[發明專利]測量梯度延時和一階場不均勻度的裝置、方法及存儲介質有效
| 申請號: | 201810270790.3 | 申請日: | 2018-03-29 |
| 公開(公告)號: | CN110320485B | 公開(公告)日: | 2021-09-17 |
| 發明(設計)人: | 史中強 | 申請(專利權)人: | 西門子(深圳)磁共振有限公司 |
| 主分類號: | G01R33/54 | 分類號: | G01R33/54 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518057 廣東省深圳*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測量 梯度 延時 一階 不均勻 裝置 方法 存儲 介質 | ||
1.測量梯度延時和一階場不均勻度的裝置,其特征在于,該裝置包括:
脈沖設置模塊,用于設置第一梯度脈沖和第一射頻脈沖為:所述第一梯度脈沖為正負脈沖,所述第一射頻脈沖的持續輸出時間為:所述第一梯度脈沖的第一平臺持續時間內;且設置第二梯度脈沖和第二射頻脈沖為:所述第二梯度脈沖為與所述第一梯度脈沖極性相反的脈沖即負正脈沖,所述第二射頻脈沖的持續輸出時間為:所述第二梯度脈沖的第一平臺持續時間內;將設置的第一梯度脈沖和第一射頻脈沖信息,以及第二梯度脈沖和第二射頻脈沖信息發送給MRI系統的脈沖序列發生器;其中,所述第一梯度脈沖和所述第二梯度脈沖的包絡和輸出持續時間相同,所述第一射頻脈沖和所述第二射頻脈沖的包絡和輸出持續時間相同;
測量控制模塊,用于向所述脈沖序列發生器發送第一梯度模式觸發指令,以使得:所述脈沖序列發生器接收到所述第一梯度模式觸發指令后,根據所述第一梯度脈沖和第一射頻脈沖信息,控制所述MRI系統的梯度波形發生器輸出所述第一梯度脈沖,并控制所述MRI系統的射頻發射機在第一時間間隔后輸出所述第一射頻脈沖,控制所述MRI系統的接收機在接收時間窗內接收第一回波;向所述脈沖序列發生器發送第二梯度模式觸發指令,以使得:所述脈沖序列發生器接收到所述第二梯度模式觸發指令后,根據所述第二梯度脈沖和第二射頻脈沖信息,控制所述MRI系統的梯度波形發生器輸出所述第二梯度脈沖,并控制所述MRI系統的射頻發射機在第二時間間隔后輸出所述第二射頻脈沖,控制所述MRI系統的接收機在接收時間窗內接收第二回波,其中,所述第一時間間隔等于所述第二時間間隔;
計算模塊,用于根據所述MRI系統的接收機接收到的第一回波,計算所述第一回波的產生時刻;根據所述接收機接收到的第二回波,計算所述第二回波的產生時刻;根據所述第一回波的產生時刻、所述第二回波的產生時刻,計算所述MRI系統的梯度延時和一階場不均勻度。
2.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述計算模塊計算所述MRI系統的梯度延時和一階場不均勻度包括:
根據如下兩等式:
G×(t1―t0_1―g_delay)=ΔG×(t1+g_delay+t_pre)
G×(t0_2―t2+g_delay)=ΔG×(t2+g_delay+t_pre)
計算MRI系統的梯度延時g_delay和一階場不均勻振幅ΔG;
其中,t1為第一回波的產生時刻,t2為第二回波的產生時刻,G為預先設定的梯度強度,t0_1為估計出的沒有梯度延時和場不均勻性情況下的第一回波的理想產生時刻,t0_2為估計出的沒有梯度延時和場不均勻性情況下的第二回波的理想產生時刻,t_pre為第一射頻脈沖的峰值點的產生時刻到第一梯度脈沖的第二個梯形波上升沿結束時刻之間的時長。
3.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述計算模塊計算所述第一回波的產生時刻包括:
將所述第一回波的峰值點的產生時刻作為所述第一回波的產生時刻,或者,將所述第一回波采用傅立葉變換轉換為頻域信號,并提取所述頻域信號的線性相位,根據所述線性相位計算所述第一回波的產生時刻;
所述計算模塊計算所述第二回波的產生時刻包括:
將所述第二回波的峰值點的產生時刻作為所述第二回波的產生時刻,或者,將所述第二回波采用傅立葉變換轉換為頻域信號,并提取所述頻域信號的線性相位,根據所述線性相位計算所述第二回波的產生時刻。
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