[發(fā)明專利]一種冷凍電鏡三維重構中重構參數(shù)搜索方法和系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810267090.9 | 申請日: | 2018-03-28 |
| 公開(公告)號: | CN108510436B | 公開(公告)日: | 2020-09-15 |
| 發(fā)明(設計)人: | 李雪明;胡名旭;沈淵;余洪坤;楊廣文;顧凱 | 申請(專利權)人: | 清華大學 |
| 主分類號: | G06T3/00 | 分類號: | G06T3/00 |
| 代理公司: | 北京路浩知識產權代理有限公司 11002 | 代理人: | 王瑩;吳歡燕 |
| 地址: | 100084 北京市海*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 冷凍 三維 重構中重構 參數(shù) 搜索 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種冷凍電鏡三維重構中重構參數(shù)搜索方法,其特征在于,包括:
構建參數(shù)空間,對每一張實驗照片,通過蒙特卡洛模擬方法在所述參數(shù)空間中進行隨機采樣,獲取實驗照片在每個采樣點上與給定模型的初始似然度;
對初始似然度大于設定條件的采樣點進行重采樣,產生新的采樣點,并計算相應的似然度;
重復所述重采樣過程,直至所有采樣點的分布均方差不再減小;
將收斂后的采樣點的統(tǒng)計分布參數(shù)作為對該實驗照片的重構參數(shù)的一種統(tǒng)計描述,并用于重構生物大分子的三維電子密度圖,其中,統(tǒng)計分布參數(shù)為采樣點在參數(shù)空間中的統(tǒng)計分布情況;
構建參數(shù)空間具體包括:
構建平移子空間,將所述平移子空間通過x和y兩個平移參數(shù)描述;構建旋轉子空間,將所述旋轉子空間通過一個單位四元數(shù)q描述;構建離焦量子空間,將所述離焦量子空間通過一個離焦量的變化比例系數(shù)ζ描述;構建結構狀態(tài)子空間,將所述結構狀態(tài)子空間通過一個描述所屬結構狀態(tài)的整數(shù)編號μ來描述;
將所述平移子空間、旋轉子空間、離焦量子空間和結構狀態(tài)子空間組合成參數(shù)空間{x,y,q,ζ, μ};
所述將收斂后的采樣點的統(tǒng)計分布參數(shù)作為對該實驗照片的重構參數(shù)的一種統(tǒng)計描述,還包括:
計算所述采樣點分布的均方差的倒數(shù),并進行歸一化處理,將所述倒數(shù)作為對應實驗照片的權重;從采樣點中隨機選取N個或全部,按相同的權重參加三維重構。
2.根據(jù)權利要求1所述的方法,其特征在于,獲取實驗照片在每個采樣點上與給定模型的似然度具體包括:
將給定三維參照物按采樣點的參數(shù)進行投影,計算投影和實驗照片間的似然度。
3.根據(jù)權利要求1所述的方法,其特征在于,對初始似然度大于設定條件的采樣點進行重采樣具體包括:
將所述初始似然度作為采樣點的權重,根據(jù)權重對采樣點進行高低排序,將排序靠前的N個采樣點作為原采樣點進行重采樣,以每個原采樣點為中心重新獲取多個采樣點,且重采樣后的采樣點總數(shù)與重采樣前的采樣點總數(shù)相同。
4.根據(jù)權利要求1所述的方法,其特征在于,對初始似然度大于設定條件的采樣點進行重采樣后還包括:
每次采樣結束后,對采樣點分布情況進行統(tǒng)計,基于所述采樣點分布均方差進行下一輪重采樣。
5.根據(jù)權利要求1所述的方法,其特征在于,直至所有采樣點的分布均方差不再減小具體 包括:
使所有采樣點的似然度收斂,若重采樣無法使采樣點收斂到更小的區(qū)域,則使所有采樣點收斂至具有最大似然度的采樣點附近。
6.一種冷凍電鏡三維重構中重構參數(shù)搜索系統(tǒng),其特征在于,包括:
構建模塊,用于構建參數(shù)空間,對每一張實驗照片,通過蒙特卡洛模擬方法在所述參數(shù)空間中進行隨機采樣,獲取實驗照片在每個采樣點上與給定模型的初始似然度;
采樣模塊,用于對初始似然度大于設定條件的采樣點進行重采樣,產生新的采樣點,并計算相應的似然度;
循環(huán)模塊,用于重復所述重采樣過程,直至所有采樣點的分布均方差不再減小;
重構模塊,用于將收斂后的采樣點的統(tǒng)計分布參數(shù)作為對該實驗照片的重構參數(shù)的一種統(tǒng)計描述,并用于重構生物大分子的三維電子密度圖,其中,統(tǒng)計分布參數(shù)為采樣點在參數(shù)空間中的統(tǒng)計分布情況;
構建參數(shù)空間具體包括:
構建平移子空間,將所述平移子空間通過x和y兩個平移參數(shù)描述;構建旋轉子空間,將所述旋轉子空間通過一個單位四元數(shù)q描述;構建離焦量子空間,將所述離焦量子空間通過一個離焦量的變化比例系數(shù)ζ描述;構建結構狀態(tài)子空間,將所述結構狀態(tài)子空間通過一個描述所屬結構狀態(tài)的整數(shù)編號μ來描述;
將所述平移子空間、旋轉子空間、離焦量子空間和結構狀態(tài)子空間組合成參數(shù)空間{x,y,q,ζ, μ};
所述將收斂后的采樣點的統(tǒng)計分布參數(shù)作為對該實驗照片的重構參數(shù)的一種統(tǒng)計描述,還包括:
計算所述采樣點分布的均方差的倒數(shù),并進行歸一化處理,將所述倒數(shù)作為對應實驗照片的權重;從采樣點中隨機選取N個或全部,按相同的權重參加三維重構。
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