[發明專利]一種測量天線的工作參數的方法及裝置

有效

• 申請號: 201810271405.7
• 申請日: 2018-03-29
• 公開（公告）號: CN108627706B
• 公開（公告）日: 2020-08-04
• 發明（設計）人: 吳洋;高超;白楊;莫崇江;孔德旺;李寧;呂明
• 申請（專利權）人: 北京環境特性研究所
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10
• 代理公司: 北京格允知識產權代理有限公司 11609
• 代理人: 周嬌嬌;張沫

1.一種測量天線的工作參數的方法，其特征在于，包括：

將待測天線放置到測量位置，在所述測量位置將所述待測天線調整至待測極化，并控制金屬定標球由第一指定位置直線運動至第二指定位置；

檢測所述待測天線在所述金屬定標球的運動過程中，金屬定標球位于至少兩個采樣位置時，所述待測天線相對于所述金屬定標球在各個所述采樣位置時的第一回波強度數據；

確定各個所述采樣位置在極坐標系下所分別對應的極角，其中，所述極坐標系以所述測量位置為極點，所述極坐標系的極軸垂直于所述第一指定位置和所述第二指定位置所在直線，且所述極坐標系的極軸與所述第一指定位置和所述第二指定位置所在直線存在交點；

根據各個所述采樣位置所分別對應的第一回波強度數據及極角，對各個所述采樣位置分別進行距離補償以確定各個所述采樣位置所分別對應的第一等效回波強度數據；

根據各個所述采樣位置所分別對應的第一等效回波強度數據及極角，確定所述待測天線的方向圖；

所述根據各個所述采樣位置所分別對應的第一等效回波強度數據及極角，確定所述待測天線的方向圖，包括：

通過如下第二公式計算所述待測天線的非歸一方向圖在各個所述采樣位置所分別對應的第一回波數據；

第二公式：

其中，E_i表征所述待測天線的非歸一方向圖在第i個所述采樣位置所對應的第一回波數據、E_Ti表征第i個所述采樣位置所對應的第一等效回波強度數據；

從各個所述第一回波數據中確定出所述待測天線的待測天線最大回波數據，并根據所述待測天線最大回波數據對各個所述采樣位置所分別對應的第一回波數據進行歸一化處理，以獲取各個所述采樣位置所分別對應的歸一化數據；

根據各個所述采樣位置所分別對應的極角及歸一化數據確定所述待測天線的方向圖；

還包括：將增益已知的標定天線放置到所述測量位置，在所述測量位置將所述標定天線調整至所述待測極化，并控制所述金屬定標球由所述第一指定位置直線運動至所述第二指定位置；

檢測所述標定天線在所述金屬定標球的運動過程中，金屬定標球位于各個所述采樣位置時，所述標定天線相對于所述金屬定標球在各個所述采樣位置的第二回波強度數據；

根據各個所述采樣位置所分別對應的第二回波強度數據及極角，對各個所述采樣位置分別進行距離補償以確定各個所述采樣位置所分別對應的第二等效回波強度數據；

計算所述標定天線的非歸一方向圖在各個所述采樣位置所分別對應的第二回波數據；

根據各個所述采樣位置所分別對應的第二回波數據、所述待測天線最大回波數據以及所述標定天線的增益，計算所述待測天線的增益；

所述根據各個所述采樣位置所分別對應的第二回波數據、所述待測天線最大回波數據以及所述標定天線的增益，計算所述待測天線的增益，包括：

從各個所述第二回波數據中確定出所述標定天線的標定天線最大回波數據；

通過如下第三公式計算所述待測天線的增益；

第三公式：

E_tcdeg＝E_tgebmax-E_cgebmax+E_c

其中，E_tcdeg表征所述待測天線的增益、E_tgebmax表征所述待測天線最大回波數據、E_cgebmax表征所述標定天線最大回波數據、E_c表征所述標定天線的增益。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述根據各個所述采樣位置所分別對應的第一回波強度數據及極角，對各個所述采樣位置分別進行距離補償以確定各個所述采樣位置所分別對應的第一等效回波強度數據，包括：

通過如下第一公式計算各個所述采樣位置所分別對應的第一等效回波強度數據；

第一公式：

其中，E_Ti表征第i個所述采樣位置所對應的第一等效回波強度數據、E_ti表征第i個所述采樣位置所對應的第一回波強度數據、R₀表征所述測量位置與所述第一指定位置和所述第二指定位置所在直線之間的距離、θ_i表征第i個所述采樣位置所對應的極角。