[發明專利]光學通訊裝置

有效

• 申請號: 201810282949.3
• 申請日: 2013-06-28
• 公開（公告）號: CN108614331B
• 公開（公告）日: 2020-02-04
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 廣東中科奧輝科技有限公司
• 主分類號: G02B6/42
• 分類號: G02B6/42;G01B11/00
• 代理公司: 44286 中山市銘洋專利商標事務所(普通合伙)
• 代理人: 鄒常友

一種光學通訊裝置，包括光學耦合透鏡、信號發射/接收元件以及光纖，所述光學耦合透鏡將光信號在信號發射/接收元件以及光纖之間耦合；所述光學耦合透鏡包括一個主體，該主體包括一個第一表面、一個與該第一表面垂直的第二表面以及一個分別與該第一表面及第二表面呈45度夾角的轉折面。該第一表面上形成有至少一個第一透鏡，該第一透鏡的光軸垂直于該第一表面。該第二表面上形成有至少一個對應于該第一透鏡的第二透鏡，該第二透鏡的光軸垂直于該第二表面。該光學耦合透鏡包括兩個基準部，每一個該基準部包括一個基準件。每一個該基準件包括一個基準點，該基準點的連線平行于該第一表面以及該第二表面，且該基準點的連線位于該轉折面所在的平面上。

本申請是申請號為2013102637560，申請日為2013年06月28日，發明創造名稱為“光學耦合透鏡及其檢測方法”的專利的分案申請。

技術領域

本發明涉及一種光學耦合透鏡以及該光學耦合透鏡的檢測方法。

背景技術

在光學通訊裝置中，一般采用光學耦合透鏡將光信號在信號發射/接收元件以及光纖之間耦合。所述耦合透鏡將包括一個用于光信號進出的第一表面、一個用于光信號進出的第二表面，以及用于在所述第一表面以及所述第二表面之間偏轉光信號的轉折面。所述第一表面上形成至少一個第一透鏡，所述第二表面形成至少一個對應于所述第一透鏡的第二透鏡。為確保光訊號的傳輸效率，所述第一透鏡以及所述第二透鏡的中心需處于同一預定光路上。現有的光學耦合透鏡難以直觀的量測所述第一透鏡以及所述第二透鏡的相對位置，因此一般需將制作完成后的光學耦合透鏡設置與具有光信號發射裝置以及光信號接收裝置的檢測設備中透過分析光訊號的傳輸效率判斷所述第一透鏡以及所述第二透鏡的相對位置是否符合要求，然而，上述方法不僅繁瑣而且成本高昂。

發明內容

有鑒于此，有必要提供一種能夠方便進行對位檢測的光學耦合透鏡以及該光學耦合透鏡的檢測方法。

一種光學耦合透鏡，包括一個主體。所述主體包括一個第一表面、一個與所述第一表面垂直的第二表面以及一個分別與所述第一表面及第二表面呈45度夾角的轉折面。所述第一表面上形成有至少一個第一透鏡，所述第一透鏡的光軸垂直于所述第一表面。所述第二表面上形成有至少一個對應于所述第一透鏡的第二透鏡，所述第二透鏡的光軸垂直于所述第二表面。所述光學耦合透鏡包括兩個基準部，每一個所述基準部包括一個基準件。每一個所述基準件包括一個基準點，所述基準點的連線平行于所述第一表面以及所述第二表面，且所述基準點的連線位于所述轉折面所在的平面上，所述基準點的連線用于作為判斷所述第一透鏡與所述第二透鏡間相對位置關系的基準。

一種所述的光學耦合透鏡檢測方法，包括如下步驟：

以垂直于所述第一表面的視角觀察所述第一透鏡，以所述兩個基準點的連線為基準判斷所述第一透鏡是否位于預定位置；

以垂直于所述第二表面的視角觀察所述第二透鏡，以所述兩個基準點連線為基準判斷所述第二透鏡是否位于預定位置。

相對于現有技術，所述光學耦合透鏡及其檢測方法，通過所述基準部的基準點可以直觀判斷所述第一透鏡與所述第二透鏡的相對位置關系是否符合要求，避免繁瑣、復雜的檢測方法以及成本高昂的檢測設備，不僅檢測、修正方便，更能減低所述光學耦合透鏡的成本。

附圖說明

圖1是本發明第一實施方式的光學耦合透鏡的立體圖。

圖2是圖1的光學耦合透鏡的另一角度視圖。

圖3是圖1的光學耦合透鏡的右視圖。

圖4是圖1的光學耦合透鏡的俯視圖。

主要元件符號說明