[發(fā)明專利]打高壓測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810268051.0
• 申請日: 2018-03-28
• 公開（公告）號: CN108490223B
• 公開（公告）日: 2021-07-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 莊子開
• 申請（專利權(quán)）人: TCL王牌電器（惠州）有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287
• 代理人: 張志江

本發(fā)明公開一種打高壓測試裝置，用于具有接線端子的電子產(chǎn)品的打高壓測試，包括：探針組件，包括多根高壓探針和與多根所述高壓探針安裝適配的基板，多根所述高壓探針的探頭形成一探測區(qū)域，所述探測區(qū)域內(nèi)探測頭的密度大于所述電子產(chǎn)品上接線端子的密度；機架；驅(qū)動機構(gòu)，與所述機架和基板連接，所述驅(qū)動機構(gòu)用于驅(qū)動所述基板移動，以帶動所述高壓探針與所述接線端子接觸；其中，所述電子產(chǎn)品上接線端子的密度是以與所述探測區(qū)域相同的面積來計算的。本發(fā)明技術(shù)方案能夠降低電子產(chǎn)品進行打高壓測試的成本。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及打高壓測試領(lǐng)域，特別涉及一種打高壓測試裝置。

背景技術(shù)

電子產(chǎn)品一般需要進行打高壓測試，而現(xiàn)有打高壓測試裝置中的高壓探針一般都是與電子產(chǎn)品上的接線端子一一對應設(shè)置的，如此，在進行打高壓測試時，需要將電子產(chǎn)品準確定位，以使高壓探針與接線端子準確接觸。

而將電子產(chǎn)品進行準確定位需要耗費較多的資源，如需使用精確定位裝置或人工進行手動定位，造成測試成本過高和資源的浪費。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的是提供一種打高壓測試裝置，旨在降低電子產(chǎn)品進行打高壓測試的成本。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供的打高壓測試裝置包括：

探針組件，包括多根高壓探針和與多根所述高壓探針安裝適配的基板，多根所述高壓探針的探頭形成一探測區(qū)域，所述探測區(qū)域內(nèi)探測頭的密度大于所述電子產(chǎn)品上接線端子的密度；

機架；

驅(qū)動機構(gòu)，與所述機架和基板連接，所述驅(qū)動機構(gòu)用于驅(qū)動所述基板移動，以帶動所述高壓探針與所述接線端子接觸；

其中，所述電子產(chǎn)品上接線端子的密度是以與所述探測區(qū)域相同的面積來計算的。

優(yōu)選地，多根所述高壓探針之間等間距間隔設(shè)置。

優(yōu)選地，多根所述高壓探針平行設(shè)置，且相鄰的兩個所述高壓探針之間的距離小于等于12mm。

優(yōu)選地，所述驅(qū)動機構(gòu)包括固定板、移動板和與所述固定板和移動板連接的驅(qū)動件，所述固定板與所述機架固定連接，所述移動板與所述基板固定連接，所述驅(qū)動件用于驅(qū)動所述移動板相對所述固定板移動。

優(yōu)選地，所述驅(qū)動件包括基體和能夠相對所述基體移動的伸縮桿，所述基體與所述固定板固定連接，所述伸縮桿遠離所述基體的一端與所述移動板固定連接。

優(yōu)選地，所述打高壓測試裝置還包括滑動組件，所述滑動組件包括：

第一導軌，沿第一方向設(shè)置并與所述機架固定連接；

第一滑塊，與所述第一導軌滑動適配；

第二導軌，沿第二方向設(shè)置并與所述第一滑塊固定連接；

第二滑塊，與所述第二導軌滑動適配；

其中，所述第一方向和第二方向不平行；所述固定板與所述第二滑塊固定連接。

優(yōu)選地，所述第一方向和第二方向垂直。

優(yōu)選地，所述固定板的板面和移動板的板面相對設(shè)置，且所述第二滑塊位于所述固定板和移動板之間，所述第二導軌從所述固定板和移動板之間形成的空隙穿過。

優(yōu)選地，所述打高壓測試裝置還包括第一鎖緊件和第二鎖緊件，所述第一鎖緊件用于鎖緊所述第一導軌和第一滑塊的連接，所述第二鎖緊件用于鎖緊所述第二導軌和第二滑塊的連接。

優(yōu)選地，所述打高壓測試裝置還包括支架和光電阻擋裝置，所述支架具有對應多根所述高壓探針的支撐面，所述支撐面用于支撐所述電子產(chǎn)品；