[發明專利]一種二元函數的數據建模方法及相關設備在審
| 申請號: | 201810274901.8 | 申請日: | 2018-03-29 |
| 公開(公告)號: | CN108509381A | 公開(公告)日: | 2018-09-07 |
| 發明(設計)人: | 郭為民;唐耀華;段松濤;朱峰;康英偉;梁正玉;郝濤;燕志偉 | 申請(專利權)人: | 潤電能源科學技術有限公司 |
| 主分類號: | G06F17/15 | 分類號: | G06F17/15 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 王寶筠 |
| 地址: | 450000 河*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 第一數據 二元函數 自變量 數據建模 目標數據 分段直線 獲取數據 數據集合 一元函數 插值法 數據量 因變量 擬合 申請 集合 | ||
本申請實施例公開了一種二元函數的數據建模方法及相關設備,用于提高二元函數的數據建模方法的通用性。本申請實施例方法包括:獲取數據集合,所述數據集合包括第一數據、第二數據及第三數據,其中,所述第一數據及所述第二數據為自變量,所述第三數據為因變量,所述第一數據、所述第二數據及所述第三數據中的數據量均不少于兩個,從所述第一數據中選取目標數據,基于所述目標數據并通過分段直線擬合的方法確定以所述第二數據為自變量的一元函數,通過插值法確定以所述第一數據及所述第二數據為自變量的二元函數。
技術領域
本申請涉及數據建模領域,尤其涉及一種二元函數的數據建模方法及相關設備。
背景技術
在工業生產、科學研究等領域,常常需要根據離散的穩態測量數據建立函數模型,以便更好地指導工業生產或認識客觀規律。在許多情況下,待建立的模型是較簡單的一元函數;但也有許多情況,由于存在2個影響因素,因此就需要建立二元函數模型。
當前的二元函數數據建模方法有二元函數插值法,但是當數據量比較大并且數據信噪比比較低時,該方法不僅計算量大而且精度不高,為了較好克服數據中噪聲的影響,還可以采用曲面擬合方法進行二元函數數據建模。
然而在應對非線性函數關系時,不容易確定擬合函數的形式,降低了曲面擬合方法的通用性。
發明內容
本申請實施例提供了一種二元函數的數據建模方法及相關設備,用于提高二元函數的數據建模方法的通用性。
本申請實施例提供的二元函數的數據建模方法,包括:
獲取數據集合,所述數據集合包括第一數據、第二數據及第三數據,其中,所述第一數據及所述第二數據為自變量,所述第三數據為因變量,所述第一數據、所述第二數據及所述第三數據中的數據量均不少于兩個;
從所述第一數據中選取目標數據;
基于所述目標數據并通過分段直線擬合的方法確定以所述第二數據為自變量的一元函數;
通過插值法確定以所述第一數據及所述第二數據為自變量的二元函數。
可選地,從所述第一數據中選取目標數據包括:
根據所述第一數據中的數據點數目、所述第一數據中數據點的分布情況和/或所述第一數據所對應的第二數據的覆蓋范圍選取所述目標數據。
可選地,基于所述目標數據并通過分段直線擬合的方法確定以所述第二數據為自變量的一元函數包括:
確定所述第二數據中與所述目標數據對應的第四數據及所述第三數據中與所述目標數據對應的第五數據;
通過分段直線擬合的方法確定所述第四數據與所述第五數據之間的一元函數。
可選地,通過插值法確定以所述第一數據及所述第二數據為自變量的二元函數之后,所述方法還包括:
將所述第一數據及所述第二數據帶入所述二元函數計算得到第六數據。
可選地,將所述第一數據及所述第二數據帶入所述二元函數計算得到第六數據之后,所述方法還包括:
計算所述第三數據與所述第六數據的誤差。
本申請實施例提供的二元函數的數據建模裝置,包括:
獲取單元,用于獲取數據集合,所述數據集合包括第一數據、第二數據及第三數據,其中,所述第一數據及所述第二數據為自變量,所述第三數據為因變量,所述第一數據、所述第二數據及所述第三數據中的數據量均不少于兩個;
選取單元,用于從所述第一數據中選取目標數據;
第一確定單元,用于基于所述目標數據并通過分段直線擬合的方法確定以所述第二數據為自變量的一元函數;
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