所述無源單元結構到所述參考單元的距離，θ_b表征反射波束的反射角度，表征在預先確定的頻率F下參考單元的實際反射相位值。

優選地，所述無源單元結構的材質為金屬材質。

優選地，所述均勻介質層的材質為聚四氟乙烯。

優選地，所述無源單元結構的厚度為[0.3mm，0.7mm]。

優選地，每一個所述無源單元結構，包括：第一部件和第二部件，其中，所述第一部件的形狀為矩形，所述第二部件的形狀為L型，第一部件與第二部件的一端平滑相連。

優選地，每一個所述無源單元結構，包括：第三部件和第四部件，其中，所述第三部件和所述第四部件的形狀均為條形，所述第三部件和所述第四部件十字交叉平滑相連。