[發明專利]基于計量異常關聯度模型的故障原因疑似度分析方法

在審

• 申請號: 201810278867.1
• 申請日: 2018-03-30
• 公開（公告）號: CN110555049A
• 公開（公告）日: 2019-12-10
• 發明（設計）人: 張浩;洪建光;沈海泓;李波;胡怡寧;孫曉超;李軍;周奕;陳慧敏
• 申請（專利權）人: 浙江華云信息科技有限公司
• 主分類號: G06F16/2458
• 分類號: G06F16/2458;G06F17/18;G06Q50/06
• 代理公司: 33206 浙江翔隆專利事務所(普通合伙)
• 代理人: 王曉燕

1.基于計量異常關聯度模型的故障原因疑似度分析方法，其特征在于包括以下步驟：

1)數據預處理

獲得數據庫數據，數據庫中的數據包含每一用戶發生的各種異常事件、每一個異常的發生時間和恢復時間、造成異常發生原因；

檢索出異常事件發生日期一欄空白的地方，并將該空白處所在整行數據刪除；

統計出異常事件下每個原因發生的次數，分別除以該原因的總次數得到某一原因發生的情況下某異常發生的概率，即條件概率；

2)計算兩個異常事件的關聯度

a)根據兩個計量異常事件發生的先后順序，計算獲得異常事件A_i先于異常事件A_j發生的，異常事件A_i與異常事件A_j之間的關聯系數；計算獲得異常事件A_j先于異常事件A_i發生的，異常事件A_i與異常A_j之間的關聯系數；

關聯系數的計算公式為：

r＝1-d/15，

式中d為同一用戶兩個異常事件A_i、A_j發生日期間隔天數，其中d的取值范圍為[0,15]；

b)在關聯度計算時，將得到的多個異常事件A_i先發生的關聯系數取平均值，得到該并發異常事件A_i先發生的關聯度，同時將得到的多個異常事件A_j先發生的關聯度取平均值，得到該并發異常事件A_j先發生的關聯度；

3)計算某一異常由某一原因導致的后驗概率

對于A_i異常由B_j原因導致的后驗概率用概率論與數理統計的計算方法，用公式計算出后驗概率；其中P(B_j)為各類原因發生的可能性，根據式求得，式中a為所有異常原因發生的總次數，b_j為第j類異常原因發生的次數；P(A_i|B_j)為在原因B_j發生的條件下，A_i異常發生的概率，即條件概率，根據公式求得，式中c_j為異常A_i發生的條件下，第j類異常原因發生的次數；P(A_i)為單異常事件的全概率，由全概率公式求得；

4)綜合計算某一并發異常事件由某一原因引起的故障疑似度

計量異常事件組合的故障疑似度影響因子包括兩兩異常事件的關聯度、A_i異常由B_j原因導致的后驗概率，根據關聯度及后驗概率得到并發異常事件由原因B_j引起的故障疑似度；疑似度越大，就表示異常事件由該原因引起可能性越大。

2.根據權利要求1所述的基于計量異常關聯度模型的故障原因疑似度分析方法，其特征在于：

在步驟4)中，當異常事件A₁和A₂并發時，故障疑似度的公式為：E＝D*R＝[e₁e₂]，其中D＝[P(B_j|A₁)P(B_j|A₂)]，其中P(B_j|A₁)和P(B_j|A₂)為步驟3)計算獲得的后驗概率；

其中，e₁＝P(B_j|A₁)+P(B_j|A₂)r₁₂表示異常A₁先發生，異常A₂后發生由原因B_j引起的疑似度；e₂＝P(B_j|A₂)+P(B_j|A₁)r₂₁表示異常A₂先發生，異常A₁后發生由原因B_j引起的疑似度。