[發明專利]密封測試組件及其系統

在審

• 申請號: 201810274835.4
• 申請日: 2018-03-29
• 公開（公告）號: CN108426681A
• 公開（公告）日: 2018-08-21
• 發明（設計）人: 劉震;武海龍;金林根;何難;李忠
• 申請（專利權）人: 博眾精工科技股份有限公司
• 主分類號: G01M3/26
• 分類號: G01M3/26
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 趙志遠

本發明提供了一種密封測試組件及其系統，涉及產品防水測試技術領域，為解決現有測試方法成本高、效率低且測試效果準確性差的技術問題。涉及一種密封測試組件，包括測試點密封圈，測試點密封圈具有一端開口設置的密封圈本體，每個密封圈本體與待測產品之間形成包含測試點的密閉腔體；每個密封圈本體上設有與密閉腔體相貫通的進水部和出水部，進水部設置在密封圈本體的底端部，使水由底端部進入密閉腔體，出水部設置在密封圈本體的頂端部，使水由頂端部流出。涉及一種密封測試系統，包括：上述的密封測試組件。該密封測試組件及其系統能夠模擬產品防水的真實性。

技術領域

本發明涉及產品防水測試技術領域，尤其是涉及一種密封測試組件及其系統。

背景技術

現代工業設備及產品中，密封性能是影響設備或產品質量的重要因素之一。

例如在消費類電子產品市場中，產品是否防水是對其性能考核的一個關鍵指標，如果密封性不好，產品內部一旦進水，將對整個產品造成難以補救的損壞。因而，對于具有防水性能的電子產品來說，對產品整機以及殼體的密封性測試是電子產品生產中的一項必不可少的環節。

現有對于產品密封性能的測試方法有很多，傳統的濕式方法落后，氦氣檢測法成本較高，因而，提供一種成本較低、效率較高且能模擬產品防水真實性的測試方法很有必要。

發明內容

本發明的第一目的在于提供一種密封測試組件，為解決現有測試方法成本高、效率低且測試效果準確性差的技術問題。

本發明提供的密封測試組件，包括：至少一個測試點密封圈，所述測試點密封圈具有一端開口設置的密封圈本體，每個所述密封圈本體與待測產品之間形成包含測試點的密閉腔體。

每個所述密封圈本體上設有與所述密閉腔體相貫通的進水部和出水部，所述進水部設置在所述密封圈本體的底端部，使水由底端部進入所述密閉腔體，所述出水部設置在所述密封圈本體的頂端部，使水由頂端部流出。

進一步地，所述密閉腔體的開口與待測產品的測試點所形成的外輪廓相適配。

進一步地，所述進水部包括進水孔，所述進水孔處連接有進水管；所述出水部包括出水孔，所述出水孔處連接有出水管。

進一步地，所述進水管的一端與所述密閉腔體連通，另一端連接有進水接頭。

所述出水管的一端與所述密閉腔體連通，另一端連接有出水接頭。

進一步地，還包括用于安裝所述測試點密封圈的第一安裝座。

進一步地，所述第一安裝座包括第一座體，所述第一座體上具有安裝部，所述安裝部具有用于容納所述測試點密封圈的凹槽，所述測試點密封圈卡緊于所述凹槽中。

進一步地，所述第一安裝座連接有第二安裝座，所述第二安裝座包括第二座體。

所述進水管和所述出水管均置于所述第二座體內。

進一步地，所述第一安裝座連接有第二安裝座，所述第二安裝座包括第二座體。

所述進水管包括第一進水管段和第二進水管段，所述第一進水管段和所述第二進水管段的連接接頭處采用密封連接，所述第一進水管段置于所述第一座體內，所述第二進水管段置于所述第二座體內。

所述出水管包括第一出水管段和第二出水管段，所述第一出水管段和所述第二出水管段的連接接頭處采用密封連接，所述第一出水管段置于所述第一座體內，所述第二出水管段置于所述第二座體內。

進一步地，所述安裝部為與所述第一座體一體成型且向外凸出的凸起結構。

本發明提供的密封測試組件的有益效果：